株式会社産業数理研究所Calc

メンバー紹介

前田俊二

経歴

学歴

年号 年 月 日 学歴
昭和 49年 3月 31日 岡山県立岡山大安寺高等学校卒業(9期生)
昭和 53年 3月 31日 神戸大学 工学部 電子工学科卒業(6期生)
昭和 55年 3月 31日 神戸大学 大学院工学研究科 電気工学専攻修了
平成 16年 2月 29日 東京工業大学 博士(工学)「半導体回路パターンの欠陥認識技術に関する研究」

職歴

　　　
年号 年 月 日 学歴
昭和 55年 4月 1日 (株)日立製作所　生産技術研究所 配属
平成 6年 8月 21日 同社 生産技術研究所 第三部　主任研究員
平成 11年 4月 1日 同社 生産技術研究所 検査システム部 室長
平成 17年 6月 1日 同社 生産技術研究所 参事
平成 17年 10月 1日 同社 生産技術研究所 主管研究員 兼 室長
平成 18年 10月 1日 同社 生産技術研究所 主管研究員
平成 22年 4月 1日 北海道大学大学院 情報科学研究科　客員教授
平成 23年 4月 1日 同社 横浜研究所 主管研究員
平成 25年 3月 31日 同社退社
平成 25年 4月 1日 広島工業大学 工学部 電子情報工学科　教授
平成28年4月1日電気電子工学専攻　専攻長兼任（４年間）
平成28年4月1日電子情報工学科　主任教授兼任（３年間）
平成31年4月1日電子情報工学科　学科長兼任（１年間）
令和 3年 3月 12日 谷口代表と共に産業数理研究所Calc　設立

学協会活動歴

  • 精密工学会論文4賞選考委員（平成29年10月～30年1月）
  • 日本法科学技術学会　第9期評議員(平成29年11月～32年11月)
  • 精密工学会論文4賞審査委員（平成28年10月～29年1月）
  • 科学警察研究所　研究開発機関評価委員会委員（平成27年10月～28年1月）
  • 精密工学会論文4賞選考委員（平成27年10月～28年1月）
  • 電子情報通信学会 中国支部運営委員（平成27年6月～平成29年4月）
  • 動的画像処理実利用化ワークショップ DIA2015　実行委員会副委員長
  • ViEW(Vision Engineering Workshop) 実行委員（平成19年4月～平成25年3月）
  • 精密工学会校閲協力委員（平成21年4月～）
  • FCV(Korea-Japan Joint Workshop on Frontiers of Computer Vision) 2010, 2012 Scientific Committee Member

その他

  • 日立社友
  • 研究報告（日立社内）165件（筆頭42件）

研究

Facility Diagnosis Wind Prediction Forecast of Solor Radiation Heterogeneity Recognition Parts Inspection Object Recognition Lens Polishing

文献

設備診断
  1. センサデータを基にした産業設備の「健康診断」システム(資料)
  2. 森山 健，西村 晃紀，長谷 智紘，前田 俊二，排ガス影響分析のためのセンサ共通周波数に基づく予測誤差分散分解を用いた因果関係分析手法, 精密工学会誌, Vol.84, No.5, pp.454-462(2018.5)
  3. 森山健, 前田俊二, 鈴木忠志, センサデータに基づく設備の異常検知及びその原因特定, 電気学会論文誌C, Vol. 139, No. 12, pp.1517-1526(2019.12)
風況予測・日射量予測
  1. 長谷智紘, 森山健, 西村晃紀, 前田俊二,ニューラルネットワークによる多地点時系列データを用いた風速予測におけるVARによるデータ選択の検討, 精密工学会誌Vol.84,No.10, pp.868-875 (2018.10)
  2. 湯山 藍美，山先 純也，水野 太介，長谷 智紘，森山 健，西村 晃紀，前田 俊二，高橋 雅也，田中 和英，星平祐吾，サポートベクトル回帰による多地点時系列データを用いた風速予測におけるk-NNとVARによる学習データ選択の検討, 精密工学会誌, Vol.83, No.10, pp.941-948(2017.10)
異同識別
  1. 藤井 周，前田俊二，荒木智行，仁戸部勤，金子俊一，渋谷久恵，安野拓也，飯塚正美，中山透，弾丸異同識別のための線条痕の重み付けと位置を保存したHistogram Intersectionによる類似性評価手法の提案 精密工学会誌, Vol.82, No.7, pp.672-678(2016.7)
  2. 西村 晃紀，前田 俊二，荒木 智行，金子 俊一，渋谷 久恵，仁戸部 勤，安野 拓也，飯塚 正美，中山 透，HistogramIntersectionを用いた弾丸固有の線条痕の絞込み手法の提案, 精密工学会誌, Vol.83, No.8,pp.781-788(2017.8)
産業用検査・計測
  1. 工場内生産管理に応用できる高感度比較検査(資料)
  2. 半導体パターン欠陥認識技術の動向(資料)
  3. 西村 晃紀，前田 俊二，荒木 智行，金子 俊一，渋谷 久恵，仁戸部 勤，安野 拓也，飯塚 正美，中山 透，HistogramIntersectionを用いた弾丸固有の線条痕の絞込み手法の提案, 精密工学会誌, Vol.83, No.8,pp.781-788(2017.8)
  4. 西村晃紀, 柳部正樹, 長谷智紘, 森山　健, 前田俊二, 電子部品検査におけるHOG特徴量の局在性に着目した次元削減による欠陥識別性能向上に関する提案, 精密工学会誌（採録決定）
  5. 西村晃紀, 柳部正樹, 長谷智紘, 森山　健, 前田俊二, 電子部品検査におけるHOG特徴量の局在性に着目した次元削減による欠陥識別性能向上に関する提案, 精密工学会誌、Vol.85, No.5, pp.469-476(2019.5)
  6. 柳部正樹, 大井健太郎, 田中智裕, 西村晃紀, 前田俊二, 電子部品検査における欠陥検査感度制御のためのDeep Convolutional Auto-encoderを用いた学習画像生成の検討, 精密工学会誌, Vol.85, No.8, pp.733-740(2019.8）

受賞歴

  1. 令和元年 特許「高速局所部分空間法による異常検知方法」により，(社)発明協会「令和元年度関東地方発明表彰 発明奨励賞」を受賞(2019)
  2. 平成27年 論文「画像解析に基づく線条痕の特徴強調と局所照合による発射弾丸の異同識別」により，精密工学 会論文賞を受賞(2015)
  3. 平成25年 論文「部分空間法に基づく残差ベクトル軌跡による異常検知手法の検討」により、精密工学会髙城賞を受賞(2013)
  4. 平成19年 発表「欠陥種を考慮に入れた局所整合性に基づく点群照合法」により、画像センシングシンポジウム SSII07「オーディエンス賞」を受賞(2007)
  5. 平成18年 特許「TFT液晶基板の検査・修正方法」により、(社)発明協会「平成18年度関東地方発明表彰 発明奨励賞」を受賞(2006)
  6. 平成9年 特許「半導体回路パターン欠陥検出方法」により、(社)発明協会「平成9年度関東地方発明表彰 発明奨励賞」を受賞 (1997)
  7. 平成7年 「超高感度ＬＳＩパターン検査装置の開発」により、「第30回機械振興協会賞」を受賞(1995)
  8. 平成21年 「日立実績発明者トップ100」を受賞(2009)。 日立在籍中に社長技術賞、研開技術賞、​戦略特許賞​​​ほか41件の社内表彰を受賞。​また、平成26年に(株)日立パワーソリューションズから知的財産権賞を受賞。計42件

ゼミ生の受賞歴

  1. 令和5年度電気・情報関連学会中国支部連合大会 にて、ゼミ生が「切削加工機における表面性状データの分析」により、電気学会中国支部奨励賞を受賞(2023.12.26連絡)
  2. 令和3年度 電気・情報関連学会中国支部連合大会にて、ゼミ生が「サンプリングと外れ値検出を用いた異常検知」により、電気学会中国支部奨励賞を受賞(2022.1.13連絡)
  3. 令和3年度 電気・情報関連学会中国支部連合大会にて、ゼミ生が「KLDの双対性を用いた異常検知手法」により、電気学会中国支部奨励賞を受賞(2022.1.13連絡)
  4. 令和3年度 電気・情報関連学会中国支部連合大会にて、ゼミ生が「KLDの双対性を用いた異常検知手法」により、電子情報通信学会中国支部連合大会奨励賞を受賞
  5. 令和2年度（第73回）電気・情報関係学会九州支部連合大会にて、ゼミ生が「オスカー式研磨機における光学レンズの面精度に及ぼす研磨条件の影響について」により「優秀論文発表賞B賞」を受賞
  6. 平成30年度電気学会次世代産業システム研究会にて、ゼミ生が「レンズ研磨加工の定量化を目的とした加工条件の検討」により、電気学会優秀論文発表賞受賞(2019.3.1) 
  7. 平成30年度電気・情報関連学会中国支部連合大会にて、ゼミ生が「ごみ焼却炉における数理モデルを用いた位相遅れの測定」により、電子情報通信学会中国支部奨励賞、電気学会中国支部奨励賞を受賞(2019.03.01)
  8. 平成29年度 電気・情報関連学会中国支部連合大会にて、ゼミ生が「HOG特徴量の部分空間への射影による欠陥特性評価」により、電子情報通信学会中国支部奨励賞、電気学会中国支部奨励賞を受賞(2018.3.2)
  9. 平成28年 電気学会 電子・情報・システム部門大会にて、ゼミ生が「PS5-8 刃物の威力評価手法の検討」により，優秀ポスター賞を受賞(2016.8.31)

査読付き論文

  1. 山下智泰, 竹本和輝, 前田俊二, 坪井裕明, 池田竜二, 光学レンズの研磨条件に対する機械学習に基づく数値データ分析 , 電気学会論文誌C, Vol.142,No.7,pp. 737- 745(2022.7)
  2. 森山健, 前田俊二, 鈴木忠志, センサデータに基づく設備の異常検知及びその原因特定, 電気学会論文誌C, Vol. 139, No. 12(2019.12),pp.1517-1526
  3. 柳部正樹, 大井健太郎, 田中智裕, 西村晃紀, 前田俊二, 電子部品検査における欠陥検査感度制御のためのDeep Convolutional Auto-encoderを用いた学習画像生成の検討, 精密工学会誌, Vol.85, No.8, pp.733-740(2019.8）
  4. 谷岡知美, 山内将行, 升井義博, 谷口哲至, 荒木智行, 豊田宏, 小池正記, 今本正夫, 前田俊二, 尾崎徹, 田中武, 早期に研究に着手した学生のその後と他への波及効果, 電気学会論文誌, Vol.139, No.11, pp.469-477(2019.11)
  5. 西村晃紀, 柳部正樹, 長谷智紘, 森山　健, 前田俊二, 電子部品検査におけるHOG特徴量の局在性に着目した次元削減による欠陥識別性能向上に関する提案, 精密工学会誌、Vol.85, No.5, pp.469-476(2019.5)
  6. 長谷智紘, 森山健, 西村晃紀, 前田俊二,ニューラルネットワークによる多地点時系列データを用いた風速予測におけるVARによるデータ選択の検討, 精密工学会誌Vol.84, No.10, pp.868-875 (2018.10)
  7. Masayuki Yamauchi, Tomomi Tanioka, Yoshihiro Masui, Tomoyuki Araki, Tetsuji Taniguchi, Hiroshi Toyota, Masaki Koike, Shunji Maeda, Toru Ozaki, Takeshi Tanaka, Early education and its effect on students who desire to research their own topics before joining laboratories, IEEJ Transactions on Electrical and Electronic Engineering, Volume 13, Issue 8, pp.1092–1098(2018.8)
  8. 西村晃紀，柳部正樹，橋本将弥，荒木智行，長谷智紘，森山　健，前田俊二，ヒストグラムベースの局所特徴量を用いた電子部品の外観検査手法の提案, 精密工学会誌, Vol.84, No.7, pp.664-670(2018.7)
  9. 森山 健，西村 晃紀，長谷 智紘，前田 俊二，排ガス影響分析のためのセンサ共通周波数に基づく予測誤差分散分解を用いた因果関係分析手法, 精密工学会誌, Vol.84, No.5, pp.454-462(2018.5)
  10. 湯山 藍美，山先 純也，水野 太介，長谷 智紘，森山 健，西村 晃紀，前田 俊二，高橋 雅也，田中 和英，星平 祐吾，サポートベクトル回帰による多地点時系列データを用いた風速予測におけるk-NNとVARによる学習データ選択の検討, 精密工学会誌, Vol.83, No.10, pp.941-948(2017.10)
  11. 西村 晃紀，前田 俊二，荒木 智行，金子 俊一，渋谷 久恵，仁戸部 勤，安野 拓也，飯塚 正美，中山 透，Histogram Intersectionを用いた弾丸固有の線条痕の絞込み手法の提案, 精密工学会誌, Vol.83, No.8, pp.781-788(2017.8)
  12. 荒木 智行，鈴木 貴，大橋 由侑，前田 俊二，ファジィ論理文に基づくファジィエントロピー，バイオメディカル・ファジィ・システム学会誌，Vol.19, No.1, pp.73-80(2017.6)
  13. 藤井 周，前田俊二，荒木智行，仁戸部勤，金子俊一，渋谷久恵，安野拓也，飯塚正美，中山 透，弾丸異同識別のための線条痕の重み付けと位置を保存したHistogram Intersectionによる類似性評価手法の提案 精密工学会誌, Vol.82, No.7, pp.672-678(2016.7)
  14. 升井 義博, 谷岡 知美, 谷口 哲至, 山内 将行, 荒木 智行, 豊田 宏, 小池 正記, 前田 俊二, 尾崎 徹, 浅野 敏郎, 田中 武，工学教育におけるアクティブラーニング電子情報工学科の基礎科目における実践報告，電気学会論文誌. A, 136(10), 657-662(2016.10)
  15. 渋谷 久恵, 前田 俊二，二次元分布密度に基づく設備の異常関連センサ特定技術，電気学会論文誌Ｃ(電子・情報・システム部門誌), Vol. 135, No. 6, pp.611-618(2015.6)
  16. 米田 圭吾, 金子 俊一, 渋谷 久恵, 前田 俊二, 仁戸部 勤, 飯塚 正美,中山 透, 画像解析に基づく線条痕の特徴強調と局所照合による発射弾丸の異同識別, 精密工学会誌,Vol.80,No.12,pp.1182-1188(2014.12)
  17. 渋谷 久恵, 前田 俊二，高速局所部分空間法による異常検知技術，電気学会論文誌Ｃ, Vol.134, No.5 pp.643-650(2014.5)
  18. 和田 俊和, 尾崎 晋作, 前田 俊二, 渋谷 久恵，Gaussian Process Regressionに基づく時系列データの異常モニタリング，電子情報通信学会論文誌, Vol.J96-D, No.12, pp.3068-3078 (2013.12)
  19. 近藤 正一, 金子 俊一, 高氏 秀則, 前田 俊二, 渋谷 久恵，ロバストかつ高い収束性能を持つ二次元点群照合アルゴリズム，精密工学会誌, Vol.79, no.11, pp.1130-1135 (2013.11)
  20. 近藤 孝洋, 髙木 勇治, 前田 俊二, 浅野敏郎, 視覚特性を考慮した電子ディスプレイの色むら定量評価, 精密工学会誌，Vol.79, no.11, pp.1096-1101 (2013.11)
  21. 渋谷 久恵, 前田 俊二，運転パターン情報を利用した異常検知技術，電気学会論文誌Ｃ(電子・情報・システム部門誌), Vol. 133,No. 10, pp.1998-2006 (2013.10)
  22. 渋谷 久恵, 前田 俊二，決定木を利用したルール設定支援機能を備えた設備監視システム，電気学会論文誌Ｃ(電子・情報・システム部門誌), Vol. 133,No. 9, pp.1845-1852 (2013.9)
  23. 前田 俊二, 丸山 重信, 飯塚 正美, 仁戸部 勉, 中山 透，線条痕顕在化と画像分割照合による発射弾丸の異同識別方式の検討，精密工学会誌，Vol.79, no.5, pp.423-429 (2013.5)
  24. 前田 俊二, 浦野 貴裕, 酒井 薫，背景別しきい値設定によるDie-to-Golden比較と画像内自己参照比較に基づく高感度ハイブリッド欠陥検査，精密工学会誌，Vol.79, no.4, pp.325-331 (2013.4)
  25. 浦野 貴裕, 酒井 薫, 前田 俊二, 佐藤 真一，対話的教示欠陥選択に基づく効率的な実欠陥・虚報弁別技術，電子情報通信学会論文誌, , Vol.J96-D, No.1, pp.221-229 (2013.1)
  26. 前田 俊二, 渋谷 久恵，部分空間法に基づく残差ベクトル軌跡による異常検知手法の検討，精密工学会誌, Vol.78, No.12,pp.1087-1092(2012.12)
  27. 浦野 貴裕, 金子 俊一, 高氏 秀則, 田中 孝之, 前田 俊二, 渋谷 久恵, 吉田 実，欠陥種を考慮に入れた局所一貫性に基づく欠陥パタン照合法，電気学会論文誌 C, 電子・情報・システム部門誌, Vol.129, No.5, pp.778-785(2009.5)
  28. 近藤 和樹, 菊地 啓, 堀田 政二, 渋谷 久恵, 前田 俊二，ランダムな特徴選択とバギングを利用した欠陥分類，画像電子学会誌, Vol.38, no.1, pp.9-15(2009.1)
  29. 浦野 貴裕, 金子 俊一, 高氏 秀則, 田中 孝之, 前田 俊二, 渋谷 久恵, 吉田 実，局所一貫性による点群の回転照合法と欠陥パターン照合への応用，電子情報通信学会論文誌, Vol.J90-D, No.10, pp.2798-2806(2007.10)
  30. 前田 俊二, 酒井 薫, 芝田 行広, 岡部 隆史, 窪田 仁志，照明条件制御下における相関マップ統合型画像マッチング方法，精密工学会誌, Vol.73, No.9, pp.1051-1056(2007.9)
  31. 前田 俊二, 酒井 薫, 岡部 隆史，散布図情報を用いたLSIウェーハ薄膜多層パターン比較検査アルゴリズム，電子情報通信学会論文誌, Vol.J88-D-Ⅱ, No.7, pp.1173-1186(2005.7)
  32. 芝田 行広, 前田 俊二，明視野顕微鏡における像コントラスト向上技術-回折光の偏光を利用した欠陥顕在化技術-，精密工学会誌, Vol.70, No.11, pp.1428-1432(2004.11)
  33. 前田 俊二, 岡 健次，散布図情報を用いた重回帰分析によるしきい値設定手法の提案，精密工学会誌, Vol.66, No.12, pp.1885-1889(2000.12)
  34. 前田 俊二, 吉田 実, 岡 健次，画像解析を用いたステージ精度測定手法の提案，精密工学会誌, Vol.66, No.1, pp.137-140(2000.1)
  35. 前田 俊二, 広井 高志, 窪田 仁志，微分極性比較法によるLSIウェーハ多層パターンの自動外観検査，電子情報通信学会論文誌, Vol.J82-D-Ⅱ, No.1, pp.39-52(1999.1)
  36. 前田 俊二, 遠藤 文昭, 牧平 坦, 窪田 仁志，比較検査における数値解析手法を用いたしきい値設定支援，電子情報通信学会論文誌　D-Ⅱ, Vol.J81-D-Ⅱ, No.1, pp.27-36(1998.1)
  37. 前田 俊二, 小野 眞, 窪田 仁志, 中谷 光雄，赤外線画像マッチングによるTFT基板の高精度ショート欠陥検出，電子情報通信学会論文誌　D-Ⅱ, Vol.J80-D-Ⅱ, No.9, pp.2333-2344(1997.9)
  38. 前田 俊二, 窪田 仁志, 牧平 坦，LSIウェーハパターン自動外観検査における最適しきい値の自動生成，電子情報通信学会論文誌, Vol.J79-D-Ⅱ, No.2, pp.191-201(1996.2)
  39. 前田 俊二, 窪田 仁志, 牧平 坦, 二宮 隆典, 中川 泰夫, 谷口 雄三，カスケードパターンマッチングによるLSIウェーハ多層パターン自動外観検査，電子情報通信学会論文誌, Vol.J72-D-Ⅱ, No.12, pp.2012-2022 (1989.12)

国際会議発表

  1. Masami Nakamura, Yuta Aoto, Shunji Maeda, Basic Study on Railway Facility Extraction with Single Shot　Multibox Detector, International Conference on Machine Learning and Cybernetics ,4016, ICMLC 2019(2019.7)
  2. Kanta Matsubayashi, Takuya Anjiki, Shunji Maeda, Causal Relationship Analysis Using Sensor Data and Infrared Image for Stabilizing Garbage Power Generation, International Conference on Machine Learning and Cybernetics ,4014, ICMLC 2019(2019.7)
  3. Takuya Anjiki, Kanta Matsubayashi, Shunji Maeda, Utilization of the Infrared Image Capturing Combustion State for Estimating the Steam Flow Aiming to Stabilize Garbage Power Generation, International Conference on Machine Learning and Cybernetics ,4019, ICMLC 2019(2019.7)
  4. Takeru Moriyama, Shunji Maeda and Tadashi Suzuki, Detection of Causes of Anomalies with Forecast Error Variance Decomposition for a Diecasting Facility, Th7-1-4, 2018 Joint 10th International Conference on Soft Computing and Intelligent Systems and 19th International Symposium on Advanced Intelligent Systems, pp.138-143(2018.12)
  5. Tomohiro Nagatani, Koki Nishimura, Takeru Moriyama and Shunji Maeda, Solar Irradiance Forecasting with Convolutional Long Short-Term Memory Network using Sky Images, Th6-4-6, 2018 Joint 10th International Conference on Soft Computing and Intelligent Systems and 19th International Symposium on Advanced Intelligent Systems, pp.632-637(2018.12)
  6. Koki Nishimura, Masaki Yanabe, Tomohiro Tanaka, Kentaro Ooi, Tomohiro Nagatani, Takeru Moriyama and Shunji Maeda, Proposed Electronic Component Visual Inspection Method with a Local Histogram-based Feature s, Fr6-3-4, 2018 Joint 10th International Conference on Soft Computing and Intelligent Systems and 19th International Symposium on Advanced Intelligent Systems, pp.1260-1265(2018.12)
  7. Toshio Asano, Takahhiro Kondo, Shunji Maeda, Mura Grade Evaluation Based on S-CIELAB Color System, SID 2014 DIGEST, pp.1081-1084(2014.6)
  8. Toshio Asano, Takahhiro Kondo, Shunji Maeda, Unified Evaluation Method of White Uniformity for Electronic Displays, Industrial Electronics Society, IECON 2013 – 39th Annual Conference of the IEEE (2013.11)
  9. Toshikazu Wada, Yuki Matsumura, Shunji Maeda, Hisae Shibuya, Gaussian Process Regression with Dynamic Active Set and Its Application to Anomaly Detection, The 2013 International Conference on Data Mining(2013.7) world-comp.org/p2013/DMI8072.pdf
  10. KAYABA HIROYUKI, Shun’ichi Kaneko, Sakai Kaoru, Taniguchi Atsushi, Maeda Shunji, Robust 3-D Reconstruction from Single Camera Rotation Stereo, 2012 IEEE/ASME International Conference on Advanced Intelligent Mechatronics,pp.93-97(2012.7)(Full paper査読)
  11. Hiroyuki Kayaba, Shun’ichi Kaneko, Kaoru Sakai, Atsushi Taniguchi, Shunji Maeda, Robust 3-D Shape Measurement based on Single Camera Rotation Stereo, FCV2012, Proceedings of the 18th Japan-Korea Joint Workshop on Frontiers of Computer Vision 2012,H2-29(2012.2)(Full paper査読)
  12. Hidenori Takauji, Shouichi Kondo, Hisae Shibuya, Shunji Maeda, Minoru Yoshida, Yasuo Nakagawa , A Robust Point Registration of Imbalanced Point Sets based on Parameter-Adaptive LCPD, FCV2010, Proceedings of the 16th Japan-Korea Joint Workshop on Frontiers of Computer Vision 2010,O1-2,pp.6-11(2010.2)(Full paper査読)
  13. Kei Kikuchi, Kazuki Kondo, Seiji Hotta, Hisae Shibuya, Shunji Maeda , Class-Unbalanced Defect Classification Using Multistep Learning, FCV2008, Proceedings of the 14th Japan-Korea Joint Workshop on Frontiers of Computer Vision 2008, pp.82-87(2008.1) (Full paper査読)
  14. Kazuki Kondo, Kei Kikuchi, Seiji Hotta, Hisae Shibuya, Shunji Maeda , Defect Classification Using Random Feature Selection and Bagging, FCV2008, Proceedings of the 14th Japan-Korea Joint Workshop on Frontiers of Computer Vision 2008, pp.76-81(2008.1) (Full paper査読)
  15. Akira Hamamatsu, Hisae Shibuya, Yoshimasa Oshima, Shunji Maeda, Hidetoshi Nishiyama, Minori Noguchi, Statistical Threshold Method for Semiconductor Inspection, 12th A-PCNDT(Asia- Pacific Conference on Non-Destructive Testing)(2006.11) (Short　Abstract 査読)
  16. Kensuke Takeda, Shun’ichi Kaneko, Takayuki Tanaka, Kaoru Sakai, Shunji Maeda, Yasuo Nakagawa , Interpolation-based Absolute Gradient Matching and Its Application for LSI Wafer Inspection, QCAV2005, 7th international Conference on Quality Control by Artificial Vision, pp.221-226(2005.5) (Extended Abstract査読)
  17. Kensuke Takeda, Shun’ichi Kaneko, Takayuki Tanaka, Kaoru Sakai, Shunji Maeda, Yasuo Nakagawa , Robust Subpixel Image Alignment by Interpolation-based Absolute Gradient Matching, FCV2005, Proceedings of the 11th Japan-Korea Joint Workshop on Frontiers of Computer Vision 2005, pp.154-159(2005.1) (Full paper査読)
  18. Atsushi Shimoda, Kenji Watanabe, Yuji Takagi, Shunji Maeda, , Short Cycle Killer-Particle Control based on Accurate In-Line Defect Classification, The 9th Int’l. Symposium on Semiconductor Manufacturing, pp.199-202(2000.9) (Full paper査読)
  19. Yasuhiro Yoshitake, Shunji Maeda, Kenji Watanabe, , Defect Control Using an Automatic Killer Defect Selection Method, IEEE, Int’l Workshop on Statistical Metrology Technical Papers, pp.32-35(1998.6) (Extended Abstract査読)
  20. Takashi Hiroi, Shunji Maeda, Hitoshi Kubota, Kenji Watanabe, Yasuo Nakagawa , Precise Visual Inspection for LSI Wafer Patterns Using Subpixel Image Alignment, Proc. Of the 2nd IEEE Workshop on Applications of Computer Vision, pp.26-34(1994.12) (Extended Abstract査読)
  21. Toshio Asano, Shunji Maeda, Toshiaki Murai , Vision system aligns leads for automatic component insertion, Assembly Automation, Volume 3 issue 1, pp.32-35(1983) (Extended Abstract査読)

口頭発表

  1. 奥田 優樹, 前田 俊二, 木村 藍貴, 谷口 哲至, 青戸 勇太, 外田 脩, 設備異常検知のための異なる確率分布に対する Kullback-Leibler divergence の振る舞いに関する考察, A109, 2 024年度精密工学会春季大会学術講演会(2024.3)
  2. 木村 藍貴, 谷口 哲至, 前田 俊二, 井上 瑠之介, 崎山 大雅, 青戸 勇太, 外田 脩, グラフラプラシアンによる異常検知と診断の同時実現を目指した研究, A110, 2 024年度精密工学会春季大会学術講演会(2024.3)
  3. 畑井那津美, 前田俊二, 谷口哲至, 木村藍貴, 切削加工機における表面性状データの分析, R23-25-12, 2023年度(第74回)電気・情報関連学会中国支部連合大会(2023.10)
  4. 奥田 優樹, 前田 俊二, 小松 尭, 谷口 哲至, 青戸 勇太, 外田 脩, 音響及び振動データに対する設備診断におけるエントロピーの有効性, D31, 2023年度精密工学会春季大会学術講演会(2023.3)
  5. 活田 悠太, 前田 俊二, 辻本　望, 小松　尭, 谷口 哲至, 複数のセンシングデータを用いた設備の異常分析, D30, 2023年度精密工学会春季大会学術講演会(2023.3)
  6. 畑井 那津美, 前田 俊二, 辻本　望, 谷口 哲至, 小松 尭, 設備診断における連続計測と間欠計測のデータの有用性比較, D83, 2023年度精密工学会春季大会学術講演会(2023.3)
  7. 貞国佑輔, 居森 章, 前田俊二, 小松 尭, 谷口哲至, 周波数解析及びKLDを用いた異常音診断, R22-25-07, 2022年度(第73回)電気・情報関連学会 中国支部連合大会(2022.10)
  8. 居森 章, 前田 俊二, 小松 尭, 谷口 哲至, 外田 脩, 多変量センシングデータを対象とした エントロピーによる異常検知, , 2022 IEEE SMC Hiroshima Chapter Young Researchers’ Workshop, pp.55-60(2022.7)
  9. 居森 章, 前田 俊二, 小松 尭, 谷口 哲至, 外田 脩, 双対性を用いたエントロピーによる新しい異常検知への試み, IS2-24, 第28回画像センシングシンポジウム(2022.6)
  10. 居森 章, 前田俊二, 小松 尭，谷口哲至, 外田　脩, エントロピーがもつ統一性，双対性，従属性による異常検知 ～ エントロピー・カルバック-ライブラーダイバージェンス・相互情報量の有用性 ～, 電子情報通信学会 情報理論研究会, 2022-01-RCS-SIP-IT(2022.1)
  11. 安食拓哉, 中村雅美, 前田俊二, 小松堯, 谷口哲至, KLDの双対性を用いた異常検知手法の提案, R21-17-03, 2021年度(第72回)電気・情報関連学会 中国支部連合大会(2021.10)
  12. 中村雅美, 安食拓哉, 前田俊二, 小松堯, 谷口哲至, リサンプリングと外れ値検出を用いた異常検知, R21-21-01, 2021年度(第72回)電気・情報関連学会 中国支部連合大会(2021.10)　
  13. 居森 章, 小倉 直, 前田 俊二, 気象データの傾向分析に基づく日射量予測, IS2-29, 第27回画像センシングシンポジウムSSII2021 (2021.6.10)
  14. 貞国 佑輔, 前田 俊二, 谷口 哲至, 青戸 勇太, 外田 脩, CCAとKLDを用いた発電設備診断の検討, PI-21-016, IIS-21-029, 電気学会 知覚情報・次世代産業システム合同研究会(2021.3.23)
  15. 山下智泰, 竹本和樹, 松林幹大, 前田俊二, 坪井裕明, 池田竜二, レンズ研磨条件分析のためのデータの点群照合とデータ拡張の比較, D-11-23, 2021年電子情報通信学会総合大会(2021.3.10)
  16. 髙見玲音, 中村雅美, 青戸勇太, 前田俊二, 鉄道用トロリ線の懸垂状態に基づく鉄道線設備の異常診断, D-11-26, 2021年電子情報通信学会総合大会(2021.3.10)
  17. 松林 幹大，山下 智泰，竹本 和輝，原 弘行，前田 俊二，坪井 裕明，池田 竜二, 光学レンズ研磨装置における研磨条件の分析, IS2-16, ViEW2020(Vision Engineering Workshop 2020), ビジョン技術の実利用ワークショップ(2020.12.3)
  18. 貞国 佑輔, 前田 俊二, 青戸 勇太, 松林 幹大, 居森 章, 森本 直斗, 谷口 哲至, 外田 脩, 設備診断のためのカルバック-ライブラーダイバージェンスによるデータ分析, PI-20-060, IIS-20-072, 電気学会 知覚情報・次世代産業システム合同研究会(2020.10.20)
  19. 貞国 佑輔, 前田 俊二, 青戸 勇太, 松林 幹大, 居森 章, 森本 直斗, 谷口 哲至, 外田 脩, 設備診断のためのヒストグラムに基づく類似度評価, 04-2P-06, 2020年度（第73回）電気・情報関係学会九州支部連合大会(2020.9.27)
  20. 松林 幹大, 山下 智泰, 竹本 和輝, 前田 俊二, 坪井 裕明, 池田 竜二, オスカー式研磨機における光学レンズの面精度に及ぼす研磨条件の影響について, 04-2P-07, 2020年度（第73回）電気・情報関係学会九州支部連合大会(2020.9.27)「優秀論文発表賞B賞」受賞
  21. 七川 拓哉，居森 章，池田 悠人，佐藤 汰一，高岡 友哉，小倉 直，安食 拓哉，松林 幹大，前田 俊二, 短期先日射強度予測のための雲画像による減衰率の推定, D0303, 精密工学会2020年度秋季大会(2020.9.1)
  22. 村北 泰洋，越野 太貴，松本 祐太郎，大下 翔也，⻘戶 勇太，前田 俊二，森本 直斗，谷口 哲至，外田脩, 設備診断のためのセンサデータ前処理技術の検討, D0304, 精密工学会2020年度秋季大会(2020.9.1)
  23. 山下 智泰，竹本 和樹，松林 幹大，前田 俊二，坪井 裕明，池田 ⻯二, 光学レンズ研磨精度予測のためのICPによるレンズ姿勢補正, D0305, 精密工学会2020年度秋季大会(2020.9.1)
  24. 高岡 友哉, 池田 悠人, 佐藤 汰一, 七川 拓哉, 居森 章, 小倉 直, 安食 拓哉, 前田 俊二, 天空動画像と気象データを用いた短期先日射強度予測手法の検討, H-005, 第19回情報科学技術フォーラム FIT2020(2020.9.1)
  25. 竹本 和輝, 山下 智泰, 松林 幹太, 前田 俊二, 坪井 裕明, 池田 竜二, 光学レンズ研磨機における条件設定支援, H-004, 第19回情報科学技術フォーラム FIT2020(2020.9.1)
  26. 居森 章, 小倉 直, 安食 拓哉, 松林 幹大, 前田 俊二, 天空動画像を用いた短期先日射強度予測手法の検討, IS 3 – 21, 第26回画像センシングシンポジウムSSII2020(2020.6.12)
  27. 松林 幹大, 山口 浩英, 稲田 敦志, 前田 俊二, 坪井 裕明, 池田 竜二, オスカー式研磨機における光学レンズ形状に及ぼす研磨条件の良否判断, IS 3 – 04, 第26回画像センシングシンポジウムSSII2020(2020.6.12)
  28. 髙見 玲音, 青戸 勇太, 松林 幹大, 中村 雅美, 前田 俊二, 電車線路設備を対象とした画像内の領域連結性に基づく異常診断, 電気学会 知覚情報・次世代産業システム合同研究会(2020年3月23日)
  29. 貞国 佑輔, 青戸 勇太, 中村 雅美, 前田 俊二, 射影変換からなる画像レジストレーションを用いた鉄道設備の異常診断, D-11-1, 2020年電子情報通信学会総合大会(2020.3.18)
  30. 原 弘行, 稲田 淳志, 山口 浩英, 天野 光陽, 松林 幹大, 前田 俊二, 坪井 裕明, 池田 竜二, ニュートンリングを用いたレンズ形状の定量化と仕上り予測, D-11-11, 2020年電子情報通信学会総合大会(2020.3.18)
  31. 小倉 直, 藤村 優斗, 居森 章, 青木 智哉, 安食 拓哉, 前田 俊二,　リアルタイム短期先日射強度予測の手法改善, G21, 精密工学会2020年度春季大会(2020.3.17)
  32. 青戸 勇太, 中村 雅美, 前田 俊二, 鉄道設備の異常診断のための外れ値検出手法の提案, G22, 精密工学会2020年度春季大会(2020.3.17)
  33. 居森 章, 藤村 優斗, 小倉 直, 青木 智哉, 安食 拓哉, 前田 俊二, 雲の位置と状態を考慮したリアルタイム日射強度予測手法の検討, G23, 精密工学会2020年度春季大会(2020.3.17)
  34. 松林幹大, 山口 浩英, 稲田 淳志, 前田 俊二, 坪井 裕明, 池田 竜二, オスカー式研磨機における光学レンズ形状に及ぼす研磨条件の因果分析, H111, 精密工学会2020年度春季大会(2020.3.19)
  35. 稲田 淳志, 山口 浩英, 天野 光陽, 原 弘行, 前田 俊二, 坪井 裕明, 池田 竜二, オスカー式研磨機におけるレンズ形状予測手法の検討, IS2-C13(OS3-H4), ViEW2019(Vision Engineering Workshop 2019), ビジョン技術の実利用ワークショップ(2019.12.6)
  36. 松林 幹大 安食 拓哉, 前田 俊二, ごみ焼却炉における蒸気量予測のための因果関係に基づく特徴量抽出, A2-23, 第21回IEEE広島支部学生シンポジウム（HISS）(2019.11.30,12.1)
  37. 田中 智裕, 大井 健太郎, 青戸 勇太, 松林 幹大, 前田 俊二, 電子部品検査における画像データ拡張のための自己符号化器の性能把握, A2-25, 第21回IEEE広島支部学生シンポジウム（HISS）(2019.11.30,12.1)
  38. 青戸 勇太, 中村 雅美, 前田 俊二, 変分自己符号化器の潜在空間におけるカバレッジに基づく鉄道設備の異常診断向け学習データの評価, B2-24, 第21回IEEE広島支部学生シンポジウム（HISS）(2019.11.30,12.1)
  39. 居森 章, 小倉 直, 青木智哉, 前田俊二, 雲による遮蔽率を考慮した日射強度予測の検討, 第24回パターン計測シンポジウム(第104回パターン計測部会研究会)(2019.11.8)
  40. 小倉 直, 居森 章, 青木智哉, 青戸勇太, 安食拓哉, 前田俊二, 短期先日射強度予測における天空画像の取得方法の比較検討, 第24回パターン計測シンポジウム(第104回パターン計測部会研究会)(2019.11.8)
  41. 青戸勇太, 中村雅美, 前田俊二, 連続取得画像を対象に特徴空間上の軌跡に着目した鉄道設備診断, 第24回パターン計測シンポジウム(第104回パターン計測部会研究会)(2019.11.9)
  42. 松林幹大, 安食拓哉, 前田俊二, ごみ焼却炉における赤外線画像を用いた因果関係に基づく蒸気量予測の検討, R19-22-01-01, 令和元年度(第70回)電気・情報関連学会中国支部連合大会(2019.10.26)
  43. 小倉 直, 居森 章, 青木智哉, 青戸勇太, 前田俊二, 短期先リアルタイム日射強度予測のための広視野全天球画像と狭視野画像の比較検討, R19-22-02-01,令和元年度(第70回)電気・情報関連学会中国支部連合大会(2019.10.26)
  44. 居森 章, 小倉 直, 青木智哉, 前田俊二, 日射強度予測のための雲の追跡と太陽光の遮蔽率評価手法の検討, R19-22-02-02, 令和元年度(第70回)電気・情報関連学会中国支部連合大会(2019.10.26)
  45. 山口浩英, 稲田淳志, 天野光陽, 原 弘行, 前田俊二, 坪井裕明, 池田竜二, 形状計測データと研磨条件を用いたレンズ研磨工程定量化の試み, R19-22-02-05, 令和元年度(第70回)電気・情報関連学会中国支部連合大会(2019.10.26)
  46. 青戸勇太, 中村雅美, 前田俊二, 変分自己符号化器による疎な分布のデータ拡張を活用した局所部分空間法による電車線路設備の診断, R19-22-03-01, 令和元年度(第70回)電気・情報関連学会中国支部連合大会(2019.10.26)
  47. 居森 章, 青木智哉, 小倉 直, 安食拓哉, 松林幹大, 藤村優斗, 前田 俊二, 天空画像と日射強度を対象にしたLSTMによる日射強度のリアルタイム短期先予測, P43, 令和元年電気学会電力・エネルギー部門大会(2019.9.4)
  48. 青戸 勇太, 中村 雅美, 前田 俊二, 電車線路設備を対象とした低次元特徴に基づく局所部分空間法による異常診断, 電気学会, 知覚情報/次世代産業システム 合同研究会(2019.8.28)
  49. 松林幹大, 安食拓哉, 前田俊二, ごみ焼却炉における赤外線画像に対するPre-trained networkによる特徴量抽出の検討, 2019 IEEE SMC Hiroshima Chapter 若手研究会(2019.7.20)
  50. 居森 章, 小倉 直, 青木智哉, 前田俊二, 天空画像を用いたリアルタイム短期先日射強度予測手法の検討, 第103回パターン計測部会研究会(2019.6.7)
  51. 居森 章, 青木智哉, 小倉 直, 東 佑樹, 天野光陽, 栗田真吾, 貞国佑輔, 原 弘行, 前田俊二, 天空画像を用いた日射強度のリアルタイム予測, 第9回電子デバイス・回路・照明・システム関連教育・研究ワークショップ, #4(2019.5.18)
  52. 安食拓哉, 松林幹大, 松岡尚弥, 髙見玲音, 森山 健, 前田俊二, ごみ発電量安定化を目的とした蒸気流量推定のための炉内赤外線映像の活用, E03, 精密工学会2019年度春季大会(2019.3.13)
  53. 中村雅美, 青戸勇太, 森山 健, 前田俊二, Single Shot MultiBox Detectorによる鉄道設備抽出に関する検討, E06, 精密工学会2019年度春季大会(2019.3.13)
  54. 藤村優斗, 遠藤操希, 上出敦也, 長谷智紘, 西村晃紀, 森山 健, 前田俊二, 天空画像を用いたLSTM ネットワーク による短期先日射量予測, E13, 精密工学会2019年度春季大会(2019.3.13)
  55. 大井健太郎, 田中智裕, 柳部正樹, 西村晃紀, 森山 健, 長谷智紘, 前田俊二, Deep Convolutional AutoEncoderを用いた電子部品検査における画像生成による識別困難欠陥への対応, E14, 精密工学会2019年度春季大会(2019.3.13)
  56. 田中智裕, 大井健太郎, 柳部正樹, 西村晃紀, 前田俊二, 電子部品検査における画像生成による欠陥学習データ確保の検討, E17, 精密工学会2019年度春季大会(2019.3.13)
  57. 柳部正樹, 大井健太郎, 田中智裕, 西村晃紀, 前田俊二, Deep Convolutional Auto-encoderによる生成画像を用いた電子部品欠陥検査感度の評価手法の検討, E19, 精密工学会2019年度春季大会(2019.3.13)
  58. 松林幹大, 安食拓哉, 松岡尚弥, 髙見玲音, 森山 健, 前田俊二, ごみ発電量安定化のための温度計測値と赤外線画像の分析と比較, I29, 精密工学会2019年度春季大会(2019.3.13)
  59. 田中智裕, 大井健太郎, 柳部正樹, 西村晃紀, 前田俊二, 電子部品検査における主成分分析とオートエンコーダによる次元削減特性の比較, 第8回電子デバイス・回路・照明・システム関連教育・研究ワークショップ, #1(2018.12.7)奨励賞受賞
  60. 寺井 満俊，前田 俊二，安野 拓也，飯塚 正美，弾道ゼラチンを用いた刃物の威力評価，D-10，日本法科学技術学会第24 回学術集会(2018.11.8)
  61. 山口浩英, 稲田淳志, 松林幹大, 西村晃紀, 長谷智紘, 森山 健, 谷口哲至, 前田俊二, 坪井裕明, 池田竜二, オスカー式研磨機における研磨の軌道分析, R18-18-02, 平成30年度（第69回）電気・情報関連学会中国支部連合大会(2018.10.20)
  62. 稲田淳志, 山口浩英, 松林幹大, 西村晃紀, 長谷智紘, 森山 健, 前田俊二, 坪井裕明, 池田竜二, レンズ研磨加工における機械学習を用いた面精度予測, R18-24-02, 平成30年度（第69回）電気・情報関連学会中国支部連合大会(2018.10.20)
  63. 松林幹大, 安食拓哉, 高見玲音, 松岡尚弥, 森山　健, 西村晃紀, 長谷智紘, 前田俊二, ごみ焼却炉における数理モデルを用いた位相遅れの測定, R18-24-03, 平成30年度（第69回）電気・情報関連学会中国支部連合大会(2018.10.20)電子情報通信学会中国支部奨励賞、電気学会中国支部奨励賞受賞
  64. 安食拓哉, 松林幹大, 高見玲音, 松岡尚弥, 森山 健, 長谷智紘, 西村晃紀, 前田俊二, ごみ焼却炉におけるごみ投入量の可視化と炉内映像と蒸気流量の関係把握, R18-24-04, 平成30年度（第69回）電気・情報関連学会中国支部連合大会(2018.10.20)
  65. 藤村優斗, 遠藤操希, 上出敦也, 前田龍佑, 長谷智紘, 西村晃紀, 森山 健, 前田俊二, 天空画像を対象とした日射量予測における画像生成精度と予測精度の把握, R18-24-05, 平成30年度（第69回）電気・情報関連学会中国支部連合大会(2018.10.20)
  66. 青戸勇太, 中迫篤志, 中村雅美, 森山　健, 長谷智紘, 西村晃紀, 前田俊二, Deep LearningとOptical Flowを組み合わせた逆走車両検知手法の検討, 多値論理研究会, 第41回多値論理フォーラム, No.13(2018.9.16)
  67. 長谷智紘, 上出敦也, 前田龍佑, 西村晃紀, 森山　健, 前田俊二, 天空画像を対象としたDAEによる日射量予測, 2018年電子情報通信学会ソサイエティ大会, A-8-20 (2018.9.14)
  68. 森山　健, 前田俊二, 鈴木　寛, 堀江聖岳, SSD特徴量を利用したOptical Flowによる異常運転認識の検討, 2018年電子情報通信学会ソサイエティ大会, A-8-23 (2018.9.14)
  69. 稲田淳志, 山口浩英, 松林幹大, 西村晃紀, 長谷智紘, 森山　健, 前田俊二, 坪井裕明, 池田竜二, レンズ研磨工程における面精度予測の検討, 2018年電子情報通信学会ソサイエティ大会, A-8-24(2018.9.14)
  70. 西村晃紀, 柳部正樹, 田中智裕, 大井健太郎, 長谷智紘, 森山　健, 前田俊二, 電子部品検査のためのNMF次元削減による識別精度向上の検討, 2018年電子情報通信学会ソサイエティ大会, A-8-25(2018.9.14)
  71. 大井健太郎, 田中智裕, 柳部正樹, 西村晃紀, 森山　健, 長谷智紘, 前田俊二, 電子部分検査におけるAutoencoderとSVMを用いた欠陥識別, 2018年電子情報通信学会ソサイエティ大会, A-8-26(2018.9.14)
  72. 山口浩英, 稲田淳志, 松林幹大, 西村晃紀, 長谷智紘, 森山　健, 前田俊二, 坪井裕明, 池田竜二, レンズ研磨工程における作業内容の分析, 精密工学会2018年度秋季大会(2018.9.5)
  73. 松林幹大, 安食拓哉, 松岡尚弥, 高見玲音, 森山　健, 長谷智紘, 西村晃紀, 前田俊二, ごみ焼却設備における蒸気流量の安定制御支援を目的とした因果関係分析, 精密工学会2018年度秋季大会(2018.9.5)
  74. 長谷智紘, 上出敦也, 前田龍佑, 遠藤操希, 藤村優斗, 西村晃紀, 森山　健, 前田俊二, 天空画像を対象とした日射量予測におけるConvolutional Neural NetworkとConvolutional LSTM Networkの比較検討, 精密工学会2018年度秋季大会(2018.9.7)
  75. 柳部正樹, 田中智裕, 大井健太郎, 西村晃紀, 森山　健, 長谷智紘, 前田俊二, 電子部品検査精度の向上のためのオートエンコーダを用いた欠陥画像生成手法の検討, 精密工学会2018年度秋季大会(2018.9.7)
  76. 西村晃紀, 柳部正樹, 田中智裕, 大井健太郎, 長谷智紘, 森山　健, 前田俊二, 電子部品検査のためのHOG特徴量の次元削減による欠陥識別精度向上の検討, 精密工学会2018年度秋季大会(2018.9.7)
  77. 安食拓哉, 松林幹大, 松岡尚弥, 高見玲音, 森山　健, 長谷智紘, 西村晃紀, 前田俊二, ごみ焼却設備におけるごみ燃焼状態から蒸気流量の推定, 精密工学会2018年度秋季大会(2018.9.7)
  78. 中村雅美, 青戸勇太, 森山　健, 前田俊二, 鈴木　寛, 堀江聖岳, 少数サンプル条件下におけるSingle Shot MultiBox Detectorの逆走車両検知精度確保に関する検討, 精密工学会2018年度秋季大会(2018.9.7)
  79. 森山　健, 青戸勇太, 前田俊二, 鈴木　寛, 堀江聖岳, Single Shot MultiBox DetectorとOptical Flowを組み合わせた逆走車両検知手法の検討, 精密工学会2018年度秋季大会(2018.9.7)
  80. 藤村優斗, 遠藤操希, 上出敦也, 前田龍佑, 長谷智紘, 西村晃紀, 森山健, 前田俊二, Convolutional LSTM Networkを用いた日射量予測のための未来画像生成, 電気学会, 知覚情報/次世代産業システム 合同研究会, PI-18-049, IIS-18-030(2018.7.30)
  81. 田中智裕, 大井健太郎, 柳部正樹, 西村晃紀, 森山健, 長谷智紘, 前田俊二, 電子部品検査における画像データ拡張のための画像生成手法の検討, 電気学会, 知覚情報/次世代産業システム 合同研究会, PI-18-050, IIS-18-031(2018.7.30)
  82. 安食拓哉, 松林幹大, 松岡尚弥, 高見玲音, 森山健, 前田俊二, 赤外線画像を対象とした燃焼状態分類のための特徴抽出の検討, 電気学会, 知覚情報/次世代産業システム 合同研究会, PI-18-054, IIS-18-035(2018.7.30)
  83. 中村雅美, 青戸勇太, 中迫篤志, 森山健, 長谷智紘, 西村晃紀, 前田俊二, 少数サンプル条件下でのSingle Shot MultiBox DetectorとOptical Flowを組み合わせた逆走車両検知精度確保に関する検討, 電気学会, 知覚情報/次世代産業システム 合同研究会, PI-18-055, IIS-18-036(2018.7.30)
  84. 稲田淳志, 山口浩英, 松林幹大, 西村晃紀, 長谷智紘, 森山健, 前田俊二, 坪井裕明, 池田竜二, レンズ研磨加工の定量化を目的とした加工条件の検討, 電気学会, 知覚情報/次世代産業システム 合同研究会, PI-18-059, IIS-18-040(2018.7.30)
  85. 西村晃紀，柳部正樹，長谷智紘，森山健，前田俊二，ヒストグラム特徴量を用いた識別とディープラーニングを用いた識別の優劣について，IS2-30，第24回画像センシングシンポジウム(SSII2018) (2018.6.14)
  86. 森山健，西村晃紀，長谷智紘，前田俊二，鈴木寛，堀江聖岳，Optical FlowとSingle Shot Multibox Detectorを用いた異常運転認識の検討，IS3-15，第24回画像センシングシンポジウム(SSII2018) (2018.6.15)
  87. 柳部正樹，西村晃紀，森山健，長谷智紘，前田俊二，電子部品検査におけるオートエンコーダによる欠陥画像データの拡張，計測自動制御学会計測部門，第101回パターン計測部会研究会(2018.6.8)
  88. 森山健，松林幹大，安食拓哉，前田俊二，ごみ焼却炉の赤外線画像データを対象にしたOptical Flowと時間方向wavelet 変換によるごみ移動状態の認識，計測自動制御学会計測部門，第101回パターン計測部会研究会(2018.6.8)
  89. 田中智裕, 安食拓哉, 稲田淳志, 遠藤操希, 大井健太郎, 中村雅美, 藤村優斗, 山口浩英, 長谷智紘, 前田俊二, 日射量予測のための畳み込みニューラルネットワークによる未来天空画像の生成, 第７回電子デバイス・回路・照明・システム関連教育・研究ワークショップ, #3(2018.5.26)　奨励賞受賞
  90. 森山　健, 西村 晃紀, 長谷 智紘, 前田 俊二, 排ガス変動分析のための共通周波数に基づく因果関係分析, A-8-1, 2018電子情報通信学会総合全国大会(2018.3.21)
  91. 長谷 智紘, 西村 晃紀, 森山　健, 前田 俊二, 日射量予測のための未来天空画像の生成, A-8-8, 2018電子情報通信学会総合全国大会(2018.3.21)
  92. 西村 晃紀, 柳部 正樹, 橋本 将弥, 長谷 智紘, 森山　健, 前田 俊二, HOG特徴量の高精度電子部品検査への適用, A-8-12, 2018電子情報通信学会総合全国大会(2018.3.21)
  93. 青戸 勇太, 森山　健, 西村 晃紀, 長谷 智紘, 前田 俊二, Single Shot MultiBox DetectorとOptical Flowを用いた逆走車両認識, A-8-14, 2018電子情報通信学会総合全国大会(2018.3.21)
  94. 森山 健, 西村 晃紀, 長谷 智紘, 前田 俊二，鈴木 寛, 堀江 聖岳，オプティカルフローと畳込みニューラルネットワークによる逆走車両の認識，ビジョン技術の実利用ワークショップViEW2017，IS2-A2 (2017.12.8)
  95. 西村 晃紀, 柳部 正樹, 青戸 勇太, 橋本 将弥, 長谷 智紘, 森山 健, 前田 俊二，ヒストグラムベースの局所特徴量を用いた電子部品の外観検査の検討，ビジョン技術の実利用ワークショップViEW2017，IS1-A2(2017.12.7)
  96. 長谷 智紘, 森山 健, 西村 晃紀, 前田 俊二，雲画像を用いた日射量の推定，ビジョン技術の実利用ワークショップViEW2017，IS1-C8(2017.12.7)
  97. 森山 健, 藤井 将貴, 中迫 篤志, 前田 俊二, 鈴木 寛, 堀江 聖岳，オプティカルフローを用いた道路における異常運転認識の検討，B2-18，第 19 回 IEEE 広島支部学生シンポジウム(2017.12.2,3両日)
  98. 橋本 興典, 寺井 満俊, 前田 龍佑, 米花 拓郎, 前西 緋槻, 前田 俊二, 飯塚 正美, 安野 拓也, 刃物威力に対する衣服の影響評価手法の提案, 第６回電子デバイス・回路・照明・システム関連教育・研究ワークショップ, #11(2017.11.25)
  99. 松林 幹大, 森山 健, 西村 晃紀, 長谷 智紘, 前田 俊二, LiNGAMを用いた数理モデルによる因果関係の解析, 第６回電子デバイス・回路・照明・システム関連教育・研究ワークショップ, #12(2017.11.25)　奨励賞受賞
  100. 前西 緋槻, 米花 拓郎, 橋本 興典, 寺井 満俊, 前田 龍佑, 前田 俊二, 飯塚 正美, 安野 拓也, 刃物の摩擦を考慮した威力評価手法の検討, 第６回電子デバイス・回路・照明・システム関連教育・研究ワークショップ, #17(2017.11.25)
  101. 松林幹大, 高見玲音, 秋本匠, 吉武駿也, 森山健, 西村晃紀, 長谷智紘, 前田俊二, ごみ焼却に伴うNOx発生要因の線形非ガウスモデルによる分析, 平成29年度（第68回）電気・情報関連学会中国支部連合大会, R17-15-16(2017.10.21)
  102. 前田龍佑, 前西緋槻, 米花拓郎, 橋本興典, 寺井満俊, 前田俊二, 飯塚正美, 安野拓也, 刃物の特性を考慮した刃物の威力評価手法の検討, 平成29年度（第68回）電気・情報関連学会中国支部連合大会, R17-22-03(2017.10.21)
  103. 橋本興典, 寺井満俊, 前田龍佑, 米花拓郎, 前西緋槻, 前田俊二, 飯塚正美, 安野拓也, 衣服の影響を考慮した刃物の威力評価手法の検討, 平成29年度（第68回）電気・情報関連学会中国支部連合大会, R17-22-04(2017.10.21)
  104. 柳部正樹, 橋本将弥, 西村晃紀, 長谷智紘, 森山健, 前田俊二, 電子部品検査のための配線パターンとHOG特徴量算出領域の位置関係の影響分析, 平成29年度（第68回）電気・情報関連学会中国支部連合大会, R17-22-05(2017.10.21)
  105. 橋本将弥, 柳部正樹, 西村晃紀, 森山健, 長谷智紘, 前田俊二, HOG特徴量の部分空間への射影による欠陥特性評価, 平成29年度（第68回）電気・情報関連学会中国支部連合大会, R17-22-06(2017.10.21)　電子情報通信学会中国支部奨励賞、電気学会中国支部奨励賞受賞
  106. 西村 晃紀，柳部 正樹，青戸 勇太，長谷 智紘，森山 健，前田 俊二，HOG 特徴量を電子部品検査に適用した場合の課題検討，D08, 精密工学会, 2017年度秋季大会(2017.9.20)
  107. 柳部 正樹，青戸 勇太，橋本 将弥，藤井 将貴，西村 晃紀，森山 健，長谷 智紘，前田 俊二，電子部品検査における過検出抑制のためのHOG特徴量に関する検討，D09，精密工学会, 2017年度秋季大会(2017.9.20)
  108. 森山 健，西村 晃紀，長谷 智紘，前田 俊二，荒木 智行，ごみ焼却設備における排ガス変動因子の分析，C04，精密工学会, 2017年度秋季大会(2017.9.20)
  109. 長谷智紘，森山　健，西村晃紀，前田俊二，雲画像を用いた日射量推定の検討，2017年電子情報通信学会ソサイエティ大会，A-8-3(2017.9.12)
  110. 西村晃紀，柳部正樹，青戸勇太，長谷智紘，森山　健，前田俊二，HOG特徴量を用いた外観検査における欠陥の影響検討，2017年電子情報通信学会ソサイエティ大会，A-8-4(2017.9.12)
  111. 森山　健，西村晃紀，長谷智紘，前田俊二，荒木智行，位相遅れを考慮したごみ焼却設備における排ガス変動因子の分析，2017年電子情報通信学会ソサイエティ大会，A-8-19(2017.9.12)
  112. 西村 晃紀，柳部 正樹，青戸 勇太，森山　健，長谷 智紘，前田 俊二，電子部品の外観検査におけるHOG評価のためのHistogram IntersectionとKullback Leibler Divergenceの比較検討，平成29年電気学会電子・情報・システム部門大会，GS9-2(2017.9.8)
  113. 森山　健，西村 晃紀，長谷 智紘，松林 幹大，前田 俊二，荒木 智行，ごみ焼却設備における排ガス低減因子の分析，平成29年電気学会電子・情報・システム部門大会，GS6-8(2017.9.7)
  114. 松林 幹大，前西 緋槻，秋本　匠，吉武 駿也，森山　健，西村 晃紀，長谷 智紘，前田 俊二，ごみ焼却設備の窒素酸化物低減に影響を与える要因に関する検討，平成29年電気学会電子・情報・システム部門大会，PS4-1(2017.9.6)
  115. 青戸 勇太，柳部 正樹，橋本 将弥，藤井 将貴，西村 晃紀，森山　健，長谷 智紘，前田 俊二，Histogram Intersectionによる局所特徴量の安定抽出に基づく欠陥検査，平成29年電気学会電子・情報・システム部門大会，PS6-7 (2017.9.6)
  116. 中迫 篤志，髙見 玲音，西村 晃紀，森山　健，長谷 智紘，前田 俊二，鈴木　寛，堀江 聖岳，道路における異常運転認識の検討，平成29年電気学会電子・情報・システム部門大会，PS6-10 (2017.9.6)
  117. 長谷 智紘，森山　健，西村 晃紀，前田 俊二，ニューラルネットワークによる短時間先風速予測におけるベクトル自己回帰を用いた時間および空間特徴に基づくデータ選択の検討，平成29年電気学会電子・情報・システム部門大会，TC2-2 (2017.9.6)
  118. 森山 健，西村 晃紀，長谷 智紘，前田 俊二，荒木 智行，鈴木 忠志，野田 統治郎，予測誤差分散分解を用いた設備の異常検知手法の検討，計測自動制御学会，第99回パターン計測部会研究会(2017.7.14)
  119. 西村 晃紀，柳部 正樹，青戸 勇太，長谷 智紘，森山 健，前田 俊二，HOG特徴を用いた外観検査における回路配線パターンとセルのかかり具合によるヒストグラム変動に関する分析検討，計測自動制御学会，第99回パターン計測部会研究会(2017.7.14)
  120. 長谷 智紘，森 山健，西村 晃紀，川人 将典，櫻井 博章，前田 俊二，日射量予測における全天画像と太陽画像の比較検討，計測自動制御学会，第99回パターン計測部会研究会(2017.7.14)
  121. 柳部 正樹, 青戸 勇太, 橋本 将弥, 藤井 将貴, 西村 晃紀, 森山 健, 長谷 智紘, 前田 俊二​，Histogram Intersectionによる局所特徴量の安定抽出に基づく欠陥検査，第５回電子デバイス・回路・照明・システム関連教育・研究ワークショップ(2017.5.27)
  122. 松林 幹大, 前西 緋槻, 秋本 匠, 吉武 駿也, 森山 健, 西村 晃紀, 長谷 智紘, 前田 俊二​，ごみ焼却設備の窒素酸化物発生に影響する要因に関する初期検討​，第５回電子デバイス・回路・照明・システム関連教育・研究ワークショップ(2017.5.27)
  123. 寺井 満俊, 橋本 興典, 藤本 章太郎, 天野 輝月, 米花 拓郎, 廣岡 祐輔, 前田 俊二, 飯塚 正美, 安野 拓也​，画像解析による被験物の変形および損傷に着目した刃物の威力評価​，第５回電子デバイス・回路・照明・システム関連教育・研究ワークショップ(2017.5.27)
  124. 前田 龍佑, 松岡 尚弥, 伊藤 駿, 上出 敦也, 櫻井 博章, 川人 将典, 長谷 智紘, 西村 晃紀, 森山 健, 前田 俊二​，太陽光発電のための天空画像における雲の分類​，第５回電子デバイス・回路・照明・システム関連教育・研究ワークショップ(2017.5.27)
  125. 中迫 篤志, 髙見 玲音, 西村 晃紀, 森山 健, 長谷 智紘, 前田 俊二​，道路における走行車両の異常状態検知の初期検討​，第５回電子デバイス・回路・照明・システム関連教育・研究ワークショップ(2017.5.27)
  126. 森山　健, 長谷 智紘, 西村 晃紀, 前田 俊二, 鈴木忠志, 野田統治郎, 知久馬成美, 予測誤差分散分解を用いた設備の性能劣化評価手法の検討, O07, 精密工学会, 2017年度春季大会(2017.3.13)
  127. 長谷 智紘, 森山　健, 西村 晃紀, 前田 俊二, ニューラルネットワークによる短時間先風速予測の初期検討, A20, 精密工学会, 2017年度春季大会(2017.3.13)
  128. 櫻井 博章, 川人 将典, 長谷 智紘, 西村 晃紀, 森山　健, 前田 俊二, 太陽光発電のための天空画像における雲領域の抽出, A63, 精密工学会, 2017年度春季大会(2017.3.15)
  129. 川人 将典, 櫻井 博章, 長谷 智紘, 森山　健, 西村 晃紀, 前田 俊二, 太陽光発電安定化のための天空画像における雲の動き追跡, A64, 精密工学会, 2017年度春季大会(2017.3.15)
  130. 松尾 浩司, 前田 俊二, 飯塚 正美，安野 拓也，西村 晃紀, 画像解析による断面積を考慮した刃物の威力評価, A73, 精密工学会, 2017年度春季大会(2017.3.15)
  131. 西村 晃紀，前田 俊二，金子 俊一，渋谷 久恵，仁戸部 勤，安野 拓也，飯塚 正美，中山 透，弾丸識別におけるハフ変換による検出直線部に限定したヒストグラムインターセクションの検討A74, 精密工学会, 2017年度春季大会(2017.3.15)
  132. 橋本興典, 橋本将弥, 宮崎大輔, 秋本匠, 川人将典, 櫻井博章, 佐々木秀晃,玉井雅大, 寺井満俊, 徳永優一, 藤井将貴, 吉武駿也, 前田俊二，Pythonを用いた天空画像における雲の動き追跡，第4回電子デバイス・回路・照明・システム関連教育・研究ワークショップ，2-11(2016.11.27)
  133. 森山　健, 前田 俊二, 荒木 智行, 鈴木 忠志, 野田 統治郎, 知久馬 成美, 機械学習を用いた設備の異常度分類手法の検討, 第18回 IEEE広島支部学生シンポジウム(2016.11.19,20)
  134. 松尾 浩司，前田 俊二，飯塚 正美，安野 拓也，画像解析による刃物突刺し威力の評価，D-27，日本法科学技術学会第22 回学術集会(2016.11.11)
  135. 西村 晃紀，前田 俊二，金子 俊一，渋谷 久恵，仁戸部 勤，安野 拓也，飯塚 正美，中山 透，弾丸の異同識別のための線条痕の特徴によるROI の選択，D-34，日本法科学技術学会第22 回学術集会(2016.11.11)
  136. 森山　健，前田俊二，荒木智行，鈴木忠志，野田統治郎，機械学習を用いた設備の異常度分類における初期検討，R16-15-02，平成28年(第67回)電気・情報関連学会　中国支部連合大会（2016.10.22）
  137. 西村晃紀，前田俊二，仁戸部　勤，安野拓也，飯塚正美，中山　透，金子俊一，渋谷久恵，Hough変換によるρθ空間を対象としたHistogram Intersectionと弾丸異同識別への適用，R16-22-01，平成28年(第67回)電気・情報関連学会　中国支部連合大会（2016.10.22）
  138. 西村晃紀，片山拓哉，前田俊二，金子俊一，渋谷久恵，仁戸部　勤，安野拓也，飯塚正美，中山　透，固有線条痕を手がかりとした弾丸画像の対応付け，A-8- 24，2016年電子情報通信学会ソサイエティ大会（2016.9.21）
  139. 長谷智紘，湯山藍美，水野太介，山先純也，前田俊二，高橋雅也，田中和英，星平祐吾，因果関係を考慮した風速予測の検討，A-8- 26，A-8- 26，2016年電子情報通信学会ソサイエティ大会（2016.9.21）
  140. 湯山藍美，長谷智紘，水野太介，山先純也，前田俊二，高橋雅也，田中和英，星平祐吾，SVR風速予測における学習データ選択に関する検討，A-8- 27，2016年電子情報通信学会ソサイエティ大会（2016.9.21）
  141. 水野太介，長谷智紘，山先純也，湯山藍美，前田俊二，高橋雅也，田中和英，星平祐吾，SVR風速予測における学習データセットの役割の実験検討，A-8- 28，2016年電子情報通信学会ソサイエティ大会（2016.9.21）
  142. 森山　健，荒木智行，前田俊二，鈴木忠志，野田統治郎，主成分分析と予測誤差分散分解を用いた設備の性能評価手法の検討，A-3- 3，2016年電子情報通信学会ソサイエティ大会（2016.9.22）
  143. 山先純也，湯山藍美，前田俊二，高橋雅也，田中和英，星平祐吾，多地点の風速時系列データを用いたサポートベクトル回帰による風速予測手法の検討，平成28年電気学会電子・情報・システム部門大会，TC3-4(2016.8)
  144. 西村晃紀，片山拓哉，前田俊二，金子俊一，渋谷久恵，中山　透，仁戸部　勤，安野拓也，飯塚正美，弾丸異同識別のための固有線条痕の特定方法の研究，平成28年電気学会電子・情報・システム部門大会，GS7-5(2016.8)
  145. 森山　健，荒木智行，前田俊二，鈴木忠志，野田統治郎，時系列データを用いた設備の性能評価手法の検討，平成28年電気学会電子・情報・システム部門大会，GS8-4(2016.8)
  146. 松尾浩司，岸田　諭，前田俊二，飯塚正美，安野拓也，刃物の威力評価手法の検討，平成28年電気学会電子・情報・システム部門大会，PS5-8(2016.8)　優秀ポスター賞受賞
  147. 西村 晃紀，前田 俊二，金子 俊一，渋谷 久恵，中山 透，仁戸部 勤，安野 拓也，飯塚 正美，弾丸異同識別のための固有線条痕の検出方法の提案, IS1-15，第22回画像センシングシンポジウムSSII2016(2016.6.8)
  148. 湯山 藍美, 山先 純也, 前田 俊二, 高橋 雅也, 田中 和英, 星平 祐吾，サポートベクトル回帰による風速予測の検討，第３回電子デバイス・回路・照明・システム関連教育・研究ワークショップ(2016.5.28)
  149. 松尾 浩司，岸田　諭，前田 俊二，安野 拓也，飯塚 正美，刃物の威力評価のための刃物の動き検出と 突き刺し深さに与える要因の分析，第３回電子デバイス・回路・照明・システム関連教育・研究ワークショップ (2016.5.28)
  150. 西村 晃紀，前田 俊二，金子 俊一，渋谷 久恵，中山 透，仁戸部 勤，安野 拓也，飯塚 正美，弾丸異同識別のためのCannyエッジオペレータとHough変換による線条痕の検出，第３回電子デバイス・回路・照明・システム関連教育・研究ワークショップ (2016.5.28)
  151. 西村晃紀，前田俊二（広島工業大学），金子俊一，渋谷久恵（北海道大学），中山透（神奈川県警），仁戸部勤，安野拓也，飯塚正美（科警研），弾丸異同識別のための固有線条痕絞込み方法の検討，第97回パターン計測部会研究会　計測自動制御学会　計測部門(2016.5.13)  
  152. 山先純也，長谷智紘，水野太介，森山　健, 前田俊二, 荒木智行，野田統治郎，鈴木忠志，因果関係に基づく異常検知に関する考察，F79, 精密工学会, 2016 年度春季大会(2016.3.17)  
  153. 森山 健，長谷智紘，水野太介，山先純也，荒木智行，前田俊二，鈴木忠志,野田統治郎，多変量時系列データを用いた保守作業の分析，F80, 精密工学会, 2016 年度春季大会(2016.3.17)
  154. 水 野 太介，森山 健，山先 純也，長谷 智紘, 湯山 藍美, 前田 俊二，高橋 雅也，田中 和英,　星平 祐吾，多変量時系列データへのベクトル自己回帰モデルの適用に関する考察，H16, 精密工学会, 2016 年度春季大会(2016.3.15) 
  155. 長谷 智紘, 森山 健, 湯山 藍美, 前田 俊二，高橋 雅也, 田中 和英, 星平 祐吾，ベクトル自己回帰と過去の類似データの活用による風速予測，H15, 精密工学会, 2016 年度春季大会(2016.3.15)
  156. 湯山 藍美, 長谷 智紘, 水野 太介, 前田 俊二，高橋 雅也, 田中 和英, 星平 祐吾，VARモデル風速予測における予測誤差の分析，H14, 精密工学会, 2016 年度春季大会(2016.3.15)
  157. 西村 晃紀，片山 拓哉，藤井 周，前田 俊二，金子 俊一，渋谷 久恵，仁戸部　勤，安野 拓也，飯塚 正美，中山 透，弾丸の異同識別における線条痕の強調，C21, 精密工学会, 2016 年度春季大会(2016.3.15)
  158. 田中 武, 谷岡 知美, 升井 義博, 谷口 哲至, 山内 将行, 荒木 智行, 福原 省三, 豊田　宏, 小池 正記, 前田 俊二, 尾崎　徹, 浅野 敏郎、広島工業大学電子情報工学科における学修に対する体系的な取り組み、電気学会研究会資料、FIE 2016(1-7・9-16), 79-84(2016.2.28)
  159. 升井 義博, 谷岡 知美, 谷口 哲至, 山内 将行, 荒木 智行, 豊田 宏, 小池正 記, 前田 俊二, 尾崎 徹, 浅野 敏郎, 田中 武、工学教育におけるアクティブラーニング電子情報工学科の基礎科目における実践報告、電気学会研究会資料、FIE 2016(1-7・9-16), 29-34( 2016.2.28)
  160. 山内 将行, 谷岡 知美, 升井 義博, 谷口 哲至, 荒木 智行, 豊田 宏, 小池 正記, 前田 俊二, 尾崎　徹 , 浅野 敏郎, 田中武、早期に研究を希望する学生への教育と効果の中間報告、電気学会研究会資料、FIE-15-034(2015.12.12)
  161. Takeru Moriyama, Tomohiro Nagatani, Shu Fujii, Tomoyuki Araki, Shunji Maeda, Tadashi Suzuki, Tojiro Noda, Analysis of maintenance tasks with VAR model and impulse response function, abstract査読, A-16, pp.50-53, 第17回 IEEE広島支部学生シンポジウム(2015.11)
  162. 長谷 智紘, 森山 健, 藤井 周, 前田 俊二, 高橋 雅也, 田中 和英, 星平 祐吾VARモデルによる風速予測に与える多地点データの影響分析，abstract査読, B-12, pp.302-305,第17回 IEEE広島支部学生シンポジウム(2015.11)
  163. 長谷 智紘, 片山 拓哉, 岸田 諭, 竹原 和希, 西村 晃紀, 水野 太介, 宮崎 大輔, 森山 健, 山先 純也, 湯山 藍美, 松尾 浩司, 古賀 和喜, 前田 俊二，Arduinoを用いた動的センシング，第２回電子デバイス・回路・照明・システム​関連教育・研究ワークショップ(2015.11)　[奨 励賞受賞]
  164. 森山 健, 長谷 智紘, 藤井 周, 荒木 智行, 前田 俊二, 鈴木 忠志, 野田 統治郎，予測誤差分散分解を用いた保守作業の分析，第２回電子デバイス・回路・照明・システム​関連教育・研究ワークショップ(2015.11)
  165. 古賀 和喜, 長谷 智紘, 森山 健, 前田 俊二, 高橋 雅也, 田中 和英, 星平 祐吾, 過去の誤差を加味した類似データ選択による風速予測, 6-13, pp. 147 – 148, , 第66回電気・情報関連学会中国支部連合大会(2015.10)
  166. 長谷 智紘, 森山 健, 藤井 周, 前田 俊二, 高橋 雅也, 田中 和英, 星平 祐吾, VARモデルによる風速予測に与える多地点の影響検討, 6-14, pp. 149 – 150 , 第66回電気・情報関連学会中国支部連合大会(2015.10)
  167. 森山 健, 長谷 智紘, 藤井 周, 荒木 智行, 前田 俊二, 鈴木 忠志, 野田 統治郎, VARモデルとインパルス応答関数を用いた保守作業の分析, 15-5, pp. 39 – 40, 第66回電気・情報関連学会中国支部連合大会(2015.10)
  168. 藤井 周, 大西 淳, 中田 英紀, 前田 俊二, 飯塚 正美, 安野 拓也, 仁戸部 勤, 中山 透, 金子 俊一, 渋谷 久恵, 試射弾丸の異同識別を目的としたHistogram Intersectionと共通線条痕への重み付けに基づく類似性評価手法, 22-8, pp. 299 – 300, 第66回電気・情報関連学会中国支部連合大会(2015.10)
  169. 山内 将行, 谷岡 知美, 升井 義博, 谷口 哲至, 豊田　宏, 荒木 智行, 小池 正記, 前田 俊二, 尾崎 徹, 浅野 敏郎, 田中 武、国内学会発表を通した電気電子系学生の育成に向けて、電気学会教育フロンティア研究会、FIE-15-021(2015.9.26)
  170. 藤井 周，中田英紀，前田俊二，飯塚正美，安野拓也，仁戸部勤，中山 透，金子俊一，渋谷久恵，試射弾丸の異同識別を目的としたヒストグラムインターセクションとダイバージェンスによる類似性評価の検討, H-005, FIT2015 第14回情報科学技術フォーラム(2015.9)
  171. 中田英紀、藤井 周、前田俊二，飯塚正美，安野拓也，仁戸部勤，中山 透，金子俊一，渋谷久恵，試射弾丸の画像類似性評価のための局所領域の寸法決定, H-006, FIT2015 第14回情報科学技術フォーラム(2015.9)
  172. 森山 健、長谷智紘、藤井 周、前田俊二、鈴木忠志, 野田統治郎，インパルス応答関数を用いた保守作業の評価手法の検討，電気学会C部門大会, GS13-4, pp.1450-1455(2015.8)
  173. 長谷智紘、森山 健、藤井 周、前田俊二、高橋雅也，田中和英，星平祐吾，風速予測における他地点風速データ活用方法の検討，電気学会C部門大会, GS13-5, pp.1456-1461(2015.8)
  174. 清水雄二, 根石暁，荒木智行, 前田俊二, 鈴木忠志, 野田統治郎，インパルス応答関数を用いた設備の異常予兆検知手法の提案，平成27年計測自動制御学会 計測部門 第95回パターン計測部会研究会(2015.5)
  175. 根石暁，清水雄二, 荒木智行, 前田俊二, 鈴木忠志, 野田統治郎，設備の余寿命予測手法の検討，平成27年計測自動制御学会 計測部門 第95回パターン計測部会研究会(2015.5)
  176. 橘高滋成，住田隼雅，田坂翔，和田義人，隅田将太，前 田俊二，高橋雅也，田中和英，星平祐吾，類似データ選択による風速予測手法 の基礎検討，平成27年電気学会全国大会, 6-094, pp.133-134(2015.3)
  177. 住田隼雅，橘高滋成，田坂 翔，和田義人，隅田将太，前田俊二，高橋雅也，田中和英，星平祐吾，線形予測VARモデルによる風速予測の基礎検討，平成27年電気学会全国大会, 6-205, pp.338-339(2015.3)
  178. 和田義人，田坂 翔，隅田将太，前田俊二，高橋雅也，田中和英，星平祐吾，過去データを用いた風速予測のための類似データ選択，精 密工学会2015年度春季大会, E17, pp.283-284(2015.3)
  179. 吉岡哲郎，佐竹凌太，清水雄二，前田俊二，鈴木忠治， 野田統治郎，設備のパフォーマンスモニタ実現のためのインパルス応答関数に 基づくセンサデータの選択，精密工学会, 2015年度春季大会, E15, pp.279-230(2015.3)
  180. 佐竹凌太，吉岡哲郎，根石 暁，前田俊二，鈴木忠志，野田統治郎，余寿命予測のための設備状態監視手法の検討，精密工学会, 2015 年度春季大会, E06, pp.273-274(2015.3)
  181. 落合俊介，櫻田はなみ，神原卓也，藤井周，前田俊二， 大石昌典，川口哲史，産業素材を対象にしたX線画像を用いた異物認識, 動的画像処理実用化ワークショップ, IS1-A2, DIA2015(2015.3)
  182. 藤井 周，大西淳，中田英紀，前田俊二，飯塚正美，安野拓也，仁戸部勤，中山 透，金子俊一，渋谷久恵：試射弾丸の異同識別を目的と したヒストグラムを用いた類似度分布の取得，動的画像処理実用化ワークショップ, IS1-B7, DIA2015(2015.3)
  183. 大西 淳，藤井 周，中田秀紀，前田俊二，飯塚正美，安野拓也，仁戸部勤，中山 透，金子俊一，渋谷久恵：異同識別のための位置と周波 数に関する類似性評価手法の検討，動的画像処理実用化ワークショップ, IS1-B7, DIA2015(2015.3)
  184. 落合 俊介, 櫻田 はなみ, 神原 卓也, 藤井 周, 前田 俊二, 大石 昌典, 川口 哲史, X線画像を用いた異物検査手法の検討, 平成26年度(第65回)電気・情報関連学会中国支部連合大会, pp.157-158(2014.10)
  185. 田坂 翔, 和田 義人, 隅田 将太, 前田 俊二，高橋 雅也，星平 祐吾, 風速予測のための予測誤差分析と予測値の修正, 精密工学会秋季大会学術講演会講演論文集,O23(2014.9)
  186. 藤井 周，前田 俊二，飯塚 正美，安野 拓也，仁戸部 勤，中山 透, 金子 俊一，渋谷 久恵, 試射弾丸の異同識別を目的とした画像ヒストグラムを用いた類似性評価手法の検討, 精密工学会秋季大会学 術講演会講演論文集,C17(2014.9)
  187. 和田 義人, 隅田 将太, 田坂 翔, 前田 俊二，高橋 雅也，星平 祐吾, 類似データ選択に基づく風速予測手法の検討, imec008, pp.131-136, 第19回知能メカトロニクスワークショップ(2014.7.12)
  188. 藤井 周，前田 俊二，飯塚 正美，安野 拓也，仁戸部 勤，中山 透, 金子 俊一，渋谷 久恵, 試射弾丸の異同識別のための対応付け評価手法の検討, imec007, pp.92-97, 第19回知能メカトロニクスワークショップ(2014.7.12)
  189. 渋谷 久恵, 前田 俊二，センサ信号からの異常検知および異常関連センサ特定技術, 電気学会 知覚情報/次世代産業システム合同研究会, PI-14-005 (2014.3)
  190. 吉岡 哲郎, 佐竹 凌太, 前田 俊二, 鈴木 忠志, 野田 統治朗, 設備の異常予兆検知における時系列データを対象にしたクラスタリング手法の比較検討̶, 精密工学会2013年度春季大会,A14(2014.3)
  191. 佐竹 凌太, 吉岡 哲郎, 前田 俊二, 鈴木 忠志, 野田 統治朗, 複数のクラスタリング手法の組合せによる時系列データを対象にした予兆検知手法の検討̶, 精密工学会2013年度春季大会,A15(2014.3)
  192. 米田 圭吾，金子 俊一，渋谷 久恵，仁戸部 勤，飯塚 正美，中山 透，前田 俊二，画像照合に基づく発射弾丸異同識別における有効線条痕の選択, ビジョン技術の実利用ワークショップ，ViEW2013,IS2-A11(2013.12)
  193. 米田 圭吾, 金子 俊一, 仁戸部 勤, 飯塚 正美, 中山 透, 前田 俊二，線条痕の画像解析に基づく発射弾丸の異同識別, 第19回 画像センシングシンポジウムSSII2013, IS2-16(2013.6.13)
  194. 近藤 正一, 金子 俊一, 前田 俊二, 渋谷 久恵, 高氏 秀則，パラメータ適応型LCPDによるロバスト点群照合，動的画像処理実用化ワークショップ(DIA), I3-8(2013.3.8)
  195. 渋谷 久恵, 前田 俊二，高速局所部分空間法による異常検知技術, 電気学会情報処理研究会資料Vol.IP−13 No.1−11 Page.35-40 (2013.03.29)
  196. 岩崎 匠史, 金井 理, 伊達 宏昭, 金子 俊一, 谷口 敦史, 前田 俊二, 宮本 敦, 田中 麻紀, スクリュー理論を用いた多数の計測点群に対する同時レジストレーション, 精密工学会大会学術講演会講演論文集, Vol.2013 春季(CD−ROM) Page.ROMBUNNO.M66 (2013.02.27)
  197. 金井 理, 岩崎 匠史, 伊達 宏昭, 金子 俊一, 谷口 敦史, 前田 俊二, 宮本 敦, 田中 麻紀, MLSを用いた計測点群に基づいた現物良品モデル生成とその検査への応用, 精密工学会大会学術講演会講演論文集, Vol.2013 春季(CD−ROM) Page.ROMBUNNO.M32 (2013.02.27)
  198. 松村 祐貴, 和田 俊和, 前田 俊二, 渋谷 久恵，動的Active Setを用いたGaussian Process Regressionによるベクトル出力推定法，パターン認識・メディア理解研究会(PRMU)pp.317-322 (2013.1.24)
  199. 栢場 皓之, 金子 俊一, 谷口 敦史，前田 俊二，宮本 敦，ロバスト単眼回転ステレオの開発とその3次元形状計測への融合的応用，ビジョン技術の実利用ワークショップ，ViEW2012,IS2-C1 (2012.12)
  200. 山本 忠, 吉田 稔, 中川 裕志, 渋谷 久恵, 前田 俊二，製品修理作業レポートと付随する数値データの関係性分析，第15回情報論的学習理論ワークショップ(IBIS2012)(2012.11.7)
  201. 前田　俊二, 丸山　重信, 飯塚　正美, 仁戸部　勉，画像分割照合による発射弾丸の異同識別方式の検討，日本法科学技術学会　第18回学術集会,D-31(2012.11)
  202. 米田　圭吾, 金子　俊一, 前田　俊二, 飯塚　正美, 仁戸部　勤, 石井　将人, 中山　透, 画像パタン認識による発射弾丸の異同識別の試み，日本法科学技術学会　第18回学術集会,D-30(2012.11)
  203. 栢場皓之, 金子俊一, 谷口敦史, 酒井薫, 前田俊二，幾何拘束を利用した単眼回転ステレオによる３次元形状計測，第30回日本ロボット学会学術講演会(2012.9)
  204. 前田 俊二, 丸山 重信, 飯塚 正美, 仁戸部 勉，展開画像取得と線条痕顕在化による弾丸の異同識別方式の検討，精密工学会第17 回知能メカトロニクスワークショップIMEC2012,V4-4 (2012.8)
  205. 吉田　稔, 中川　裕志, 渋谷　久恵, 前田　俊二，テキストマイニングによる機器異常診断支援の試み，第4回データ工学と情報マネジメントに関するフォーラムdeim2012,F5-4 (2012.3)
  206. 三上 卓也, 安藤 政志, 小山　純, 堀田 政二, 渋谷 久恵, 前田 俊二，尤度プロファイル特徴に基づく異常分類識別，パターン認識・メディア理解研究会(PRMU)pp.37-40(2012.2)
  207. 尾崎 晋作, 渋谷 久恵, 前田 俊二, 和田 俊和，Gaussian Processesに基づく異常予兆検出への多重解像度解析の導入，パターン認識・メディア理解研究会(PRMU)pp.109-114(2012.1)
  208. 栢場 皓之, 金子 俊一, 酒井 薫, 谷口 敦史, 前田 俊二，単眼回転ステレオ法によるロバスト3次元形状計測，ビジョン技術の実利用ワークショップ，I2-29,ViEW2011,pp.444-449 (2011.12)
  209. 渋谷 久恵, 前田 俊二, 鈴木 忠志, 野田 統治郎，予兆診断のためのリモートモニタリング基準設定支援技術，第16 回動力・エネルギー技術シンポジウム，機械学会,C114,pp43-46(2011.6)
  210. 野田　統治郎, 鈴木　忠志, 藤村　尚, 鈴木　英明, 前田 俊二, 渋谷　久恵，高度予兆診断システムの開発，第16 回動力・エネルギー技術シンポジウム，機械学会,C113,pp39-42(2011.6)
  211. 前田 俊二, 浦野　貴裕, 酒井　薫，背景別しきい値設定によるDie-to-Golden比較と画像内自己参照比較に基づく高感度ハイブリッド欠陥検査，第17回画像センシングシ ンポジウム, IS4-13,SSII2011,pp. IS4-13-1 – IS4-13-6(2011.6)
  212. 尾崎 晋作, 和田 俊和, 前田 俊二, 渋谷 久恵，異常検出におけるSimilarity Based ModelingとGaussian Processesの関連に関して，パターン認識・メディア理解研究会(PRMU),画像工学(IE),pp.133-138(2011.5)
  213. 前田 俊二, 渋谷 久恵，時系列データに対する異常予兆検知のための部分空間生成方法の検討，精密工学会2011年度春季大会,K19,pp.819-820 (2011.3)
  214. 安藤 政志, 堀田 政二, 渋谷 久恵, 前田 俊二，尤度ヒストグラムに基づく異常検出，パターン認識・メディア理解研究会(PRMU), pp.127-130 (2011.3)
  215. 中島 將貴, 堀田 政二, 渋谷 久恵, 前田 俊二，多センサの多次元表現と部分空間識別器に基づく異常検知，パターン認識・メディア理解研究会(PRMU), pp.123-126 (2011.3)
  216. 尾崎 晋作, 和田 俊和, 前田 俊二, 渋谷 久恵，Gaussian Processesを用いたプラントの異常及びその予兆の検出，パターン認識・メディア理解研究会(PRMU), pp.211-216 (2011.1)
  217. 浦野貴裕，酒井薫，前田俊二，佐藤真一，実欠陥・虚報 弁別のための対話的教示欠陥選択における誤り耐性解析，ビジョン技術の実利用ワークショップ, B-3O,ViEW2010,pp.54-61(2010.12)
  218. Masashi Ando, Masaki Nakajima, Seiji Hotta, Hisae Shibuya, and Shunji Maeda, “Likelihood Histogram for Fault Detection,” China-Japan-Korea Joint Workshop on Pattern Recognition (CJKPR2010)(2010.11)
  219. 前田 俊二, 渋谷 久恵，過渡状態を伴うセンサデータに対応可能な異常予兆検知方法の研究，精密工学会2010年度秋季大会,H40, pp541-542(2010.9)
  220. 高宮隆弘，和田俊和，前田俊二, 渋谷久恵，ユーザの選好を反映した特徴変換法，第13回画像の認識・理解シンポジウム, IS1-84, MIRU2010,pp.618-624(2010.7)
  221. 浦野貴裕，酒井薫，前田俊二，佐藤真一，対話的教示欠 陥選択に基づく効率的な実欠陥・虚報弁別技術の開発，第13回画像の認識・理解シンポジウム, IS1-71, MIRU2010,pp.528-534(2010.7)
  222. 尾崎 晋作, 和田 俊和, 前田 俊二, 渋谷 久恵，Whiteningと線形予測を用いた人為的操作を伴うプラントの異常検出，パターン認識・メディア理解研究会(PRMU),pp.275-279 (2010.3)
  223. 高宮 隆弘, 和田 俊和, 前田 俊二, 渋谷 久恵，ユーザの選好を反映した特徴変換，パターン認識・メディア理解研究会(PRMU),pp.425-430(2010.3)
  224. 前田 俊二, 渋谷 久恵，部分空間法に基づく残差ベクトル軌跡による異常検知手法の検討，精密工学会2010年度春季大会,D74,pp329-330(2010.3)
  225. 菊地 啓, 近藤 和樹, 堀田 政二, 渋谷 久恵, 前田 俊二，センサモデルと投票に基づく異常検知，情報処理学会創立50周年記念（第72回）全国大会, 3E-2,pp.2-119 – 2-120 (2010.3)
  226. 渋谷 久恵, 前田 俊二，クラスタリングと部分空間法による異常検知手法，電気学会一般産業研究会GID-09-16, pp.83-88 (2009.12)
  227. 近藤 正一, 高氏 秀則, 渋谷 久恵, 前田 俊二, 吉田 実, 中川 泰夫, 金子 俊一，不均衡点群データを対象としたロバスト点群照合，ViEW2009ビジョン技術の実利用ワークショップ講演論文集, I-41, pp.300-305(2009.12)
  228. 前田 俊二, 渋谷 久恵，多次元時系列センシングデータを対象とした部分空間法による設備異常検知の検討，精密工学会2009年度秋季大会, I39,pp651-652(2009.9)
  229. 近藤 和樹, 菊地 啓, 堀田 政二, 渋谷 久恵, 前田 俊二，センサモデルと投票に基づく発電機の異常検知の検討，第8回情報科学技術フォーラム(2009.9)
  230. 高宮 隆弘, 小倉 将義, 和田 俊和, 前田 俊二, 酒井 薫，カーネル弁別特徴変換に関する研究，第12回画像の認識・理解シンポジウム, IS1-9, MIRU2009(2009.7)
  231. 淺海 徹哉, 和田 俊和, 酒井 薫, 前田 俊二，自己参照に基づくパターン欠陥検査法，第12回画像の認識・理解シンポジウム, IS3-5, MIRU2009(2009.7)
  232. 近藤 正一, 高氏 秀則, 渋谷 久恵, 前田 俊二, 吉田 実, 中川 泰夫, 金子 俊一，点数不均衡な二次元点群照合のためのパラメータ適応型LCPD，第15回画像センシングシンポジウム, IS3-14, SSII2009,pp. IS3-14-1 – IS3-14-6(2009.6)
  233. 淺海 徹哉, 和田 俊和, 酒井 薫, 前田 俊二，自己参照に基づくパターン欠陥検査法，パターン認識・メディア理解研究会(PRMU)pp.287-292 (2009.3)
  234. 菊池 啓, 近藤 和樹, 堀田 政二, 渋谷 久恵, 前田 俊二，未知欠陥の分類における閾値の決定に関する基礎検討，2009年 電子情報通信学会 総合大会講演論文集(2009.3)
  235. 近藤 和樹, 菊池 啓, 堀田 政二, 渋谷 久恵, 前田 俊二，未知欠陥の分類に有効な特徴量選択手法の基礎検討，2009年 電子情報通信学会 総合大会講演論文集(2009.3)
  236. 渋谷 久恵, 前田 俊二, 堀田 政二，フレキシブルナイブベイズと特徴選択による欠陥分類，ViEW2008ビジョン技術の実利用ワークショップ講演論文集, C-40, pp.204-208(2008.12)
  237. 近藤 正一, 金子 俊一, 高氏 秀則, 前田 俊二, 渋谷 久恵, 吉田 実, 中川 泰夫，局所一貫性に基づく点群照合の位置・スケール変化を含む点群への応用，精密工学会, 第13回知能メカトロニクスワークショップ(2008.9)
  238. 近藤 正一, 金子 俊一, 高氏 秀則, 前田 俊二, 渋谷 久恵, 吉田 実, 中川 泰夫，局所一貫性に基づく点群照合法，映像情報メディア学会技術報告, Vol.32, No.35(ME2008 107-138), pp.75-78 (2008.8)
  239. 中川 泰夫, 前田 俊二，外観検査の課題と進化，電気学会電子･情報･システム部門大会講演論文集(CD-ROM), Vol.2008, TC3-2(2008.8)
  240. 堀田 政二, 菊地 啓, 近藤 和樹, 渋谷 久恵, 前田 俊二，特徴選択とベイズ決定則を利用した欠陥分類，電気学会情報処理研究会資料, Vol.IP-08, No.13-25, pp.1-4(2008.7)
  241. 堀田 政二, 菊地 啓, 近藤 和樹, 渋谷 久恵, 前田 俊二，特徴選択とベイズ決定則を利用した欠陥分類，電気学会情報処理・産業システム情報化合同研究会(2008.7)
  242. 淺海 徹哉, 加藤 丈和, 和田 俊和, 酒井 薫, 前田 俊二，顕著性に基づく外観検査のための異常検出アルゴリズム，第11回画像の認識・理解シンポジウム, IS5-2, MIRU2008(2008.7)
  243. 佐野 真通, 加藤 丈和, 和田 俊和, 酒井 薫, 前田 俊二，パターンの近接性と密度推定に基づく1クラス識別器，第11回画像の認識・理解シンポジウム, IS3-6, MIRU2008(2008.7)
  244. 浦野 貴裕, 金子 俊一, 高氏 秀則, 田中 孝之, 前田 俊二, 渋谷 久恵, 吉田 実，欠陥種を考慮に入れた局所一貫性に基づく欠陥パタン照合法とその応用，電気学会情報処理研究会資料, Vol.IP-08, No.1-12, pp.39-44(2008.2)
  245. 菊地 啓, 近藤 和樹, 堀田 政二, 渋谷 久恵, 前田 俊二，多段階学習を利用したクラス不均衡な欠陥分類，View2007ビジョン技術の実利用ワークショップ講演論文集, I-28, pp. 177-182(2007.12)
  246. 近藤 和樹, 菊地 啓, 堀田 政二, 渋谷 久恵, 前田 俊二，ランダム特徴選択とアンサンブル学習を利用した欠陥分類，View2007ビジョン技術の実利用ワークショップ講演論文集, I-27(A-5H), pp.24-29(2007.12)
  247. 浦野 貴裕, 金子 俊一, 高氏 秀則, 田中 孝之, 前田 俊二, 渋谷 久恵, 吉田 実，Color LCPDに基づく欠陥点群照合法，View2007ビジョン技術の実利用ワークショップ講演論文集, I-21, pp.167-172(2007.12)
  248. 浦野 貴裕, 金子 俊一, 高氏 秀則, 田中 孝之, 前田 俊二, 渋谷 久恵, 吉田 実，局所一貫性による点群の回転照合法と欠陥パタン照合への応用，精密工学会画像応用技術専門委員会 研究会報告, Vol.22, No.1, pp.17-22(2007.7)
  249. 加藤 丈和, 野口 真身, 和田 俊和, 酒井 薫, 前田 俊二，パターンの近接性に基づく1クラス識別器，第10回画像の認識・理解シンポジウム, MIRU2007, IS-2-10,pp.762-767(2007.7)
  250. 浦野 貴裕, 金子 俊一, 高氏 秀則, 田中 孝之, 前田 俊二, 渋谷 久恵, 吉田 実，欠陥種を考慮に入れた局所整合性に基づく点群照合法，第13回画像センシングシンポジウム, IN2-02, SSII2007 (2007.6)
  251. 浦野 貴裕, 金子 俊一, 高氏 秀則, 田中 孝之, 前田 俊二, 渋谷 久恵, 吉田 実，LCPDに基づく点群位置決め法と欠陥点群照合への応用，ViEW2006ビジョン技術の実利用ワークショップ講演論文集, A-4H, pp.20-25(2006.12)
  252. 浦野 貴裕, 金子 俊一, 高氏 秀則, 田中 孝之, 前田 俊二, 渋谷 久恵, 吉田 実，LCPDによる欠陥点群照合のためのロバスト位置決め法，計測自動制御学会 第7回システムインテグレーション部門講演会, SI-SICE, pp.1332-1333(2006.12)
  253. 酒井 薫, 前田 俊二，特徴空間の再帰的分割に基づく半導体欠陥検査手法，電子情報通信学会技術研究報告, Vol.106, No.229(PRMU2006 60-76),pp.65-72 (2006.9)
  254. 浦野 貴裕, 金子 俊一, 田中 孝之, 前田 俊二, 渋谷 久恵, 吉田 実，近傍整合性の累積評価に基づく回転照合法と欠陥点群分布照合への応用，電気学会情報処理研究会, Vol.IP-06-28,IIS-06-44, No.20-25.27-28, pp.41-44(2006.8)
  255. 酒井 薫, 前田 俊二，複数パターン情報を利用した統計的はずれ値検出による微小欠陥の認識手法，電子情報通信学会技術研究報告, Vol.105, No.673(PRMU2005 233-258), pp.1-6(2006.3)
  256. 竹田 健祐, 金子 俊一, 田中 孝之, 酒井 薫, 前田 俊二, 中川 泰夫，内挿型絶対差分照合法を用いたLSIウェハ欠陥抽出，ViEW2005ビジョン技術の実利用ワークショップ講演論文集, A-5H, pp.20-25(2005.12)
  257. 酒井 薫, 前田 俊二，統計パターン比較と特徴的はずれ値検出による微小欠陥の認識手法，電子情報通信学会技術研究報告, Vol.105, No.301(PRMU2005 51-62), pp.11-16(2005.9)
  258. 竹田 健祐, 金子 俊一, 田中 孝之, 酒井 薫, 前田 俊二, 中川 泰夫，内挿型絶対差分照合に基づくロバストなサブピクセル画像照合法，映像情報メディア学会技術報告, Vol.29, No.47(ME2005 125-139), pp.31-34(2005.8)
  259. 浜松 玲, 渋谷 久恵, 西山 英利, 大 島良正, 前田 俊二 , 野口 稔，背景別統計的しきい値法を用いた半導体ウェハ検査技術，ViEW2004ビジョン技術の実利用ワークショップ講演論文集, 11, pp.1-5(2004.12)
  260. 竹田 健祐, 金子 俊一, 田中 孝之, 酒井 薫, 前田 俊二, 中川 泰夫，内挿型増分符号相関に基づくロバストなサブピクセル画像照合法，ViEW2004ビジョン技術の実利用ワークショップ講演論文集, 21, pp.16-21(2004.12)
  261. 竹田 健祐, 金子 俊一, 田中 孝之, 酒井 薫, 前田 俊二, 中川 泰夫，増分符号相関を用いたサブピクセル単位での位置照合，精密工学会北海道支部大会講演論文集, pp.41-42(2004.9)
  262. 岡部 隆史, 前田 俊二, 酒井 薫，画像位置合せの信頼性評価技術，第14回外観検査の自動化ワークショップ講演論文集, 61, pp.166-171(2002.12)
  263. 芝田 行広, 前田 俊二，光学顕微鏡における像コントラスト向上に関する検討，精密工学会大会学術講演会講演論文集, Vol.2002, 秋季, pp.558(2002.9)
  264. 酒井 薫, 前田 俊二, 岡部 隆史，複数の正規化相関マップを用いたロバストな画像マッチング，第13回外観検査の自動化ワークショップ論文集, 42, pp.65-70(2001.12)
  265. 【執筆支援】 中川泰夫、外観検査技術の進展、電気学会論文誌C、121巻、5号(2001.5)
  266. 芝田 行広, 前田 俊二，光学顕微鏡における焦点検出方式の検討，精密工学会大会学術講演会講演論文集, Vol.2001, 春季, pp.611(2001.3)
  267. 【執筆支援】 中川泰夫、世紀末の外観検査、第11回外観検査の自動化ワークショップ、pp.89-94(1999.12)
  268. 吉田 実, 前田 俊二, 岡健 次, 牧平 坦，画像解析によるスキャニングステージの高精度測定技術，精密工学会大会学術講演会講演論文集, Vol.1997, 秋季, pp.265(1997.9)
  269. 小野 眞, 前田 俊二, 窪田 仁志, 中谷 光雄，赤外線画像を用いた発熱追跡によるTFT基板ショート欠陥検出 TFT基板ショート欠陥検出技術 (1)，精密工学会大会学術講演会講演論文集, Vol.1994, 春季, pp.39-40(1994.3)
  270. 前田 俊二, 小野 真, 窪田 仁志, 中谷 光雄，赤外線画像マッチングによるTFT基板の高精度ショート欠陥位置検出 TFT基板ショート欠陥検出技術 (2)，精密工学会大会学術講演会講演論文集, Vol.1994, 春季, pp.41-42(1994.3)
  271. 広井 高志, 前田 俊二, 窪田 仁志, 牧平 坦，最小二乗法を用いたサブピクセルマッチング法，電子情報通信学会大会講演論文集, Vol.1993, 春季, D-89, pp.6.89(1993.3)
  272. 前田 俊二, 牧平 坦, 窪田 仁志，ストライプパターン投影コントラスト検出方式によるオートフォーカスの開発，精密工学会大会学術講演会講演論文集, Vol.1993, 春季, pp.977-978(1993.3)
  273. 前田 俊二, 窪田 仁志, 広井 高志, 牧平 坦，LSIウェーハ多層パターン自動外観検査における高精度欠陥検出アルゴリズム，電子情報通信学会大会講演論文集, Vol.1993, 春季,D-527, pp.7.288(1993.3)
  274. 窪田 仁志, 前田 俊二, 牧平 坦, 広井 高志，LSIウェーハパターン検査装置の開発 (第2報) システム構成と性能，精密工学会大会学術講演会講演論文集, Vol.1993, 春季, L09, pp.431-432(1993.3)
  275. 窪田 仁志, 前田 俊二, 広井 高志, 牧平 坦，LSIウェーハパターン検査装置の開発 (第1報) 検査原理，精密工学会大会学術講演会講演論文集, Vol.1993, 春季, L08, pp.429-430(1993.3)
  276. Shunji Maeda, Takashi Hiroi, Hiroshi Makihira, Hitoshi Kubota , Automated Visual Inspection of LSI Wafer Patterns Using a Derivative-Polarity Comparison Algorithm,  SPIE, Vol.1567 Applications of Digital Image Processing XIV, pp.100-109(1991.7)(査読なし)
  277. 前田 俊二, 窪田 仁志, 広井 高志, 牧平 坦，微分極性比較によるLSIウェーハパターン自動外観検査，電子情報通信学会全国大会講演論文集, Vol.1991, 春季, D-470, pp.7.182(1991.3)
  278. 谷口 雄三, 斎藤 幹人 , 窪田 仁志, 前田 俊二, 依田 晴夫，LSIウエーハ自動外観検査技術 (第1報) システム構成と欠陥検出性能，精密工学会大会学術講演会講演論文集, Vol.1990, 秋季, A64, pp.953-954(1990.9)
  279. 窪田 仁志, 前田 俊二, 牧平 坦, 谷口 雄三，LSI多層パターンを対象としたサブミクロン欠陥検査の研究，精密工学会関西地方定期学術講演会論文集, 221, pp.115-120(1990)
  280. 前田 俊二, 窪田 仁志, 遠藤 文昭，濃淡画像の比較検査における数値解析的しきい値設定，電子情報通信学会技術研究報告, Vol.90, No.168(IE90-29), IE90-29,pp.1-8(1990.7)
  281. 前田 俊二, 窪田 仁志，LSIウエーハパターン自動外観検査におけるしきい値最適化の試み エッジ保存グレインノイズスムージングアルゴリズム，電子情報通信学会技術研究報告, Vol.89, No.438(IE89-93),IE-89-93,pp.7-14(1990.2)
  282. 前田 俊二, 窪田 仁志, 牧平 担, 二宮 隆典, 中川 泰夫，カスケードパターンマッチングによるLSIウエハ多層パターン自動外観検査，電子情報通信学会技術研究報告, Vol.87, No.132, pp.31-38(IE87-46)(1987.7)
  283. 前田 俊二, 金田 修身，テレビ画像の色相計測，昭和58年電気関係学会東北支部連合大会,1H2(1983.8)
  284. 前田 俊二, 戸塚 範敬, 河合 信雄，テレビ画質計測方法の検討，昭和58年電気学会総合全国大会, 1190, pp.5.61(1983.4)
  285. 前田 俊二, 浅野 敏郎, 戸塚 範敬，動的p-タイル法を用いた電子部品のリード認識，第21回SICE学術講演会, 2506, pp.373(1982.7)
  286. 浅野敏郎, 前田 俊二, 川原田政幸, 有賀 誠，プログラマブル画像入力装置(PPI)，昭和56年電気学会東京支部大会,330, pp.441(1981.11)
  287. 前田 俊二, 浅野 敏郎, 戸塚 範敬，電子部品のリード認識(第二報)，昭和56年電気学会東京支部大会,329, pp.440(1981.11)

教育上の功績

  1. 北海道大学　大学院　情報科学研究科 「システム展開情報学特論」平成22年4月〜25年3月
  2. 教育ネットワーク中国　高大連携事業　公開講座「ビッグなAI(人工知能)に繋がる小さなIC(マイクロチップ)の世界、ICからAIへ：センシングと産業応用」平成29年8月4日
  3. 教育ネットワーク中国　高大連携事業　公開講座「集積回路のしくみ（集積回路を用いたセンシングと産業応用）」平成28年8月5日
  4. 広島工業大学公開講座「ビッグデータを用いたスマートメンテナンスの世界」平成26年6月7日
  5. 日立製作所　技術研修所　客員講師　「生産設備の基本要素と応用事例」内の「FAの画像処理技術」を担当．平成10年以降　平成29年まで継続
  6. 日立製作所　技術研修所　客員講師　「画像処理の基礎と応用」を担当．平成18年〜平成25年

著書

  • 機械学習・ディープラーニングによる異常検知技術と活用事例集 (担当:共著, 範囲:第１章第２節 時系列データを対象とした異常検知への応用としての数理)、技術情報協会 2022年12月 (ISBN: 9784861049132)
  • 機械学習を中心とした異常検知技術と応用提案、第７章　現場課題解決に向けた提案及び導入活用例、第２節　社会インフラ・工場設備の異常診断の課題と対応～外観検査と対比して、情報機構、pp.95-108(2019年11月26日)　(ISBN: 9784865021790)

解説記事

  1. 前田 俊二, 谷口 哲至, 小松 尭, 青戸 勇太, 外田 脩, 情報量を用いた新たな設備状態評価手法の開発, 明電時報, Vol.381 No.4(2023.10)
  2. 渋谷 久恵, 前田 俊二，局所部分空間法に基づく異常予兆検知技術，日立返仁会(2013.11)
  3. 酒井 薫, 前田 俊二, 岡部 隆史，散布図情報を用いたLSIウェーハ薄膜多層パターンの比較検査手法，画像ラボ, Vol.17, No.2, pp.15-19(2006.2)
  4. Kenji Watanabe, Shunji Maeda, Tomohiro Funakoshi, Yoko Miyazaki , DUV Optical Wafer Inspection System for 65-nm Technology Node, Hitachi Review, Vol.54, No.1(2005.1)
  5. 芝田 行広, 前田 俊二，外観検査技術 光学式半導体外観検査における光学技術，光技術コンタクト, Vol.42, No.11, pp.574-582(2004.11)
  6. 渡辺 健二, 船越 知弘, 前田 俊二, 宮崎 陽子，65nmノード対応高性能明視野光学式ウェーハ外観検査装置「HA-3000形」，日立評論, Vol.86, No.7, pp.477-480(2004.7)
  7. 芝 正孝, 見坊 行雄, 前田 俊二, 窪田 仁志, 平塚 信次，サブクォータミクロンデバイスに対応する半導体製造･検査システム 半導体ウェーハ外観不良検査の効果的運用，日立評論, Vol.79, No.10, pp.809-814(1997.10)
  8. 金井 務, 渡辺 健二 , 窪田 仁志, 前田 俊二, 広井 高志, 野村 敬三，超高感度LSIパターン検査装置の開発，機械振興, Vol.28, No.12, pp.68-71(1995.12)

講演・講師

  1. 古賀 勇、木村 藍貴、前田 俊二 、谷口哲至、異常検知への多様体学習の誘い、精密工学会画像応用技術専門委員会、定例研究会、2024年1月19日
  2. 前田 俊二, 松本慎平, 小松 尭, 谷口 哲至, 時系列データを対象とした異常検知への応用としての数理, 技術情報協会(2021.11)
  3. 前田 俊二，類似性に基づく生産設備の異常検知・風速予測・弾丸の異同識別の研究, 北海道大学情報科学研究科技術講演会(2016.9.7)
  4. 前田 俊二，工場自動化の画像処理技術, 日立総合技術研修所 第44回グローバル化に対応した新時代の生産設備・システム技術(2016.8)
  5. 前田 俊二，製造業におけるビッグデータ活用　〜時系列データから生産設備の異常を検知〜、日本産業機械工業会関西支部 環境装置部会(2016.7)
  6. 前田 俊二，工場自動化の画像処理技術, 日立総合技術研修所 第43回グローバル化に対応した新時代の生産設備・システム技術(2015.8)
  7. 前田 俊二，視て・診て・読んで、現場を支えるビッグデータ -スマートメンテナンスを中心に- ，広島工業大学主催 企業懇談会講演(2014.11)
  8. 前田 俊二，ビッグデータを用いたスマートメンテナンスの世界，日本鉄鋼協会　第90回設備技術部会大会(2014.6)
  9. 前田 俊二，FAの画像処理技術, 日立総合技術研修所 第42回 グローバル化に対応した新時代の生産設備・システム技術(2014.6)
  10. 前田 俊二，FAの画像処理技術, 日立総合技術研修所 第41回生産設備の基本要素と応用事例講座(2013.6)
  11. 前田 俊二，画像処理応用概論, 日立総合技術研修所 第14回画像処理の基礎と応用講座(2013.5)
  12. 前田 俊二，マシンビジョン・パタン認識による半導体欠陥検査・設備異常予兆検知，：北海道大学情報科学研究科システム制御情報学研究室主催技術講演会(2012.12)
  13. 前田 俊二，半導体パターン欠陥認識技術の動向，精密工学会中国四国支部講習会,pp1-11(2008)
  14. 前田 俊二，マシンビジョン応用研究の歴史と最近の事例，広島県画像処理活用研究会(2008)
  15. 前田 俊二，早稲田大学　理工学部　講義「生産プロセス工学」（検査・計測）2006年11月

国内特許

  • 計334件
  • 広井 高志,窪田 仁志,前田 俊二,牧平 坦,岡 健次 パターン欠陥検出方法とその装置 特許番号: 特許3300791(発行日: 2002年07月08日)
  • 浦野雄太,酒井薫,前田俊二 欠陥検査装置およびその方法 特許番号: 特許4876019(発行日: 2012年02月15日)
  • 酒井 薫,前田 俊二,丸山 重信 外観検査方法及びその装置 特許番号: 特許5676387(発行日: 2015年02月25日)
  • 渋谷 久恵,前田 俊二 設備状態監視方法およびその装置 特許番号: 特許5301717(発行日: 2013年09月25日)
  • 前田 俊二,吉田 敦志,岡 健次,吉田 実,芝田 行広,山口 和夫 パターンの欠陥検査方法およびその装置 特許番号: 特許3878340(発行日: 2007年02月07日)
  • 前田 俊二,窪田 仁志 半導体装置の製造システム及び半導体装置の製造方法 特許番号: 特許3047881(発行日: 2000年06月05日)
  • 広井 高志,窪田 仁志,前田 俊二,牧平 坦,遠藤 文昭 パターン認識方法 特許番号: 特許2675167(発行日: 1997年11月12日)
  • 前田 俊二,渋谷 久恵 異常検知方法及びそのシステム 特許番号: 特許5778305(発行日: 2015年09月16日)
  • 酒井 薫,前田 俊二 パターン検査方法及びその装置 特許番号: 特許5028014(発行日: 2012年09月19日)
  • 宍戸 千絵,広井 高志,依田 晴夫,渡辺 正浩,久邇 朝宏,田中 麻紀,二宮 隆典,土井 秀明,前田 俊二,野副 真理,品田 博之,高藤 敦子,杉本 有俊,宇佐見 康継 パターン検査方法およびその装置 特許番号: 特許3484042(発行日: 2004年01月06日)
  • 高木 裕治,宍戸 千絵,前田 俊二,広井 高志,田中 麻紀,久邇 朝宏,東 淳三,松山 幸雄 外観検査方法及びその装置 特許番号: 特許4016472(発行日: 2007年12月05日)
  • 前田 俊二,岡 健次,芝田 行広,吉田 実,宍戸 千絵,高木 裕治 欠陥検査方法および装置 特許番号: 特許4024381(発行日: 2007年12月19日)
  • 酒井 薫,前田 俊二 パターン検査方法 特許番号: 特許4664327(発行日: 2011年04月06日)
  • 吉田 敦志,前田 俊二,岡部 隆史,水本 久志,磯部 光庸 微細欠陥検査装置およびその方法 特許番号: 特許3604956(発行日: 2004年12月22日)
  • 吉田 実,岡 健次,前田 俊二,窪田 仁志,中山 保彦 ステージ検査装置及びその方法 特許番号: 特許3267131(発行日: 2002年03月18日)
  • 前田　俊二,小泉　光義 多層回路パターン検査装置 特許番号: 特許1661498(公開日: 1985年07月03日)
  • 前田 俊二,窪田 仁志 半導体デバイスの製造方法 特許番号: 特許3201396(発行日: 2001年08月20日)
  • 前田 俊二,牧平 坦,窪田 仁志 半導体ウエハ上の被検査パターンの欠陥検査方法およびその装置 特許番号: 特許1933069(公告日: 1994年08月03日)
  • 浜松 玲,大島 良正,前田 俊二,渋谷 久恵,浦野 雄太,中尾 敏之,丸山 重信 基板表面の検査方法及び検査装置 特許番号: 特許5624714(発行日: 2014年11月12日)
  • 酒井 薫,前田 俊二,西山 英利 パターン検査方法及びその装置 特許番号: 特許5011348(発行日: 2012年08月29日)
  • 広井 高志,前田 俊二,牧平 坦,窪田 仁志 欠陥検出装置及びその方法 特許番号: 特許3182517(発行日: 2001年07月03日)
  • 宇都 幸雄,吉田 実,中田 俊彦,前田 俊二 パターン欠陥検査方法及びその装置 特許番号: 特許3752935(発行日: 2006年03月08日)
  • 前田 俊二,窪田 仁志 欠け検査装置 特許番号: 特許2006636(公告日: 1995年05月15日)
  • 松山　幸雄,岡本　啓一,仲畑　光蔵,前田　俊二,岩田　尚史 回路パターン検査装置 特許番号: 特許1806367(公開日: 1986年08月08日)
  • 広井 高志,窪田 仁志,前田 俊二,牧平 坦,磯部 光庸 パターン欠陥検査方法および装置 特許番号: 特許3186174(発行日: 2001年07月11日)
  • 浦野 雄太,浜松 玲,前田 俊二 欠陥検査方法およびその装置 特許番号: 特許5581343(発行日: 2014年08月27日)
  • 前田 俊二,渋谷 久恵,真柄 博幸 異常検知・診断方法、異常検知・診断システム、及び異常検知・診断プログラム 特許番号: 特許5439265(発行日: 2014年03月12日)
  • 浦野雄太,酒井薫,前田俊二 欠陥検査方法および欠陥検査装置 特許番号: 特許5452571(発行日: 2014年03月26日)
  • 前田 俊二,窪田 仁志,広井 高志,牧平 坦 半導体デバイスの製造方法 特許番号: 特許3472600(発行日: 2003年12月02日)
  • 渋谷 久恵,前田 俊二 異常検知方法及びその装置 特許番号: 特許5342708(発行日: 2013年11月13日)
  • 福西 宗憲,渋谷 久恵,高木 裕治,宍戸 千絵,前田 俊二 半導体デバイスのパターン形状評価方法及びその装置 特許番号: 特許4778685(発行日: 2011年09月21日)
  • 酒井 薫,前田 俊二 欠陥検査装置及びその方法 特許番号: 特許5641463(発行日: 2014年12月17日)
  • 下田 篤,渡辺 正浩,前田 俊二,後藤 博史,鈴木 忠 欠陥検査方法及びその装置並びに撮像方法及びその装置 特許番号: 特許3903889(発行日: 2007年04月11日)
  • 前田 俊二,広井 高志,牧平 坦,窪田 仁志 パターン検査方法及び装置 特許番号: 特許3221861(発行日: 2001年10月22日)
  • 浜松 玲,渋谷 久恵,前田 俊二 検査装置 特許番号: 特許4402004(発行日: 2010年01月20日)
  • 前田 俊二,二宮 隆典,中川 泰夫,窪田 仁志 多層パターン欠陥検出方法及びその装置 特許番号: 特許1933048(公告日: 1994年07月27日)
  • 遠藤 文昭,前田 俊二,窪田 仁志 パターン欠陥検出方法とその装置 特許番号: 特許2981434(発行日: 1999年11月22日)
  • 岡部 隆史,前田 俊二,酒井 薫 検査装置および検査システム 特許番号: 特許3904419(発行日: 2007年04月11日)
  • 前田　俊二 白色むら検査装置 特許番号: 特許1759414(公開日: 1985年06月14日)
  • 渋谷 久恵,前田 俊二 設備状態監視方法およびその装置 特許番号: 特許6076421(発行日: 2017年02月08日)
  • 前田 俊二,窪田 仁志,広井 高志,吉武 康裕,牧平 坦 パターン検査装置及び方法 特許番号: 特許3346032(発行日: 2002年11月18日)
  • 前田 俊二,窪田 仁志,伏見 智,牧平 坦,中川 泰夫 パタ−ン欠陥検出方法およびその装置 特許番号: 特許1898429(公告日: 1994年03月30日)
  • 中川　泰夫,小泉　光義,窪田　仁志,前田　俊二,伏見　智 微細パタ−ンの欠陥検出方法及びその装置 特許番号: 特許1751419(公開日: 1986年02月10日)
  • 中山 保彦,前田 俊二,吉田 実,窪田 仁志,岡 健次 パターン検査装置とその方法 特許番号: 特許3329105(発行日: 2002年09月30日)
  • 酒井 薫,前田 俊二,岡部 隆史 比較検査における画像の位置合せ方法、比較検査方法及び比較検査装置 特許番号: 特許3927353(発行日: 2007年06月06日)
  • 前田 俊二,広井 高志,窪田 仁志,牧平 坦 回路パターン欠陥検出方法及びその装置 特許番号: 特許2986824(発行日: 1999年12月06日)
  • 廣瀬 丈師,野口 稔,二宮 隆典,見坊 行雄,前田 俊二,土山 洋史 薄膜の膜厚計測方法及びその装置並びにそれを用いた薄膜デバイスの製造方法及びその製造装置 特許番号: 特許4460659(発行日: 2010年05月12日)
  • 松本 俊一,野口 稔,前田 俊二,岡 健次,渡辺 健二 半導体基板の製造方法 特許番号: 特許4073088(発行日: 2008年04月09日)
  • 前田 俊二,牧平 坦,窪田 仁志 自動焦点合せ方法及び装置 特許番号: 特許1886049(公告日: 1994年02月09日)
  • 浦野 貴裕,本田 敏文,前田 俊二 欠陥検査方法および欠陥検査装置 特許番号: 特許5417306(発行日: 2014年02月12日)
  • 下田 篤,宇都 幸雄,吉田 実,前田 俊二,中田 俊彦 欠陥検査装置および欠陥検査方法 特許番号: 特許3630624(発行日: 2005年03月16日)
  • 渋谷 久恵,前田 俊二 設備状態監視方法およびその装置 特許番号: 特許5431235(発行日: 2014年03月05日)
  • 吉田 実,宇都 幸雄,前田 俊二,中田 俊彦 パターン欠陥検出方法およびその装置 特許番号: 特許3729156(発行日: 2005年12月21日)
  • 前田 俊二,窪田 仁志,牧平 坦,広井 高志 欠陥検査方法及び装置 特許番号: 特許3189796(発行日: 2001年07月16日)
  • 渋谷 久恵,前田 俊二,浜松 玲 欠陥分類方法及びその装置 特許番号: 特許5022174(発行日: 2012年09月12日)
  • 前田 俊二,渋谷 久恵 異常検知方法及びシステム 特許番号: 特許5048625(発行日: 2012年10月17日)
  • 前田 俊二,牧平 坦,窪田 仁志 自動焦点合わせ方法 特許番号: 特許1886094(公告日: 1994年02月09日)
  • 前田 俊二,中山 保彦,吉田 実,岡 健次,窪田 仁志 パターンの欠陥検査方法およびその装置 特許番号: 特許3976775(発行日: 2007年09月19日)
  • 広井 高志,前田 俊二,牧平 坦,窪田 仁志 欠陥検出方法 特許番号: 特許2926118(発行日: 1999年07月28日)
  • 谷口 敦史,上野 剛渡,芝田 行広,前田 俊二,松井 哲也 暗視野欠陥検査方法及び暗視野欠陥検査装置 特許番号: 特許5406677(発行日: 2014年02月05日)
  • 田中 麻紀,前田 俊二,野口 稔,岡部 隆史,高木 裕治,宍戸 千絵 半導体装置の製造方法及び欠陥検査データ処理方法 特許番号: 特許3870052(発行日: 2007年01月17日)
  • 芝田 行広,前田 俊二 光学式検査装置及びその方法 特許番号: 特許4723362(発行日: 2011年07月13日)
  • 中山 保彦,前田 俊二,吉田 実,窪田 仁志,岡 健次,牧平 担 パターン検査装置の検査性能評価方法及びそのための装置 特許番号: 特許3732560(発行日: 2006年01月05日)
  • 前田 俊二,窪田 仁志 半導体デバイスの製造方法 特許番号: 特許3271622(発行日: 2002年04月02日)
  • 芝田 行広,前田 俊二,吉田 実,中田 俊彦,宍戸 弘明,宇都 幸雄 光学像検出方法および外観検査装置 特許番号: 特許4184543(発行日: 2008年11月19日)
  • 前田 俊二,窪田 仁志,牧平 坦,伏見 智 パタ−ン欠陥検出方法及びその装置 特許番号: 特許1895187(公告日: 1994年03月09日)
  • 宇都 幸雄,吉田 実,中田 俊彦,前田 俊二 パターン欠陥検査方法及びその装置 特許番号: 特許3729154(発行日: 2005年12月21日)
  • 伏見　智,窪田　仁志,牧平　坦,前田　俊二,仲畑　光蔵 被検査対象パターンの画像信号感度補正装置 特許番号: 特許1861942(公開日: 1987年01月28日)
  • 芝田 行広,前田 俊二,渡辺 正浩 欠陥検査方法及びその装置 特許番号: 特許3878107(発行日: 2007年02月07日)
  • 前田 俊二,牧平 坦,窪田 仁志 パターン欠陥検査方法およびその装置 特許番号: 特許3327600(発行日: 2002年09月24日)
  • 前田　俊二,浅野　敏郎 円形端面の位置検出装置 特許番号: 特許1568746(公開日: 1983年08月03日)
  • 前田 俊二,窪田 仁志,牧平 坦,広井 高志 パターン検査方法及び装置 特許番号: 特許3257010(発行日: 2002年02月18日)
  • 酒井 薫,前田 俊二,西山 英利 パターン検査方法及びその装置 特許番号: 特許4357355(発行日: 2009年11月04日)
  • 前田 俊二,酒井 薫,西山 英利 欠陥検査方法及びその装置 特許番号: 特許5275017(発行日: 2013年08月28日)
  • 芝田 行広,前田 俊二 欠陥検査装置 特許番号: 特許5281741(発行日: 2013年09月04日)
  • 酒井 薫,前田 俊二,岡部 隆史,後藤 博史,桑原 雅之,竹内 直哉 パターン検査方法及びパターン検査装置 特許番号: 特許4275345(発行日: 2009年06月10日)
  • 野副 真理,品田 博之,杉山 勝也,高藤 敦子,広井 高志,吉村 和士,杉本 有俊,依田 晴夫,黒田 勝廣,宇佐見 康継,田中 麻紀,金子 豊,遠山 博,伊野 忠雄,矢島 裕介,安藤 公明,前田 俊二,窪田 仁志 回路パターンの検査方法及び検査装置 特許番号: 特許3791095(発行日: 2006年06月28日)
  • 中野 博之,浜松 玲,宇都 幸雄,大島 良正,西山 英利,浦野 雄太,前田 俊二 欠陥検査装置およびその方法 特許番号: 特許4996856(発行日: 2012年08月08日)
  • 前田 俊二,渋谷 久恵 異常検知方法及びシステム 特許番号: 特許5498540(発行日: 2014年05月21日)
  • 前田 俊二,中山 保彦,吉田 実,岡 健次,窪田 仁志 パターンの欠陥検査方法およびその装置 特許番号: 特許3936959(発行日: 2007年06月27日)
  • 西山 英利,芝田 行広,前田 俊二,宇都 幸雄 パターン間の欠陥検査装置および方法 特許番号: 特許4637642(発行日: 2011年02月23日)
  • 渋谷 久恵,前田 俊二,浜松 玲 欠陥分類方法及びその装置並びに欠陥検査装置 特許番号: 特許4908995(発行日: 2012年04月04日)
  • 岡 健次,前田 俊二,吉田 実,芝田 行広,見坊 行雄 外観検査方法およびその装置 特許番号: 特許3409670(発行日: 2003年05月26日)
  • 前田 俊二,岡 健次,牧平 坦,中山 保彦,吉田 実,芝田 行広,宍戸 千絵 欠陥検査方法および装置 特許番号: 特許3397101(発行日: 2003年04月14日)
  • 遠藤 文昭,前田 俊二,窪田 仁志 パターン比較検査方法および装置 特許番号: 特許2647502(発行日: 1997年08月27日)
  • 前田 俊二,吉武 康裕,岡 健次,下田 篤,芝 正孝 検査データ処理方法およびその装置 特許番号: 特許3920003(発行日: 2007年05月30日)
  • 芝田 行広,前田 俊二,西山 英利 欠陥検査方法及びこれを用いた装置 特許番号: 特許4778755(発行日: 2011年09月21日)
  • 吉田 実,岡 健次,前田 俊二 パターン検査方法および装置 特許番号: 特許3610192(発行日: 2005年01月12日)
  • 前田 俊二,窪田 仁志,牧平 坦 多層パタ−ン欠陥検出方法及びその装置 特許番号: 特許2040345(公告日: 1995年08月09日)
  • 前田 俊二,窪田 仁志,牧平 坦,広井 高志 パターン検査方法及び装置 特許番号: 特許3163306(発行日: 2001年05月08日)
  • 渋谷 久恵,前田 俊二 外観検査方法及びその装置および画像処理評価システム 特許番号: 特許4616864(発行日: 2011年01月19日)
  • 浜松玲,渋谷久恵,前田俊二 欠陥検査方法およびその装置 特許番号: 特許5178079(発行日: 2013年04月10日)
  • 芝田 行広,前田 俊二 欠陥検査方法及びその装置 特許番号: 特許3938785(発行日: 2007年06月27日)
  • 宍戸 千絵,高木 裕治,前田 俊二,二宮 隆典,広井 高志,渡辺 正浩,土井 秀明 パターン検査方法およびその装置 特許番号: 特許4002655(発行日: 2007年11月07日)
  • 前田 俊二,小野 眞,窪田 仁志 薄膜トランジスタ液晶基板検査方法及びその装置 特許番号: 特許3252451(発行日: 2002年02月04日)
  • 遠藤 文昭,前田 俊二,窪田 仁志 断面形状測定法及び断面形状比較検査法並びにそれらの装置 特許番号: 特許2716997(発行日: 1998年02月18日)
  • 中野 博之,前田 俊二,中田 俊彦 欠陥検査装置 特許番号: 特許5466377(発行日: 2014年04月09日)
  • 吉田 実,前田 俊二,西山 英利 パターン欠陥検査装置 特許番号: 特許4260587(発行日: 2009年04月30日)
  • 広井 高志,窪田 仁志,前田 俊二,牧平 坦 パターン欠陥検出方法およびその装置 特許番号: 特許2796430(発行日: 1998年09月10日)
  • 前田 俊二,田中 麻紀,窪田 仁志 被検査パターンの検査方法及び製造プロセス診断方法並びに半導体基板の製造方法 特許番号: 特許3660763(発行日: 2005年06月15日)
  • 前田 俊二,渋谷 久恵,星野 直樹 発電量予測方法及びそのシステム 特許番号: 特許5797599(発行日: 2015年10月21日)
  • 広井 高志,窪田 仁志,前田 俊二,牧平 坦,磯部 光庸 パターン欠陥検査方法およびその装置 特許番号: 特許3405338(発行日: 2003年05月12日)
  • 浦野 雄太,本田 敏文,浜松 玲,前田 俊二 欠陥検査方法及び欠陥検査装置 特許番号: 特許5572293(発行日: 2014年08月13日)
  • 牧平 坦,前田 俊二,岡 健次,吉田 実,中山 保彦 撮像方法及び装置 特許番号: 特許3371764(発行日: 2003年01月27日)
  • 広井 高志,窪田 仁志,前田 俊二,牧平 担 欠陥検出装置 特許番号: 特許3262030(発行日: 2002年03月04日)
  • 芝田 行広,前田 俊二,牧平 坦,吉田 実,中山 保彦,岡 健次 検査方法およびその装置並びに半導体基板の製造方法 特許番号: 特許3808169(発行日: 2006年08月09日)
  • 前田　俊二,小泉　光義 異物検査装置 特許番号: 特許1768805(公開日: 1985年11月01日)
  • 野副 真理,品田 博之,杉山 勝也,高藤 敦子,広井 高志,吉村 和士,杉本 有俊,依田 晴夫,黒田 勝廣,宇佐見 康継,田中 麻紀,金子 豊,遠山 博,伊野 忠雄,矢島 裕介,安藤 公明,前田 俊二,窪田 仁志 回路パターンの検査方法及び検査装置 特許番号: 特許4274247(発行日: 2009年06月03日)
  • 谷口 敦史,酒井 薫,丸山 重信,前田 俊二 形状検査方法およびその装置 特許番号: 特許5913903(発行日: 2016年04月27日)
  • 芝田 行広,前田 俊二,山口 和夫,吉田 実,吉田 敦志,二宮 隆典,松井 繁,岡 健次,渡辺 健二 試料表面の観察方法及びその装置並びに欠陥検査方法及びその装置 特許番号: 特許3610837(発行日: 2005年01月19日)
  • 芝田 行広,前田 俊二,山口 和夫,吉田 実,吉田 敦志,二宮 隆典,松井 繁,岡 健次,渡辺 健二 欠陥検査方法及びその装置 特許番号: 特許3956942(発行日: 2007年08月08日)
  • 酒井 薫,前田 俊二,岡部 隆史 欠陥検査方法及びその装置 特許番号: 特許4013510(発行日: 2007年11月28日)
  • 前田 俊二,酒井 薫,西山 英利 欠陥検査方法及びその装置 特許番号: 特許5744965(発行日: 2015年07月08日)
  • 前田 俊二,中山 保彦,吉田 実,岡 健次,窪田 仁志 半導体基板の製造方法 特許番号: 特許3744966(発行日: 2006年02月15日)
  • 酒井 薫,前田 俊二,岡部 隆史 欠陥検査方法及びその装置 特許番号: 特許4101489(発行日: 2008年06月18日)
  • 前田 俊二,窪田 仁志,牧平 坦,広井 高志 パターン検査方法及び装置 特許番号: 特許2954381(発行日: 1999年09月27日)
  • 小野 眞,前田 俊二,窪田 仁志 薄膜トランジスタ基板の欠陥検出方法およびその修正方法 特許番号: 特許3229411(発行日: 2001年11月19日)
  • 奥田 浩人,高木 裕治,大島 良正,小野 眞,渡辺 正浩,前田 俊二,野口 稔 欠陥レビュー装置及び方法 特許番号: 特許4014379(発行日: 2007年11月28日)
  • 渋谷 久恵,前田 俊二,浜松 玲 欠陥分類方法及びその装置 特許番号: 特許5439543(発行日: 2014年03月12日)
  • 前田 俊二,渋谷 久恵 異常検知・診断方法、異常検知・診断システム、及び異常検知・診断プログラム 特許番号: 特許5363927(発行日: 2013年12月11日)
  • 前田 俊二,窪田 仁志,牧平 担,広井 高志 回路パターンの画像検出方法およびその装置 特許番号: 特許2886278(発行日: 1999年04月26日)
  • 前田 俊二,渋谷 久恵 異常検知方法及び異常検知システム 特許番号: 特許5538597(発行日: 2014年07月02日)
  • 前田 俊二,田中 麻紀,窪田 仁志 被検査パターンの欠陥検査方法および半導体製造プロセス評価方法 特許番号: 特許3625236(発行日: 2005年03月02日)
  • 川口 広志,前田 俊二 検査装置 特許番号: 特許4255808(発行日: 2009年04月15日)
  • 前田 俊二,渋谷 久恵 異常検知方法及び異常検知システム 特許番号: 特許5301310(発行日: 2013年09月25日)
  • 酒井 薫,前田 俊二 欠陥検査方法及びその装置 特許番号: 特許5174535(発行日: 2013年04月03日)
  • 前田 俊二,窪田 仁志 半導体装置の製造システム及び欠陥検査方法 特許番号: 特許2822937(発行日: 1998年11月11日)
  • 宇都 幸雄,中田 俊彦,吉田 実,前田 俊二 紫外レーザ光発生装置並びに欠陥検査装置およびその方法 特許番号: 特許3978307(発行日: 2007年09月19日)
  • 前田 俊二,酒井 薫,西山 英利 欠陥検査方法及びその装置 特許番号: 特許6031151(発行日: 2016年11月24日)
  • 酒井 薫,前田 俊二,岡部 隆史 パターン検査方法及びその装置 特許番号: 特許4185789(発行日: 2008年11月26日)
  • 酒井 薫,前田 俊二,岡部 隆史 欠陥検査方法及びその装置 特許番号: 特許4060558(発行日: 2008年03月12日)
  • 浦野 雄太,宇都 幸雄,前田 俊二,浜松 玲 欠陥検査方法及びその装置 特許番号: 特許4939843(発行日: 2012年05月30日)
  • 渋谷 久恵,前田 俊二 設備状態監視方法およびその装置 特許番号: 特許5945350(発行日: 2016年07月05日)
  • 野口 稔,中田 匡彦,鈴木 高彦,上野 剛渡,中田 俊彦,前田 俊二 合わせ精度計測装置及びその方法 特許番号: 特許3967935(発行日: 2007年08月29日)
  • 酒井 薫,前田 俊二,丸山 重信 検査方法 特許番号: 特許6040215(発行日: 2016年12月07日)
  • 渋谷 久恵,前田 俊二 異常診断方法およびその装置 特許番号: 特許6076751(発行日: 2017年02月08日)
  • 酒井 薫,前田 俊二 欠陥検査方法及びその装置 特許番号: 特許5498189(発行日: 2014年05月21日)
  • ロウネイ，クロード,ダ シルヴァ，ホアキム,ヴォワザン，フローラン,ヒライ，トモアキ,ニノミヤ，タカノリ,マエダ，シュンジ 容量センサー内蔵の自動車シートに着座した乗員の形態を決定する方法 特許番号: 特許4972459(公開日: 2007年12月20日)
  • 前田 俊二,窪田 仁志,市橋 幹雄,松井 宏信 パターン検査方法及びその装置 特許番号: 特許2810216(発行日: 1998年10月15日)
  • 前田 俊二,窪田 仁志,伏見 智,中川 泰夫 被検査チツプの回路パタ−ン外観検査方法並びにその装置 特許番号: 特許1899391(公告日: 1994年03月30日)
  • 前田 俊二,吉田 敦志,芝田 行広,吉田 実,宇都 幸雄,中田 俊彦,宍戸 弘明 パターン欠陥検査方法及びその装置 特許番号: 特許4009409(発行日: 2007年11月14日)
  • 前田 俊二,吉田 敦志,芝田 行広,吉田 実,宇都 幸雄,宍戸 弘明,中田 俊彦 パターン欠陥検査方法及びその装置 特許番号: 特許3858571(発行日: 2006年12月13日)
  • 前田 俊二,広井 高志,牧平 坦,窪田 仁志 パターン検査方法及び装置 特許番号: 特許2971628(発行日: 1999年11月08日)
  • 前田 俊二,渋谷 久恵 異常検知・診断方法、および異常検知・診断システム 特許番号: 特許5808605(発行日: 2015年11月10日)
  • 渋谷 久恵,前田 俊二 設備状態監視方法およびその装置並びに設備状態監視用プログラム 特許番号: 特許5331774(発行日: 2013年10月30日)
  • 渋谷 久恵,前田 俊二 設備状態監視方法、監視システム及び監視プログラム 特許番号: 特許5364530(発行日: 2013年12月11日)
  • 芝田 行広,前田 俊二 欠陥検査方法及びその装置 特許番号: 特許3784711(発行日: 2006年06月14日)
  • 前田 俊二,窪田 仁志,二宮 隆典,牧平 坦,中川 泰夫 パタ−ン欠陥検出装置 特許番号: 特許1951168(公告日: 1994年09月21日)
  • 岡 健次,前田 俊二,野口 稔,見坊 行雄 外観検査方法および外観検査装置 特許番号: 特許4105809(発行日: 2008年06月25日)
  • 広井 高志,窪田 仁志,前田 俊二,牧平 坦 パターン欠陥検出方法 特許番号: 特許2976550(発行日: 1999年11月10日)
  • 浦野 雄太,中野 博之,宇都 幸雄,中田 俊彦,浜松 玲,前田 俊二 欠陥検査装置およびその方法 特許番号: 特許4988223(発行日: 2012年08月01日)
  • 窪田　仁志,小泉　光義,前田　俊二,伏見　智,中川　泰夫 ウエハ上のパターン検出方法およびその装置 特許番号: 特許1726846(公開日: 1985年10月26日)
  • 渋谷 久恵,前田 俊二,浜松 玲 欠陥分類方法及びその装置 特許番号: 特許5342606(発行日: 2013年11月13日)
  • 牧平 坦,前田 俊二,広井 高志,窪田 仁志 エンコーダ分解能変換方法及びその装置並びに画像検出装置 特許番号: 特許2691052(発行日: 1997年12月17日)
  • 前田 俊二,吉田 実,中山 保彦,窪田 仁志,岡 健次,牧平 坦 被検査パターンの欠陥検査方法及びその装置 特許番号: 特許3279868(発行日: 2002年04月30日)
  • 酒井 薫,前田 俊二 欠陥検査方法及びその装置 特許番号: 特許5260183(発行日: 2013年08月14日)
  • 酒井 薫,前田 俊二 欠陥検査方法及びその装置 特許番号: 特許4928862(発行日: 2012年05月09日)
  • 渋谷 久恵,前田 俊二 設備状態監視方法 特許番号: 特許5740459(発行日: 2015年06月24日)
  • 芝田 行広,前田 俊二,岡部 隆史,高原 洋一 欠陥検査装置並びに欠陥検査システム 特許番号: 特許4192118(発行日: 2008年12月03日)
  • 岡部 隆史,前田 俊二,芝田 行広,西山 英利 欠陥検査装置における検査レシピ設定方法および欠陥検査方法 特許番号: 特許4230838(発行日: 2009年02月25日)
  • 前田 俊二,渋谷 久恵 異常検知方法及びそのシステム 特許番号: 特許5501903(発行日: 2014年05月28日)
  • 芝田 行広,前田 俊二,山口 和夫,吉田 実,吉田 敦志,二宮 隆典,松井 繁,岡 健次,渡辺 健二 欠陥検査方法及びその装置 特許番号: 特許3918840(発行日: 2007年05月23日)
  • 浦野 雄太,中野 博之,前田 俊二,宇都 幸雄 欠陥検査方法及びその装置 特許番号: 特許4751617(発行日: 2011年08月17日)
  • 前田　俊二,金田　修身 カラ−テレビジヨン受像機の彩度検査方法および装置 特許番号: 特許1759447(公開日: 1985年10月04日)
  • 大谷 祐子,前田 俊二,浦野 雄太,本田 敏文,平井 大博,高橋 哲,高増 潔 欠陥観察方法及びその装置 特許番号: 特許6369860(発行日: 2018年08月08日)
  • 野口 稔,前田 俊二,芝田 行広,二宮 隆典 欠陥検査方法およびその装置 特許番号: 特許4394631(発行日: 2010年01月06日)
  • 前田 俊二,広井 高志,窪田 仁志,牧平 坦 回路パターン欠陥検査方法及びその装置 特許番号: 特許3252826(発行日: 2002年02月04日)
  • 広井 高志,窪田 仁志,前田 俊二,牧平 坦,岡 健次 パターン欠陥検出方法とその装置 特許番号: 特許3300791(発行日: 2002年07月08日)
  • 浦野雄太,酒井薫,前田俊二 欠陥検査装置およびその方法 特許番号: 特許4876019(発行日: 2012年02月15日)
  • 酒井 薫,前田 俊二,丸山 重信 外観検査方法及びその装置 特許番号: 特許5676387(発行日: 2015年02月25日)
  • 渋谷 久恵,前田 俊二 設備状態監視方法およびその装置 特許番号: 特許5301717(発行日: 2013年09月25日)
  • 前田 俊二,吉田 敦志,岡 健次,吉田 実,芝田 行広,山口 和夫 パターンの欠陥検査方法およびその装置 特許番号: 特許3878340(発行日: 2007年02月07日)
  • 前田 俊二,窪田 仁志 半導体装置の製造システム及び半導体装置の製造方法 特許番号: 特許3047881(発行日: 2000年06月05日)
  • 広井 高志,窪田 仁志,前田 俊二,牧平 坦,遠藤 文昭 パターン認識方法 特許番号: 特許2675167(発行日: 1997年11月12日)
  • 前田 俊二,渋谷 久恵 異常検知方法及びそのシステム 特許番号: 特許5778305(発行日: 2015年09月16日)
  • 酒井 薫,前田 俊二 パターン検査方法及びその装置 特許番号: 特許5028014(発行日: 2012年09月19日)
  • 宍戸 千絵,広井 高志,依田 晴夫,渡辺 正浩,久邇 朝宏,田中 麻紀,二宮 隆典,土井 秀明,前田 俊二,野副 真理,品田 博之,高藤 敦子,杉本 有俊,宇佐見 康継 パターン検査方法およびその装置 特許番号: 特許3484042(発行日: 2004年01月06日)
  • 高木 裕治,宍戸 千絵,前田 俊二,広井 高志,田中 麻紀,久邇 朝宏,東 淳三,松山 幸雄 外観検査方法及びその装置 特許番号: 特許4016472(発行日: 2007年12月05日)
  • 前田 俊二,岡 健次,芝田 行広,吉田 実,宍戸 千絵,高木 裕治 欠陥検査方法および装置 特許番号: 特許4024381(発行日: 2007年12月19日)
  • 酒井 薫,前田 俊二 パターン検査方法 特許番号: 特許4664327(発行日: 2011年04月06日)
  • 吉田 敦志,前田 俊二,岡部 隆史,水本 久志,磯部 光庸 微細欠陥検査装置およびその方法 特許番号: 特許3604956(発行日: 2004年12月22日)
  • 吉田 実,岡 健次,前田 俊二,窪田 仁志,中山 保彦 ステージ検査装置及びその方法 特許番号: 特許3267131(発行日: 2002年03月18日)
  • 前田　俊二,小泉　光義 多層回路パターン検査装置 特許番号: 特許1661498(公開日: 1985年07月03日)
  • 前田 俊二,窪田 仁志 半導体デバイスの製造方法 特許番号: 特許3201396(発行日: 2001年08月20日)
  • 前田 俊二,牧平 坦,窪田 仁志 半導体ウエハ上の被検査パターンの欠陥検査方法およびその装置 特許番号: 特許1933069(公告日: 1994年08月03日)
  • 浜松 玲,大島 良正,前田 俊二,渋谷 久恵,浦野 雄太,中尾 敏之,丸山 重信 基板表面の検査方法及び検査装置 特許番号: 特許5624714(発行日: 2014年11月12日)
  • 酒井 薫,前田 俊二,西山 英利 パターン検査方法及びその装置 特許番号: 特許5011348(発行日: 2012年08月29日)
  • 広井 高志,前田 俊二,牧平 坦,窪田 仁志 欠陥検出装置及びその方法 特許番号: 特許3182517(発行日: 2001年07月03日)
  • 宇都 幸雄,吉田 実,中田 俊彦,前田 俊二 パターン欠陥検査方法及びその装置 特許番号: 特許3752935(発行日: 2006年03月08日)
  • 前田 俊二,窪田 仁志 欠け検査装置 特許番号: 特許2006636(公告日: 1995年05月15日)
  • 松山　幸雄,岡本　啓一,仲畑　光蔵,前田　俊二,岩田　尚史 回路パターン検査装置 特許番号: 特許1806367(公開日: 1986年08月08日)
  • 広井 高志,窪田 仁志,前田 俊二,牧平 坦,磯部 光庸 パターン欠陥検査方法および装置 特許番号: 特許3186174(発行日: 2001年07月11日)
  • 浦野 雄太,浜松 玲,前田 俊二 欠陥検査方法およびその装置 特許番号: 特許5581343(発行日: 2014年08月27日)
  • 前田 俊二,渋谷 久恵,真柄 博幸 異常検知・診断方法、異常検知・診断システム、及び異常検知・診断プログラム 特許番号: 特許5439265(発行日: 2014年03月12日)
  • 浦野雄太,酒井薫,前田俊二 欠陥検査方法および欠陥検査装置 特許番号: 特許5452571(発行日: 2014年03月26日)
  • 前田 俊二,窪田 仁志,広井 高志,牧平 坦 半導体デバイスの製造方法 特許番号: 特許3472600(発行日: 2003年12月02日)
  • 渋谷 久恵,前田 俊二 異常検知方法及びその装置 特許番号: 特許5342708(発行日: 2013年11月13日)
  • 福西 宗憲,渋谷 久恵,高木 裕治,宍戸 千絵,前田 俊二 半導体デバイスのパターン形状評価方法及びその装置 特許番号: 特許4778685(発行日: 2011年09月21日)
  • 酒井 薫,前田 俊二 欠陥検査装置及びその方法 特許番号: 特許5641463(発行日: 2014年12月17日)
  • 下田 篤,渡辺 正浩,前田 俊二,後藤 博史,鈴木 忠 欠陥検査方法及びその装置並びに撮像方法及びその装置 特許番号: 特許3903889(発行日: 2007年04月11日)
  • 前田 俊二,広井 高志,牧平 坦,窪田 仁志 パターン検査方法及び装置 特許番号: 特許3221861(発行日: 2001年10月22日)
  • 浜松 玲,渋谷 久恵,前田 俊二 検査装置 特許番号: 特許4402004(発行日: 2010年01月20日)
  • 前田 俊二,二宮 隆典,中川 泰夫,窪田 仁志 多層パターン欠陥検出方法及びその装置 特許番号: 特許1933048(公告日: 1994年07月27日)
  • 遠藤 文昭,前田 俊二,窪田 仁志 パターン欠陥検出方法とその装置 特許番号: 特許2981434(発行日: 1999年11月22日)
  • 岡部 隆史,前田 俊二,酒井 薫 検査装置および検査システム 特許番号: 特許3904419(発行日: 2007年04月11日)
  • 前田　俊二 白色むら検査装置 特許番号: 特許1759414(公開日: 1985年06月14日)
  • 渋谷 久恵,前田 俊二 設備状態監視方法およびその装置 特許番号: 特許6076421(発行日: 2017年02月08日)
  • 前田 俊二,窪田 仁志,広井 高志,吉武 康裕,牧平 坦 パターン検査装置及び方法 特許番号: 特許3346032(発行日: 2002年11月18日)
  • 前田 俊二,窪田 仁志,伏見 智,牧平 坦,中川 泰夫 パタ−ン欠陥検出方法およびその装置 特許番号: 特許1898429(公告日: 1994年03月30日)
  • 中川　泰夫,小泉　光義,窪田　仁志,前田　俊二,伏見　智 微細パタ−ンの欠陥検出方法及びその装置 特許番号: 特許1751419(公開日: 1986年02月10日)
  • 中山 保彦,前田 俊二,吉田 実,窪田 仁志,岡 健次 パターン検査装置とその方法 特許番号: 特許3329105(発行日: 2002年09月30日)
  • 酒井 薫,前田 俊二,岡部 隆史 比較検査における画像の位置合せ方法、比較検査方法及び比較検査装置 特許番号: 特許3927353(発行日: 2007年06月06日)
  • 前田 俊二,広井 高志,窪田 仁志,牧平 坦 回路パターン欠陥検出方法及びその装置 特許番号: 特許2986824(発行日: 1999年12月06日)
  • 廣瀬 丈師,野口 稔,二宮 隆典,見坊 行雄,前田 俊二,土山 洋史 薄膜の膜厚計測方法及びその装置並びにそれを用いた薄膜デバイスの製造方法及びその製造装置 特許番号: 特許4460659(発行日: 2010年05月12日)
  • 松本 俊一,野口 稔,前田 俊二,岡 健次,渡辺 健二 半導体基板の製造方法 特許番号: 特許4073088(発行日: 2008年04月09日)
  • 前田 俊二,牧平 坦,窪田 仁志 自動焦点合せ方法及び装置 特許番号: 特許1886049(公告日: 1994年02月09日)
  • 浦野 貴裕,本田 敏文,前田 俊二 欠陥検査方法および欠陥検査装置 特許番号: 特許5417306(発行日: 2014年02月12日)
  • 下田 篤,宇都 幸雄,吉田 実,前田 俊二,中田 俊彦 欠陥検査装置および欠陥検査方法 特許番号: 特許3630624(発行日: 2005年03月16日)
  • 渋谷 久恵,前田 俊二 設備状態監視方法およびその装置 特許番号: 特許5431235(発行日: 2014年03月05日)
  • 吉田 実,宇都 幸雄,前田 俊二,中田 俊彦 パターン欠陥検出方法およびその装置 特許番号: 特許3729156(発行日: 2005年12月21日)
  • 前田 俊二,窪田 仁志,牧平 坦,広井 高志 欠陥検査方法及び装置 特許番号: 特許3189796(発行日: 2001年07月16日)
  • 渋谷 久恵,前田 俊二,浜松 玲 欠陥分類方法及びその装置 特許番号: 特許5022174(発行日: 2012年09月12日)
  • 前田 俊二,渋谷 久恵 異常検知方法及びシステム 特許番号: 特許5048625(発行日: 2012年10月17日)
  • 前田 俊二,牧平 坦,窪田 仁志 自動焦点合わせ方法 特許番号: 特許1886094(公告日: 1994年02月09日)
  • 前田 俊二,中山 保彦,吉田 実,岡 健次,窪田 仁志 パターンの欠陥検査方法およびその装置 特許番号: 特許3976775(発行日: 2007年09月19日)
  • 広井 高志,前田 俊二,牧平 坦,窪田 仁志 欠陥検出方法 特許番号: 特許2926118(発行日: 1999年07月28日)
  • 谷口 敦史,上野 剛渡,芝田 行広,前田 俊二,松井 哲也 暗視野欠陥検査方法及び暗視野欠陥検査装置 特許番号: 特許5406677(発行日: 2014年02月05日)
  • 田中 麻紀,前田 俊二,野口 稔,岡部 隆史,高木 裕治,宍戸 千絵 半導体装置の製造方法及び欠陥検査データ処理方法 特許番号: 特許3870052(発行日: 2007年01月17日)
  • 芝田 行広,前田 俊二 光学式検査装置及びその方法 特許番号: 特許4723362(発行日: 2011年07月13日)
  • 中山 保彦,前田 俊二,吉田 実,窪田 仁志,岡 健次,牧平 担 パターン検査装置の検査性能評価方法及びそのための装置 特許番号: 特許3732560(発行日: 2006年01月05日)
  • 前田 俊二,窪田 仁志 半導体デバイスの製造方法 特許番号: 特許3271622(発行日: 2002年04月02日)
  • 芝田 行広,前田 俊二,吉田 実,中田 俊彦,宍戸 弘明,宇都 幸雄 光学像検出方法および外観検査装置 特許番号: 特許4184543(発行日: 2008年11月19日)
  • 前田 俊二,窪田 仁志,牧平 坦,伏見 智 パタ−ン欠陥検出方法及びその装置 特許番号: 特許1895187(公告日: 1994年03月09日)
  • 宇都 幸雄,吉田 実,中田 俊彦,前田 俊二 パターン欠陥検査方法及びその装置 特許番号: 特許3729154(発行日: 2005年12月21日)
  • 伏見　智,窪田　仁志,牧平　坦,前田　俊二,仲畑　光蔵 被検査対象パターンの画像信号感度補正装置 特許番号: 特許1861942(公開日: 1987年01月28日)
  • 芝田 行広,前田 俊二,渡辺 正浩 欠陥検査方法及びその装置 特許番号: 特許3878107(発行日: 2007年02月07日)
  • 前田 俊二,牧平 坦,窪田 仁志 パターン欠陥検査方法およびその装置 特許番号: 特許3327600(発行日: 2002年09月24日)
  • 前田　俊二,浅野　敏郎 円形端面の位置検出装置 特許番号: 特許1568746(公開日: 1983年08月03日)
  • 前田 俊二,窪田 仁志,牧平 坦,広井 高志 パターン検査方法及び装置 特許番号: 特許3257010(発行日: 2002年02月18日)
  • 酒井 薫,前田 俊二,西山 英利 パターン検査方法及びその装置 特許番号: 特許4357355(発行日: 2009年11月04日)
  • 前田 俊二,酒井 薫,西山 英利 欠陥検査方法及びその装置 特許番号: 特許5275017(発行日: 2013年08月28日)
  • 芝田 行広,前田 俊二 欠陥検査装置 特許番号: 特許5281741(発行日: 2013年09月04日)
  • 酒井 薫,前田 俊二,岡部 隆史,後藤 博史,桑原 雅之,竹内 直哉 パターン検査方法及びパターン検査装置 特許番号: 特許4275345(発行日: 2009年06月10日)
  • 野副 真理,品田 博之,杉山 勝也,高藤 敦子,広井 高志,吉村 和士,杉本 有俊,依田 晴夫,黒田 勝廣,宇佐見 康継,田中 麻紀,金子 豊,遠山 博,伊野 忠雄,矢島 裕介,安藤 公明,前田 俊二,窪田 仁志 回路パターンの検査方法及び検査装置 特許番号: 特許3791095(発行日: 2006年06月28日)
  • 中野 博之,浜松 玲,宇都 幸雄,大島 良正,西山 英利,浦野 雄太,前田 俊二 欠陥検査装置およびその方法 特許番号: 特許4996856(発行日: 2012年08月08日)
  • 前田 俊二,渋谷 久恵 異常検知方法及びシステム 特許番号: 特許5498540(発行日: 2014年05月21日)
  • 前田 俊二,中山 保彦,吉田 実,岡 健次,窪田 仁志 パターンの欠陥検査方法およびその装置 特許番号: 特許3936959(発行日: 2007年06月27日)
  • 西山 英利,芝田 行広,前田 俊二,宇都 幸雄 パターン間の欠陥検査装置および方法 特許番号: 特許4637642(発行日: 2011年02月23日)
  • 渋谷 久恵,前田 俊二,浜松 玲 欠陥分類方法及びその装置並びに欠陥検査装置 特許番号: 特許4908995(発行日: 2012年04月04日)
  • 岡 健次,前田 俊二,吉田 実,芝田 行広,見坊 行雄 外観検査方法およびその装置 特許番号: 特許3409670(発行日: 2003年05月26日)
  • 前田 俊二,岡 健次,牧平 坦,中山 保彦,吉田 実,芝田 行広,宍戸 千絵 欠陥検査方法および装置 特許番号: 特許3397101(発行日: 2003年04月14日)
  • 遠藤 文昭,前田 俊二,窪田 仁志 パターン比較検査方法および装置 特許番号: 特許2647502(発行日: 1997年08月27日)
  • 前田 俊二,吉武 康裕,岡 健次,下田 篤,芝 正孝 検査データ処理方法およびその装置 特許番号: 特許3920003(発行日: 2007年05月30日)
  • 芝田 行広,前田 俊二,西山 英利 欠陥検査方法及びこれを用いた装置 特許番号: 特許4778755(発行日: 2011年09月21日)
  • 吉田 実,岡 健次,前田 俊二 パターン検査方法および装置 特許番号: 特許3610192(発行日: 2005年01月12日)
  • 前田 俊二,窪田 仁志,牧平 坦 多層パタ−ン欠陥検出方法及びその装置 特許番号: 特許2040345(公告日: 1995年08月09日)
  • 前田 俊二,窪田 仁志,牧平 坦,広井 高志 パターン検査方法及び装置 特許番号: 特許3163306(発行日: 2001年05月08日)
  • 渋谷 久恵,前田 俊二 外観検査方法及びその装置および画像処理評価システム 特許番号: 特許4616864(発行日: 2011年01月19日)
  • 浜松玲,渋谷久恵,前田俊二 欠陥検査方法およびその装置 特許番号: 特許5178079(発行日: 2013年04月10日)
  • 芝田 行広,前田 俊二 欠陥検査方法及びその装置 特許番号: 特許3938785(発行日: 2007年06月27日)
  • 宍戸 千絵,高木 裕治,前田 俊二,二宮 隆典,広井 高志,渡辺 正浩,土井 秀明 パターン検査方法およびその装置 特許番号: 特許4002655(発行日: 2007年11月07日)
  • 前田 俊二,小野 眞,窪田 仁志 薄膜トランジスタ液晶基板検査方法及びその装置 特許番号: 特許3252451(発行日: 2002年02月04日)
  • 遠藤 文昭,前田 俊二,窪田 仁志 断面形状測定法及び断面形状比較検査法並びにそれらの装置 特許番号: 特許2716997(発行日: 1998年02月18日)
  • 中野 博之,前田 俊二,中田 俊彦 欠陥検査装置 特許番号: 特許5466377(発行日: 2014年04月09日)
  • 吉田 実,前田 俊二,西山 英利 パターン欠陥検査装置 特許番号: 特許4260587(発行日: 2009年04月30日)
  • 広井 高志,窪田 仁志,前田 俊二,牧平 坦 パターン欠陥検出方法およびその装置 特許番号: 特許2796430(発行日: 1998年09月10日)
  • 前田 俊二,田中 麻紀,窪田 仁志 被検査パターンの検査方法及び製造プロセス診断方法並びに半導体基板の製造方法 特許番号: 特許3660763(発行日: 2005年06月15日)
  • 前田 俊二,渋谷 久恵,星野 直樹 発電量予測方法及びそのシステム 特許番号: 特許5797599(発行日: 2015年10月21日)
  • 広井 高志,窪田 仁志,前田 俊二,牧平 坦,磯部 光庸 パターン欠陥検査方法およびその装置 特許番号: 特許3405338(発行日: 2003年05月12日)
  • 浦野 雄太,本田 敏文,浜松 玲,前田 俊二 欠陥検査方法及び欠陥検査装置 特許番号: 特許5572293(発行日: 2014年08月13日)
  • 牧平 坦,前田 俊二,岡 健次,吉田 実,中山 保彦 撮像方法及び装置 特許番号: 特許3371764(発行日: 2003年01月27日)
  • 広井 高志,窪田 仁志,前田 俊二,牧平 担 欠陥検出装置 特許番号: 特許3262030(発行日: 2002年03月04日)
  • 芝田 行広,前田 俊二,牧平 坦,吉田 実,中山 保彦,岡 健次 検査方法およびその装置並びに半導体基板の製造方法 特許番号: 特許3808169(発行日: 2006年08月09日)
  • 前田　俊二,小泉　光義 異物検査装置 特許番号: 特許1768805(公開日: 1985年11月01日)
  • 野副 真理,品田 博之,杉山 勝也,高藤 敦子,広井 高志,吉村 和士,杉本 有俊,依田 晴夫,黒田 勝廣,宇佐見 康継,田中 麻紀,金子 豊,遠山 博,伊野 忠雄,矢島 裕介,安藤 公明,前田 俊二,窪田 仁志 回路パターンの検査方法及び検査装置 特許番号: 特許4274247(発行日: 2009年06月03日)
  • 谷口 敦史,酒井 薫,丸山 重信,前田 俊二 形状検査方法およびその装置 特許番号: 特許5913903(発行日: 2016年04月27日)
  • 芝田 行広,前田 俊二,山口 和夫,吉田 実,吉田 敦志,二宮 隆典,松井 繁,岡 健次,渡辺 健二 試料表面の観察方法及びその装置並びに欠陥検査方法及びその装置 特許番号: 特許3610837(発行日: 2005年01月19日)
  • 芝田 行広,前田 俊二,山口 和夫,吉田 実,吉田 敦志,二宮 隆典,松井 繁,岡 健次,渡辺 健二 欠陥検査方法及びその装置 特許番号: 特許3956942(発行日: 2007年08月08日)
  • 酒井 薫,前田 俊二,岡部 隆史 欠陥検査方法及びその装置 特許番号: 特許4013510(発行日: 2007年11月28日)
  • 前田 俊二,酒井 薫,西山 英利 欠陥検査方法及びその装置 特許番号: 特許5744965(発行日: 2015年07月08日)
  • 前田 俊二,中山 保彦,吉田 実,岡 健次,窪田 仁志 半導体基板の製造方法 特許番号: 特許3744966(発行日: 2006年02月15日)
  • 酒井 薫,前田 俊二,岡部 隆史 欠陥検査方法及びその装置 特許番号: 特許4101489(発行日: 2008年06月18日)
  • 前田 俊二,窪田 仁志,牧平 坦,広井 高志 パターン検査方法及び装置 特許番号: 特許2954381(発行日: 1999年09月27日)
  • 小野 眞,前田 俊二,窪田 仁志 薄膜トランジスタ基板の欠陥検出方法およびその修正方法 特許番号: 特許3229411(発行日: 2001年11月19日)
  • 奥田 浩人,高木 裕治,大島 良正,小野 眞,渡辺 正浩,前田 俊二,野口 稔 欠陥レビュー装置及び方法 特許番号: 特許4014379(発行日: 2007年11月28日)
  • 渋谷 久恵,前田 俊二,浜松 玲 欠陥分類方法及びその装置 特許番号: 特許5439543(発行日: 2014年03月12日)
  • 前田 俊二,渋谷 久恵 異常検知・診断方法、異常検知・診断システム、及び異常検知・診断プログラム 特許番号: 特許5363927(発行日: 2013年12月11日)
  • 前田 俊二,窪田 仁志,牧平 担,広井 高志 回路パターンの画像検出方法およびその装置 特許番号: 特許2886278(発行日: 1999年04月26日)
  • 前田 俊二,渋谷 久恵 異常検知方法及び異常検知システム 特許番号: 特許5538597(発行日: 2014年07月02日)
  • 前田 俊二,田中 麻紀,窪田 仁志 被検査パターンの欠陥検査方法および半導体製造プロセス評価方法 特許番号: 特許3625236(発行日: 2005年03月02日)
  • 川口 広志,前田 俊二 検査装置 特許番号: 特許4255808(発行日: 2009年04月15日)
  • 前田 俊二,渋谷 久恵 異常検知方法及び異常検知システム 特許番号: 特許5301310(発行日: 2013年09月25日)
  • 酒井 薫,前田 俊二 欠陥検査方法及びその装置 特許番号: 特許5174535(発行日: 2013年04月03日)
  • 前田 俊二,窪田 仁志 半導体装置の製造システム及び欠陥検査方法 特許番号: 特許2822937(発行日: 1998年11月11日)
  • 宇都 幸雄,中田 俊彦,吉田 実,前田 俊二 紫外レーザ光発生装置並びに欠陥検査装置およびその方法 特許番号: 特許3978307(発行日: 2007年09月19日)
  • 前田 俊二,酒井 薫,西山 英利 欠陥検査方法及びその装置 特許番号: 特許6031151(発行日: 2016年11月24日)
  • 酒井 薫,前田 俊二,岡部 隆史 パターン検査方法及びその装置 特許番号: 特許4185789(発行日: 2008年11月26日)
  • 酒井 薫,前田 俊二,岡部 隆史 欠陥検査方法及びその装置 特許番号: 特許4060558(発行日: 2008年03月12日)
  • 浦野 雄太,宇都 幸雄,前田 俊二,浜松 玲 欠陥検査方法及びその装置 特許番号: 特許4939843(発行日: 2012年05月30日)
  • 渋谷 久恵,前田 俊二 設備状態監視方法およびその装置 特許番号: 特許5945350(発行日: 2016年07月05日)
  • 野口 稔,中田 匡彦,鈴木 高彦,上野 剛渡,中田 俊彦,前田 俊二 合わせ精度計測装置及びその方法 特許番号: 特許3967935(発行日: 2007年08月29日)
  • 酒井 薫,前田 俊二,丸山 重信 検査方法 特許番号: 特許6040215(発行日: 2016年12月07日)
  • 渋谷 久恵,前田 俊二 異常診断方法およびその装置 特許番号: 特許6076751(発行日: 2017年02月08日)
  • 酒井 薫,前田 俊二 欠陥検査方法及びその装置 特許番号: 特許5498189(発行日: 2014年05月21日)
  • ロウネイ，クロード,ダ シルヴァ，ホアキム,ヴォワザン，フローラン,ヒライ，トモアキ,ニノミヤ，タカノリ,マエダ，シュンジ 容量センサー内蔵の自動車シートに着座した乗員の形態を決定する方法 特許番号: 特許4972459(公開日: 2007年12月20日)
  • 前田 俊二,窪田 仁志,市橋 幹雄,松井 宏信 パターン検査方法及びその装置 特許番号: 特許2810216(発行日: 1998年10月15日)
  • 前田 俊二,窪田 仁志,伏見 智,中川 泰夫 被検査チツプの回路パタ−ン外観検査方法並びにその装置 特許番号: 特許1899391(公告日: 1994年03月30日)
  • 前田 俊二,吉田 敦志,芝田 行広,吉田 実,宇都 幸雄,中田 俊彦,宍戸 弘明 パターン欠陥検査方法及びその装置 特許番号: 特許4009409(発行日: 2007年11月14日)
  • 前田 俊二,吉田 敦志,芝田 行広,吉田 実,宇都 幸雄,宍戸 弘明,中田 俊彦 パターン欠陥検査方法及びその装置 特許番号: 特許3858571(発行日: 2006年12月13日)
  • 前田 俊二,広井 高志,牧平 坦,窪田 仁志 パターン検査方法及び装置 特許番号: 特許2971628(発行日: 1999年11月08日)
  • 前田 俊二,渋谷 久恵 異常検知・診断方法、および異常検知・診断システム 特許番号: 特許5808605(発行日: 2015年11月10日)
  • 渋谷 久恵,前田 俊二 設備状態監視方法およびその装置並びに設備状態監視用プログラム 特許番号: 特許5331774(発行日: 2013年10月30日)
  • 渋谷 久恵,前田 俊二 設備状態監視方法、監視システム及び監視プログラム 特許番号: 特許5364530(発行日: 2013年12月11日)
  • 芝田 行広,前田 俊二 欠陥検査方法及びその装置 特許番号: 特許3784711(発行日: 2006年06月14日)
  • 前田 俊二,窪田 仁志,二宮 隆典,牧平 坦,中川 泰夫 パタ−ン欠陥検出装置 特許番号: 特許1951168(公告日: 1994年09月21日)
  • 岡 健次,前田 俊二,野口 稔,見坊 行雄 外観検査方法および外観検査装置 特許番号: 特許4105809(発行日: 2008年06月25日)
  • 広井 高志,窪田 仁志,前田 俊二,牧平 坦 パターン欠陥検出方法 特許番号: 特許2976550(発行日: 1999年11月10日)
  • 浦野 雄太,中野 博之,宇都 幸雄,中田 俊彦,浜松 玲,前田 俊二 欠陥検査装置およびその方法 特許番号: 特許4988223(発行日: 2012年08月01日)
  • 窪田　仁志,小泉　光義,前田　俊二,伏見　智,中川　泰夫 ウエハ上のパターン検出方法およびその装置 特許番号: 特許1726846(公開日: 1985年10月26日)
  • 渋谷 久恵,前田 俊二,浜松 玲 欠陥分類方法及びその装置 特許番号: 特許5342606(発行日: 2013年11月13日)
  • 牧平 坦,前田 俊二,広井 高志,窪田 仁志 エンコーダ分解能変換方法及びその装置並びに画像検出装置 特許番号: 特許2691052(発行日: 1997年12月17日)
  • 前田 俊二,吉田 実,中山 保彦,窪田 仁志,岡 健次,牧平 坦 被検査パターンの欠陥検査方法及びその装置 特許番号: 特許3279868(発行日: 2002年04月30日)
  • 酒井 薫,前田 俊二 欠陥検査方法及びその装置 特許番号: 特許5260183(発行日: 2013年08月14日)
  • 酒井 薫,前田 俊二 欠陥検査方法及びその装置 特許番号: 特許4928862(発行日: 2012年05月09日)
  • 渋谷 久恵,前田 俊二 設備状態監視方法 特許番号: 特許5740459(発行日: 2015年06月24日)
  • 芝田 行広,前田 俊二,岡部 隆史,高原 洋一 欠陥検査装置並びに欠陥検査システム 特許番号: 特許4192118(発行日: 2008年12月03日)
  • 岡部 隆史,前田 俊二,芝田 行広,西山 英利 欠陥検査装置における検査レシピ設定方法および欠陥検査方法 特許番号: 特許4230838(発行日: 2009年02月25日)
  • 前田 俊二,渋谷 久恵 異常検知方法及びそのシステム 特許番号: 特許5501903(発行日: 2014年05月28日)
  • 芝田 行広,前田 俊二,山口 和夫,吉田 実,吉田 敦志,二宮 隆典,松井 繁,岡 健次,渡辺 健二 欠陥検査方法及びその装置 特許番号: 特許3918840(発行日: 2007年05月23日)
  • 浦野 雄太,中野 博之,前田 俊二,宇都 幸雄 欠陥検査方法及びその装置 特許番号: 特許4751617(発行日: 2011年08月17日)
  • 前田　俊二,金田　修身 カラ−テレビジヨン受像機の彩度検査方法および装置 特許番号: 特許1759447(公開日: 1985年10月04日)
  • 大谷 祐子,前田 俊二,浦野 雄太,本田 敏文,平井 大博,高橋 哲,高増 潔 欠陥観察方法及びその装置 特許番号: 特許6369860(発行日: 2018年08月08日)
  • 野口 稔,前田 俊二,芝田 行広,二宮 隆典 欠陥検査方法およびその装置 特許番号: 特許4394631(発行日: 2010年01月06日)
  • 前田 俊二,広井 高志,窪田 仁志,牧平 坦 回路パターン欠陥検査方法及びその装置 特許番号: 特許3252826(発行日: 2002年02月04日)
  • 計334件

国内出願

  • 計231件
  • 牧平　坦,窪田　仁志,前田　俊二 顕微鏡自動焦点装置 出願番号: 特願昭60-226761(出願日: 1985年10月14日)
  • 前田 俊二,酒井 薫,浦野 雄太 欠陥検出方法及び装置 出願番号: 特願2009-149763(出願日: 2009年06月24日)
  • 二宮　隆典,前田　俊二,窪田　仁志,中川　泰夫 プリント板スル−ホ−ルの検査装置 出願番号: 特願昭62-104205(出願日: 1987年04月30日)
  • 宇都 幸雄,吉田 実,中田 俊彦,前田 俊二,下田 篤 パターン欠陥検査装置 出願番号: 特願2001-228166(出願日: 2001年07月27日)
  • 中山 保彦,前田 俊二,岡 健次,牧平 坦,吉田 実,芝田 行広 チップのパターン検査装置および方法 出願番号: 特願平09-294215(出願日: 1997年10月27日)
  • 前田 俊二,渋谷 久恵 プラント又は設備の異常診断方法及びヘルスマネージメント方法 出願番号: 特願2012-013689(出願日: 2012年01月26日)
  • 川口 広志,前田 俊二 画像処理方法およびその装置 出願番号: 特願2003-089629(出願日: 2003年03月28日)
  • 渋谷 久恵,前田 俊二 設備状態監視方法およびその装置 出願番号: 特願2013-530960(日付を取得できませんでした!!!)
  • 酒井 薫,前田 俊二,岡部 隆史 パターン欠陥検査方法及びその装置 出願番号: 特願2003-390655(出願日: 2003年11月20日)
  • 前田　俊二,牧平　坦,窪田　仁志,中川　泰夫 パタ−ン欠陥検査方法 出願番号: 特願昭61-255614(出願日: 1986年10月29日)
  • 広井　高志,窪田　仁志,前田　俊二,牧平　坦,遠藤　文昭 パターン欠陥検出方法 出願番号: 特願平01-240080(出願日: 1989年09月18日)
  • 前田 俊二,吉武 康裕,岡 健次 検査データ処理方法および検査データ処理装置 出願番号: 特願平11-115296(出願日: 1999年04月22日)
  • 広井 高志,窪田 仁志,前田 俊二,牧平 担 欠陥検出方法及びその装置 出願番号: 特願平11-269858(出願日: 1990年11月28日)
  • 浜松 玲,前田 俊二,大島 良正,渋谷 久恵,中野 博之 検査装置および検査方法 出願番号: 特願2004-318776(出願日: 2004年11月02日)
  • 吉田 実,岡 建次,前田 俊二,窪田 仁志,中山 保彦 試料ステージ 出願番号: 特願2001-290409(出願日: 1995年12月15日)
  • 芝田 行広,前田 俊二 照明方法およびその装置ならびにこれを用いた欠陥検査装置 出願番号: 特願2003-317704(出願日: 2003年09月10日)
  • 吉田 実,前田 俊二 欠陥検査方法およびその装置 出願番号: 特願2007-097948(出願日: 2007年04月04日)
  • 牧平　坦,窪田　仁志,前田　俊二 顕微鏡自動焦点装置 出願番号: 特願昭63-232396(出願日: 1988年09月19日)
  • 吉田 敦志,前田 俊二,山口 和夫,吉田 実,芝田 行広,岡 健次 光学式欠陥検査装置 出願番号: 特願平10-154164(出願日: 1998年06月03日)
  • ロウネイ，クロード,平井 智明,ダ シルヴァ，ホアキム,ヴォワザン，フローラン,二宮 隆典,前田 俊二 容量センサーを用いて自動車シートに着座した乗員の形態を識別する改良方法 出願番号: 特願2007-164562(出願日: 2007年06月22日)
  • 仲畑　光蔵,前田　俊二 顕微鏡自動焦点装置 出願番号: 特願昭63-241012(出願日: 1988年09月28日)
  • 宇都 幸雄,吉田 実,中田 俊彦,前田 俊二 パターン欠陥検査装置 出願番号: 特願2000-288878(出願日: 2000年09月19日)
  • 前田　俊二,窪田　仁志 欠け検査装置および方法 出願番号: 特願昭63-224443(出願日: 1988年09月09日)
  • 有賀　誠,前田　俊二,松山　幸雄 画質検査装置 出願番号: 特願昭57-163851(出願日: 1982年09月22日)
  • 吉田 実,前田 俊二,西山 英利,渡辺 正浩 パターン欠陥検査方法およびその装置 出願番号: 特願2003-020896(出願日: 2003年01月29日)
  • 芝田 行広,志村 啓,西山 英利,前田 俊二 欠陥検査方法及びその装置 出願番号: 特願2004-283016(出願日: 2004年09月29日)
  • 野副 真理,品田 博之,杉山 勝也,高藤 敦子,広井 高志,吉村 和士,杉本 有俊,依田 晴夫,黒田 勝廣,宇佐見 康継,田中 麻紀,金子 豊,遠山 博,伊野 忠雄,矢島 裕介,安藤 公明,前田 俊二,窪田 仁志 回路パターンの検査方法及び検査装置 出願番号: 特願2001-210150(出願日: 1997年02月28日)
  • 伏見　智,前田　俊二,窪田　仁志,中川　泰夫,小泉　光義 パタ−ン欠陥検出方法 出願番号: 特願昭59-208155(出願日: 1984年10月05日)
  • 前田 俊二,酒井 薫 欠陥検査方法 出願番号: 特願2006-011837(出願日: 2006年01月20日)
  • 浦野 貴裕,本田 敏文,前田 俊二 欠陥検査方法、欠陥検査装置、プログラムおよび出力部 出願番号: 特願2012-022652(出願日: 2012年02月06日)
  • 前田　俊二 画像処理パラメ−タ同定装置 出願番号: 特願昭56-170685(出願日: 1981年10月27日)
  • 野口 稔,前田 俊二,芝田 行広,二宮 隆典 欠陥検査装置およびその方法 出願番号: 特願平11-019035(出願日: 1999年01月27日)
  • 芝田 行広,前田 俊二,見坊 行雄 欠陥検出方法と欠陥観察方法及び欠陥検出装置 出願番号: 特願2001-103290(出願日: 2001年04月02日)
  • 前田　俊二 カラ−ブラウン管の白色むら検査装置 出願番号: 特願昭57-186003(出願日: 1982年10月25日)
  • 牧平　坦,窪田　仁志,仲畑　光蔵,前田　俊二 自動焦点検出装置 出願番号: 特願昭63-074302(出願日: 1988年03月30日)
  • 芝田 行広,前田 俊二,山口 和夫,吉田 敦志,吉田 実,岡 健次,牧平 坦,中山 保彦 自動焦点検出方法およびその装置並びに検査装置 出願番号: 特願平10-151734(出願日: 1998年06月01日)
  • 芝田 行広,前田 俊二 欠陥検査方法及びその装置 出願番号: 特願2006-301990(出願日: 2006年11月07日)
  • 前田 俊二,酒井 薫,岡部 隆史 欠陥検査方法 出願番号: 特願2002-073504(出願日: 2002年03月18日)
  • 広井 高志,窪田 仁志,前田 俊二,牧平 坦,岡 健次,押田 良忠 パターン検出方法及びその装置 出願番号: 特願平05-002340(出願日: 1993年01月11日)
  • 酒井 薫,前田 俊二,西山 英利 欠陥検査装置およびその方法 出願番号: 特願2011-227562(出願日: 2011年10月17日)
  • 浦野 雄太,浜松 玲,前田 俊二 欠陥検査方法およびその装置 出願番号: 特願2006-193549(出願日: 2006年07月14日)
  • 窪田　仁志,牧平　坦,前田　俊二 焦点位置検出装置 出願番号: 特願昭60-158108(出願日: 1985年07月19日)
  • 松山　幸雄,岩田　尚史,前田　俊二,中川　泰夫 透明薄膜パタ−ンの欠陥検査装置 出願番号: 特願昭60-076390(出願日: 1985年04月12日)
  • 牧平　坦,窪田　仁志,前田　俊二 自動焦点調節装置 出願番号: 特願昭62-316211(出願日: 1987年12月16日)
  • 前田 俊二,渋谷 久恵,真柄 博幸 異常検知・診断方法、異常検知・診断システム、及び異常検知・診断プログラム並びに企業資産管理・設備資産管理システム 出願番号: 特願2010-289851(出願日: 2010年12月27日)
  • 前田　俊二,有賀　誠,松山　幸雄 画質検査方法 出願番号: 特願昭57-105307(出願日: 1982年06月21日)
  • 吉田 実,西山 英利,芝田 行広,前田 俊二 パターン欠陥検査方法及びその装置 出願番号: 特願2004-001603(出願日: 2004年01月07日)
  • 岡部 隆史,前田 俊二 欠陥検査方法および装置 出願番号: 特願2003-089630(出願日: 2003年03月28日)
  • 酒井 薫,前田 俊二,西山 英利,渋谷 久恵 パターン検査方法及びその装置 出願番号: 特願2010-019874(出願日: 2010年02月01日)
  • 芝田 行広,前田 俊二,窪田 仁志 欠陥検査方法及び欠陥検査装置 出願番号: 特願2003-313897(出願日: 2003年09月05日)
  • 野口 稔,渡辺 健二,前田 俊二,久邇 朝宏,浜松 玲,大島 良正,西山 英利 半導体の製造方法およびそのシステム 出願番号: 特願2001-056539(出願日: 2001年03月01日)
  • 丸山 重信,酒井 薫,前田 俊二 銃器弾丸の異同識別方法及びその装置 出願番号: 特願2011-225615(出願日: 2011年10月13日)
  • 酒井 薫,前田 俊二,岡部 隆史 画像比較による欠陥検査方法及びその装置 出願番号: 特願2001-188994(出願日: 2001年06月22日)
  • 一ノ瀬　敏彰,窪田　仁志,前田　俊二,中川　泰夫 パタ−ン欠陥検出方法とその装置 出願番号: 特願昭60-270705(出願日: 1985年12月03日)
  • 伏見　智,仲畑　光蔵,前田　俊二,窪田　仁志 表面欠陥像検出装置 出願番号: 特願昭63-241043(出願日: 1988年09月28日)
  • 牧平　坦,窪田　仁志,伏見　智,前田　俊二,大島　良正 焦点位置検出装置 出願番号: 特願昭60-169826(出願日: 1985年08月02日)
  • 真柄 博幸,前田 俊二,渋谷 久恵 故障診断システム、故障診断装置および故障診断プログラム 出願番号: 特願2010-035538(出願日: 2010年02月22日)
  • 前田　俊二 画像蓄積装置 出願番号: 特願昭58-092297(出願日: 1983年05月27日)
  • 芝田 行広,前田 俊二,吉田 実,岡 健次 欠陥検査方法およびその装置 出願番号: 特願平10-037128(出願日: 1998年02月19日)
  • 芝田 行広,前田 俊二,近松 秀一 欠陥検査方法および欠陥検査装置 出願番号: 特願2007-222105(出願日: 2007年08月29日)
  • ロウネイ，クロード,ダ シルヴァ，ホアキム,ヴォワザン，フローラン,ヒライ，トモアキ,ニノミヤ，タカノリ,マエダ，シュンジ センサーにおけるターゲットのローカライゼーション向上方法 出願番号: 特願2007-131527(出願日: 2007年05月17日)
  • 牧平　坦,窪田　仁志,伏見　智,前田　俊二,仲畑　光蔵 画像信号感度補正方式 出願番号: 特願昭59-242311(出願日: 1984年11月19日)
  • 前田 俊二,渋谷 久恵 異常検知方法及びそのシステム 出願番号: 特願2013-235722(出願日: 2013年11月14日)
  • 牧平 坦,前田 俊二,窪田 仁志,広井 高志 画像信号検出方法および装置 出願番号: 特願平03-342692(出願日: 1991年12月25日)
  • 前田 俊二,草野 正己,丸山 重信,酒井 薫 弾丸の異同識別方法及びその装置 出願番号: 特願2012-078550(出願日: 2012年03月30日)
  • 有賀　誠,前田　俊二,秦　清治 領域指定回路 出願番号: 特願昭58-188396(出願日: 1983年10月11日)
  • 渋谷 久恵,前田 俊二 外観検査方法及びその装置 出願番号: 特願2006-174958(出願日: 2006年06月26日)
  • 牧平　坦,窪田　仁志,前田　俊二 画像信号レベル調整回路 出願番号: 特願昭63-320634(出願日: 1988年12月21日)
  • 前田 俊二,渋谷 久恵 異常検知方法、異常検知システム、及び異常検知プログラム 出願番号: 特願2010-005555(出願日: 2010年01月14日)
  • 岡 健次,広井 高志,前田 俊二,牧平 坦,窪田 仁志 パターン比較検査方法及び装置 出願番号: 特願平06-080119(出願日: 1994年04月19日)
  • 牧平　坦,窪田　仁志,伏見　智,前田　俊二 顕微鏡自動焦点装置 出願番号: 特願昭60-228633(出願日: 1985年10月16日)
  • 前田 俊二,小野 眞,窪田 仁志 赤外線検出装置 出願番号: 特願平04-099289(出願日: 1992年04月20日)
  • 芝田 行広,前田 俊二 欠陥検査方法及びその装置 出願番号: 特願2001-330113(出願日: 2001年10月29日)
  • 宍戸 弘明,吉武 康裕,中田 俊彦,前田 俊二 パタ—ン欠陥検査方法及びその装置 出願番号: 特願平10-372769(出願日: 1998年12月28日)
  • 吉田 実,前田 俊二,下田 篤,酒井 薫,岡部 隆史,渡辺 正浩 パターン欠陥検査方法およびその装置 出願番号: 特願2002-267554(出願日: 2002年09月13日)
  • 前田 俊二,窪田 仁志,牧平 坦,広井 高志 回路パターン欠陥検出装置およびその方法並びにイメージセンサ 出願番号: 特願平05-031573(出願日: 1993年02月22日)
  • 渋谷 久恵,前田 俊二,齋藤 茂,金丸 龍二,四反田 博文,馬場 崇志 外観検査方法及び外観検査システム 出願番号: 特願2009-000639(出願日: 2009年01月06日)
  • 宍戸 弘明,中田 俊彦,吉田 実,宇都 幸雄,前田 俊二 レーザビームの走査方法およびその装置 出願番号: 特願平11-262997(出願日: 1999年09月17日)
  • 松山　幸雄,有賀　誠,前田　俊二 画質検査方法 出願番号: 特願昭57-075095(出願日: 1982年05月07日)
  • 吉田 実,前田 俊二,岡 健次,芝田 行之 検査方法及びその装置 出願番号: 特願平10-127075(出願日: 1998年05月11日)
  • 広井 高志,岡 健次,窪田 仁志,前田 俊二,牧平 坦 パターン検出装置 出願番号: 特願平06-082856(出願日: 1994年04月21日)
  • 松山　幸雄,岩田　尚史,前田　俊二,中川　泰夫 透明薄膜パタ−ンの欠陥検査方法 出願番号: 特願昭60-181737(出願日: 1985年08月21日)
  • 前田　俊二,窪田　仁志 被検査対象パターンの欠陥検出方法及びその装置 出願番号: 特願昭63-323276(出願日: 1988年12月23日)
  • 中川　泰夫,窪田　仁志,伏見　智,前田　俊二,牧平　坦 パタ−ン検出方法とその装置 出願番号: 特願昭59-192519(出願日: 1984年09月17日)
  • 広井　高志,窪田　仁志,前田　俊二,牧平　坦 パターン認識方法 出願番号: 特願平03-083776(出願日: 1991年04月16日)
  • 前田　俊二,窪田　仁志,伏見　智,牧平　坦,中川　泰夫 パタ−ン２値化方法とその装置 出願番号: 特願昭60-029434(出願日: 1985年02月19日)
  • 浦野 貴裕,酒井 薫,前田 俊二 欠陥検査方法および欠陥検査装置 出願番号: 特願2011-016646(出願日: 2011年01月28日)
  • 中垣 亮,高木 裕治,本田 敏文,前田 俊二,吉田 敦志,二宮 隆典,磯貝 静志 欠陥検査方法及びその装置並びに欠陥解析方法及びその装置 出願番号: 特願平11-250984(出願日: 1999年09月06日)
  • 谷口 敦史,酒井 薫,前田 俊二 形状検査方法およびその装置 出願番号: 特願2012-053956(出願日: 2012年03月12日)
  • 前田 俊二,窪田 仁志,牧平 坦,広井 高志 画像処理方法 出願番号: 特願平04-039204(出願日: 1992年02月26日)
  • 牧平　坦,窪田　仁志,前田　俊二 画像デ−タ信号の位相合せ装置 出願番号: 特願昭62-151124(出願日: 1987年06月19日)
  • 宍戸 千絵,磯部 光庸,高木 裕治,前田 俊二 パターンマッチング方法 出願番号: 特願平10-166600(出願日: 1998年06月15日)
  • 前田 俊二 パターン欠陥検査方法 出願番号: 特願2000-372921(出願日: 2000年12月04日)
  • 前田　俊二 カラ−テレビジヨン受像管の色計測方法および装置 出願番号: 特願昭58-223228(出願日: 1983年11月29日)
  • 窪田　仁志,前田　俊二 微細素子の断面観察装置 出願番号: 特願昭63-165002(出願日: 1988年07月04日)
  • 玉乃井　毅,前田　俊二 カラ−ブラウン管の白色むら検査方法 出願番号: 特願昭57-225009(出願日: 1982年12月23日)
  • 前田 俊二,中山 保彦,吉田 実,岡 健次,窪田 仁志 被検査対象物上のパターンの欠陥検査方法及びその装置 出願番号: 特願2004-212010(出願日: 2004年07月20日)
  • 広井 高志,窪田 仁志,前田 俊二,牧平 担 欠陥検出方法及びその装置 出願番号: 特願平09-208813(出願日: 1990年11月28日)
  • 宇都 幸雄,前田 俊二 欠陥観察方法及びその装置 出願番号: 特願2005-261563(出願日: 2005年09月09日)
  • 渋谷 久恵,前田 俊二,和田 俊和,尾崎 晋作 設備状態監視方法およびその装置 出願番号: 特願2011-156648(出願日: 2011年07月15日)
  • 渋谷 久恵,前田 俊二,和田 俊和,尾崎 晋作 設備状態監視方法およびその装置 出願番号: 特願2012-003027(出願日: 2012年01月11日)
  • 柏 潔,渋谷 久恵,前田 俊二 設備状態監視方法及び設備状態監視装置 出願番号: 特願2012-188649(出願日: 2012年08月29日)
  • 前田　俊二,二宮　隆典,窪田　仁志,中川　泰夫 スル−ホ−ル検査装置 出願番号: 特願昭62-023623(出願日: 1987年02月05日)
  • 酒井 薫,前田 俊二,岡部 隆史,渡辺 正浩 欠陥検査方法及び欠陥検査装置 出願番号: 特願2001-104153(出願日: 2001年04月03日)
  • 前田　俊二 輪郭検出回路 出願番号: 特願昭57-040763(出願日: 1982年03月17日)
  • 前田　俊二,金田　修身 自動焦点調節方法および装置 出願番号: 特願昭59-003452(出願日: 1984年01月13日)
  • 前田　俊二 自動焦点合せ方法 出願番号: 特願昭58-092280(出願日: 1983年05月27日)
  • 酒井 薫,前田 俊二,西山 英利,渋谷 久恵 パターン検査方法及びその装置 出願番号: 特願2005-178715(出願日: 2005年06月20日)
  • 窪田　仁志,伏見　智,前田　俊二,牧平　垣,中川　泰夫 ウエハの照明方法及びその装置 出願番号: 特願昭59-208157(出願日: 1984年10月05日)
  • 岡 健次,西山 英利,前田 俊二 半導体デバイスの製造方法 出願番号: 特願2000-218708(出願日: 2000年07月14日)
  • 松山　幸雄,前田　俊二,有賀　誠 カラ−テレビジヨン受像管の色相検査方法および装置 出願番号: 特願昭58-066311(出願日: 1983年04月16日)
  • 牧平　坦,窪田　仁志,前田　俊二 顕微鏡自動焦点制御装置 出願番号: 特願昭61-121027(出願日: 1986年05月28日)
  • 浜松 玲,前田 俊二,渋谷 久恵 半導体の欠陥検査装置及びその方法 出願番号: 特願2005-209384(出願日: 2005年07月20日)
  • 前田　俊二 円形物体認識方法 出願番号: 特願昭57-042723(出願日: 1982年03月19日)
  • 西山 英利,芝田 行広,前田 俊二,吉田 実 パターン欠陥検査方法および装置 出願番号: 特願2004-206688(出願日: 2004年07月14日)
  • 牧平　坦,窪田　仁志,前田　俊二 顕微鏡自動焦点装置 出願番号: 特願昭60-226761(出願日: 1985年10月14日)
  • 前田 俊二,酒井 薫,浦野 雄太 欠陥検出方法及び装置 出願番号: 特願2009-149763(出願日: 2009年06月24日)
  • 二宮　隆典,前田　俊二,窪田　仁志,中川　泰夫 プリント板スル−ホ−ルの検査装置 出願番号: 特願昭62-104205(出願日: 1987年04月30日)
  • 宇都 幸雄,吉田 実,中田 俊彦,前田 俊二,下田 篤 パターン欠陥検査装置 出願番号: 特願2001-228166(出願日: 2001年07月27日)
  • 中山 保彦,前田 俊二,岡 健次,牧平 坦,吉田 実,芝田 行広 チップのパターン検査装置および方法 出願番号: 特願平09-294215(出願日: 1997年10月27日)
  • 前田 俊二,渋谷 久恵 プラント又は設備の異常診断方法及びヘルスマネージメント方法 出願番号: 特願2012-013689(出願日: 2012年01月26日)
  • 川口 広志,前田 俊二 画像処理方法およびその装置 出願番号: 特願2003-089629(出願日: 2003年03月28日)
  • 渋谷 久恵,前田 俊二 設備状態監視方法およびその装置 出願番号: 特願2013-530960(日付を取得できませんでした!!!)
  • 酒井 薫,前田 俊二,岡部 隆史 パターン欠陥検査方法及びその装置 出願番号: 特願2003-390655(出願日: 2003年11月20日)
  • 前田　俊二,牧平　坦,窪田　仁志,中川　泰夫 パタ−ン欠陥検査方法 出願番号: 特願昭61-255614(出願日: 1986年10月29日)
  • 広井　高志,窪田　仁志,前田　俊二,牧平　坦,遠藤　文昭 パターン欠陥検出方法 出願番号: 特願平01-240080(出願日: 1989年09月18日)
  • 前田 俊二,吉武 康裕,岡 健次 検査データ処理方法および検査データ処理装置 出願番号: 特願平11-115296(出願日: 1999年04月22日)
  • 広井 高志,窪田 仁志,前田 俊二,牧平 担 欠陥検出方法及びその装置 出願番号: 特願平11-269858(出願日: 1990年11月28日)
  • 浜松 玲,前田 俊二,大島 良正,渋谷 久恵,中野 博之 検査装置および検査方法 出願番号: 特願2004-318776(出願日: 2004年11月02日)
  • 吉田 実,岡 建次,前田 俊二,窪田 仁志,中山 保彦 試料ステージ 出願番号: 特願2001-290409(出願日: 1995年12月15日)
  • 芝田 行広,前田 俊二 照明方法およびその装置ならびにこれを用いた欠陥検査装置 出願番号: 特願2003-317704(出願日: 2003年09月10日)
  • 吉田 実,前田 俊二 欠陥検査方法およびその装置 出願番号: 特願2007-097948(出願日: 2007年04月04日)
  • 牧平　坦,窪田　仁志,前田　俊二 顕微鏡自動焦点装置 出願番号: 特願昭63-232396(出願日: 1988年09月19日)
  • 吉田 敦志,前田 俊二,山口 和夫,吉田 実,芝田 行広,岡 健次 光学式欠陥検査装置 出願番号: 特願平10-154164(出願日: 1998年06月03日)
  • ロウネイ，クロード,平井 智明,ダ シルヴァ，ホアキム,ヴォワザン，フローラン,二宮 隆典,前田 俊二 容量センサーを用いて自動車シートに着座した乗員の形態を識別する改良方法 出願番号: 特願2007-164562(出願日: 2007年06月22日)
  • 仲畑　光蔵,前田　俊二 顕微鏡自動焦点装置 出願番号: 特願昭63-241012(出願日: 1988年09月28日)
  • 宇都 幸雄,吉田 実,中田 俊彦,前田 俊二 パターン欠陥検査装置 出願番号: 特願2000-288878(出願日: 2000年09月19日)
  • 前田　俊二,窪田　仁志 欠け検査装置および方法 出願番号: 特願昭63-224443(出願日: 1988年09月09日)
  • 有賀　誠,前田　俊二,松山　幸雄 画質検査装置 出願番号: 特願昭57-163851(出願日: 1982年09月22日)
  • 吉田 実,前田 俊二,西山 英利,渡辺 正浩 パターン欠陥検査方法およびその装置 出願番号: 特願2003-020896(出願日: 2003年01月29日)
  • 芝田 行広,志村 啓,西山 英利,前田 俊二 欠陥検査方法及びその装置 出願番号: 特願2004-283016(出願日: 2004年09月29日)
  • 野副 真理,品田 博之,杉山 勝也,高藤 敦子,広井 高志,吉村 和士,杉本 有俊,依田 晴夫,黒田 勝廣,宇佐見 康継,田中 麻紀,金子 豊,遠山 博,伊野 忠雄,矢島 裕介,安藤 公明,前田 俊二,窪田 仁志 回路パターンの検査方法及び検査装置 出願番号: 特願2001-210150(出願日: 1997年02月28日)
  • 伏見　智,前田　俊二,窪田　仁志,中川　泰夫,小泉　光義 パタ−ン欠陥検出方法 出願番号: 特願昭59-208155(出願日: 1984年10月05日)
  • 前田 俊二,酒井 薫 欠陥検査方法 出願番号: 特願2006-011837(出願日: 2006年01月20日)
  • 浦野 貴裕,本田 敏文,前田 俊二 欠陥検査方法、欠陥検査装置、プログラムおよび出力部 出願番号: 特願2012-022652(出願日: 2012年02月06日)
  • 前田　俊二 画像処理パラメ−タ同定装置 出願番号: 特願昭56-170685(出願日: 1981年10月27日)
  • 野口 稔,前田 俊二,芝田 行広,二宮 隆典 欠陥検査装置およびその方法 出願番号: 特願平11-019035(出願日: 1999年01月27日)
  • 芝田 行広,前田 俊二,見坊 行雄 欠陥検出方法と欠陥観察方法及び欠陥検出装置 出願番号: 特願2001-103290(出願日: 2001年04月02日)
  • 前田　俊二 カラ−ブラウン管の白色むら検査装置 出願番号: 特願昭57-186003(出願日: 1982年10月25日)
  • 牧平　坦,窪田　仁志,仲畑　光蔵,前田　俊二 自動焦点検出装置 出願番号: 特願昭63-074302(出願日: 1988年03月30日)
  • 芝田 行広,前田 俊二,山口 和夫,吉田 敦志,吉田 実,岡 健次,牧平 坦,中山 保彦 自動焦点検出方法およびその装置並びに検査装置 出願番号: 特願平10-151734(出願日: 1998年06月01日)
  • 芝田 行広,前田 俊二 欠陥検査方法及びその装置 出願番号: 特願2006-301990(出願日: 2006年11月07日)
  • 前田 俊二,酒井 薫,岡部 隆史 欠陥検査方法 出願番号: 特願2002-073504(出願日: 2002年03月18日)
  • 広井 高志,窪田 仁志,前田 俊二,牧平 坦,岡 健次,押田 良忠 パターン検出方法及びその装置 出願番号: 特願平05-002340(出願日: 1993年01月11日)
  • 酒井 薫,前田 俊二,西山 英利 欠陥検査装置およびその方法 出願番号: 特願2011-227562(出願日: 2011年10月17日)
  • 浦野 雄太,浜松 玲,前田 俊二 欠陥検査方法およびその装置 出願番号: 特願2006-193549(出願日: 2006年07月14日)
  • 窪田　仁志,牧平　坦,前田　俊二 焦点位置検出装置 出願番号: 特願昭60-158108(出願日: 1985年07月19日)
  • 松山　幸雄,岩田　尚史,前田　俊二,中川　泰夫 透明薄膜パタ−ンの欠陥検査装置 出願番号: 特願昭60-076390(出願日: 1985年04月12日)
  • 牧平　坦,窪田　仁志,前田　俊二 自動焦点調節装置 出願番号: 特願昭62-316211(出願日: 1987年12月16日)
  • 前田 俊二,渋谷 久恵,真柄 博幸 異常検知・診断方法、異常検知・診断システム、及び異常検知・診断プログラム並びに企業資産管理・設備資産管理システム 出願番号: 特願2010-289851(出願日: 2010年12月27日)
  • 前田　俊二,有賀　誠,松山　幸雄 画質検査方法 出願番号: 特願昭57-105307(出願日: 1982年06月21日)
  • 吉田 実,西山 英利,芝田 行広,前田 俊二 パターン欠陥検査方法及びその装置 出願番号: 特願2004-001603(出願日: 2004年01月07日)
  • 岡部 隆史,前田 俊二 欠陥検査方法および装置 出願番号: 特願2003-089630(出願日: 2003年03月28日)
  • 酒井 薫,前田 俊二,西山 英利,渋谷 久恵 パターン検査方法及びその装置 出願番号: 特願2010-019874(出願日: 2010年02月01日)
  • 芝田 行広,前田 俊二,窪田 仁志 欠陥検査方法及び欠陥検査装置 出願番号: 特願2003-313897(出願日: 2003年09月05日)
  • 野口 稔,渡辺 健二,前田 俊二,久邇 朝宏,浜松 玲,大島 良正,西山 英利 半導体の製造方法およびそのシステム 出願番号: 特願2001-056539(出願日: 2001年03月01日)
  • 丸山 重信,酒井 薫,前田 俊二 銃器弾丸の異同識別方法及びその装置 出願番号: 特願2011-225615(出願日: 2011年10月13日)
  • 酒井 薫,前田 俊二,岡部 隆史 画像比較による欠陥検査方法及びその装置 出願番号: 特願2001-188994(出願日: 2001年06月22日)
  • 一ノ瀬　敏彰,窪田　仁志,前田　俊二,中川　泰夫 パタ−ン欠陥検出方法とその装置 出願番号: 特願昭60-270705(出願日: 1985年12月03日)
  • 伏見　智,仲畑　光蔵,前田　俊二,窪田　仁志 表面欠陥像検出装置 出願番号: 特願昭63-241043(出願日: 1988年09月28日)
  • 牧平　坦,窪田　仁志,伏見　智,前田　俊二,大島　良正 焦点位置検出装置 出願番号: 特願昭60-169826(出願日: 1985年08月02日)
  • 真柄 博幸,前田 俊二,渋谷 久恵 故障診断システム、故障診断装置および故障診断プログラム 出願番号: 特願2010-035538(出願日: 2010年02月22日)
  • 前田　俊二 画像蓄積装置 出願番号: 特願昭58-092297(出願日: 1983年05月27日)
  • 芝田 行広,前田 俊二,吉田 実,岡 健次 欠陥検査方法およびその装置 出願番号: 特願平10-037128(出願日: 1998年02月19日)
  • 芝田 行広,前田 俊二,近松 秀一 欠陥検査方法および欠陥検査装置 出願番号: 特願2007-222105(出願日: 2007年08月29日)
  • ロウネイ，クロード,ダ シルヴァ，ホアキム,ヴォワザン，フローラン,ヒライ，トモアキ,ニノミヤ，タカノリ,マエダ，シュンジ センサーにおけるターゲットのローカライゼーション向上方法 出願番号: 特願2007-131527(出願日: 2007年05月17日)
  • 牧平　坦,窪田　仁志,伏見　智,前田　俊二,仲畑　光蔵 画像信号感度補正方式 出願番号: 特願昭59-242311(出願日: 1984年11月19日)
  • 前田 俊二,渋谷 久恵 異常検知方法及びそのシステム 出願番号: 特願2013-235722(出願日: 2013年11月14日)
  • 牧平 坦,前田 俊二,窪田 仁志,広井 高志 画像信号検出方法および装置 出願番号: 特願平03-342692(出願日: 1991年12月25日)
  • 前田 俊二,草野 正己,丸山 重信,酒井 薫 弾丸の異同識別方法及びその装置 出願番号: 特願2012-078550(出願日: 2012年03月30日)
  • 有賀　誠,前田　俊二,秦　清治 領域指定回路 出願番号: 特願昭58-188396(出願日: 1983年10月11日)
  • 渋谷 久恵,前田 俊二 外観検査方法及びその装置 出願番号: 特願2006-174958(出願日: 2006年06月26日)
  • 牧平　坦,窪田　仁志,前田　俊二 画像信号レベル調整回路 出願番号: 特願昭63-320634(出願日: 1988年12月21日)
  • 前田 俊二,渋谷 久恵 異常検知方法、異常検知システム、及び異常検知プログラム 出願番号: 特願2010-005555(出願日: 2010年01月14日)
  • 岡 健次,広井 高志,前田 俊二,牧平 坦,窪田 仁志 パターン比較検査方法及び装置 出願番号: 特願平06-080119(出願日: 1994年04月19日)
  • 牧平　坦,窪田　仁志,伏見　智,前田　俊二 顕微鏡自動焦点装置 出願番号: 特願昭60-228633(出願日: 1985年10月16日)
  • 前田 俊二,小野 眞,窪田 仁志 赤外線検出装置 出願番号: 特願平04-099289(出願日: 1992年04月20日)
  • 芝田 行広,前田 俊二 欠陥検査方法及びその装置 出願番号: 特願2001-330113(出願日: 2001年10月29日)
  • 宍戸 弘明,吉武 康裕,中田 俊彦,前田 俊二 パタ—ン欠陥検査方法及びその装置 出願番号: 特願平10-372769(出願日: 1998年12月28日)
  • 吉田 実,前田 俊二,下田 篤,酒井 薫,岡部 隆史,渡辺 正浩 パターン欠陥検査方法およびその装置 出願番号: 特願2002-267554(出願日: 2002年09月13日)
  • 前田 俊二,窪田 仁志,牧平 坦,広井 高志 回路パターン欠陥検出装置およびその方法並びにイメージセンサ 出願番号: 特願平05-031573(出願日: 1993年02月22日)
  • 渋谷 久恵,前田 俊二,齋藤 茂,金丸 龍二,四反田 博文,馬場 崇志 外観検査方法及び外観検査システム 出願番号: 特願2009-000639(出願日: 2009年01月06日)
  • 宍戸 弘明,中田 俊彦,吉田 実,宇都 幸雄,前田 俊二 レーザビームの走査方法およびその装置 出願番号: 特願平11-262997(出願日: 1999年09月17日)
  • 松山　幸雄,有賀　誠,前田　俊二 画質検査方法 出願番号: 特願昭57-075095(出願日: 1982年05月07日)
  • 吉田 実,前田 俊二,岡 健次,芝田 行之 検査方法及びその装置 出願番号: 特願平10-127075(出願日: 1998年05月11日)
  • 広井 高志,岡 健次,窪田 仁志,前田 俊二,牧平 坦 パターン検出装置 出願番号: 特願平06-082856(出願日: 1994年04月21日)
  • 松山　幸雄,岩田　尚史,前田　俊二,中川　泰夫 透明薄膜パタ−ンの欠陥検査方法 出願番号: 特願昭60-181737(出願日: 1985年08月21日)
  • 前田　俊二,窪田　仁志 被検査対象パターンの欠陥検出方法及びその装置 出願番号: 特願昭63-323276(出願日: 1988年12月23日)
  • 中川　泰夫,窪田　仁志,伏見　智,前田　俊二,牧平　坦 パタ−ン検出方法とその装置 出願番号: 特願昭59-192519(出願日: 1984年09月17日)
  • 広井　高志,窪田　仁志,前田　俊二,牧平　坦 パターン認識方法 出願番号: 特願平03-083776(出願日: 1991年04月16日)
  • 前田　俊二,窪田　仁志,伏見　智,牧平　坦,中川　泰夫 パタ−ン２値化方法とその装置 出願番号: 特願昭60-029434(出願日: 1985年02月19日)
  • 浦野 貴裕,酒井 薫,前田 俊二 欠陥検査方法および欠陥検査装置 出願番号: 特願2011-016646(出願日: 2011年01月28日)
  • 中垣 亮,高木 裕治,本田 敏文,前田 俊二,吉田 敦志,二宮 隆典,磯貝 静志 欠陥検査方法及びその装置並びに欠陥解析方法及びその装置 出願番号: 特願平11-250984(出願日: 1999年09月06日)
  • 谷口 敦史,酒井 薫,前田 俊二 形状検査方法およびその装置 出願番号: 特願2012-053956(出願日: 2012年03月12日)
  • 前田 俊二,窪田 仁志,牧平 坦,広井 高志 画像処理方法 出願番号: 特願平04-039204(出願日: 1992年02月26日)
  • 牧平　坦,窪田　仁志,前田　俊二 画像デ−タ信号の位相合せ装置 出願番号: 特願昭62-151124(出願日: 1987年06月19日)
  • 宍戸 千絵,磯部 光庸,高木 裕治,前田 俊二 パターンマッチング方法 出願番号: 特願平10-166600(出願日: 1998年06月15日)
  • 前田 俊二 パターン欠陥検査方法 出願番号: 特願2000-372921(出願日: 2000年12月04日)
  • 前田　俊二 カラ−テレビジヨン受像管の色計測方法および装置 出願番号: 特願昭58-223228(出願日: 1983年11月29日)
  • 窪田　仁志,前田　俊二 微細素子の断面観察装置 出願番号: 特願昭63-165002(出願日: 1988年07月04日)
  • 玉乃井　毅,前田　俊二 カラ−ブラウン管の白色むら検査方法 出願番号: 特願昭57-225009(出願日: 1982年12月23日)
  • 前田 俊二,中山 保彦,吉田 実,岡 健次,窪田 仁志 被検査対象物上のパターンの欠陥検査方法及びその装置 出願番号: 特願2004-212010(出願日: 2004年07月20日)
  • 広井 高志,窪田 仁志,前田 俊二,牧平 担 欠陥検出方法及びその装置 出願番号: 特願平09-208813(出願日: 1990年11月28日)
  • 宇都 幸雄,前田 俊二 欠陥観察方法及びその装置 出願番号: 特願2005-261563(出願日: 2005年09月09日)
  • 渋谷 久恵,前田 俊二,和田 俊和,尾崎 晋作 設備状態監視方法およびその装置 出願番号: 特願2011-156648(出願日: 2011年07月15日)
  • 渋谷 久恵,前田 俊二,和田 俊和,尾崎 晋作 設備状態監視方法およびその装置 出願番号: 特願2012-003027(出願日: 2012年01月11日)
  • 柏 潔,渋谷 久恵,前田 俊二 設備状態監視方法及び設備状態監視装置 出願番号: 特願2012-188649(出願日: 2012年08月29日)
  • 前田　俊二,二宮　隆典,窪田　仁志,中川　泰夫 スル−ホ−ル検査装置 出願番号: 特願昭62-023623(出願日: 1987年02月05日)
  • 酒井 薫,前田 俊二,岡部 隆史,渡辺 正浩 欠陥検査方法及び欠陥検査装置 出願番号: 特願2001-104153(出願日: 2001年04月03日)
  • 前田　俊二 輪郭検出回路 出願番号: 特願昭57-040763(出願日: 1982年03月17日)
  • 前田　俊二,金田　修身 自動焦点調節方法および装置 出願番号: 特願昭59-003452(出願日: 1984年01月13日)
  • 前田　俊二 自動焦点合せ方法 出願番号: 特願昭58-092280(出願日: 1983年05月27日)
  • 酒井 薫,前田 俊二,西山 英利,渋谷 久恵 パターン検査方法及びその装置 出願番号: 特願2005-178715(出願日: 2005年06月20日)
  • 窪田　仁志,伏見　智,前田　俊二,牧平　垣,中川　泰夫 ウエハの照明方法及びその装置 出願番号: 特願昭59-208157(出願日: 1984年10月05日)
  • 岡 健次,西山 英利,前田 俊二 半導体デバイスの製造方法 出願番号: 特願2000-218708(出願日: 2000年07月14日)
  • 松山　幸雄,前田　俊二,有賀　誠 カラ−テレビジヨン受像管の色相検査方法および装置 出願番号: 特願昭58-066311(出願日: 1983年04月16日)
  • 牧平　坦,窪田　仁志,前田　俊二 顕微鏡自動焦点制御装置 出願番号: 特願昭61-121027(出願日: 1986年05月28日)
  • 浜松 玲,前田 俊二,渋谷 久恵 半導体の欠陥検査装置及びその方法 出願番号: 特願2005-209384(出願日: 2005年07月20日)
  • 前田　俊二 円形物体認識方法 出願番号: 特願昭57-042723(出願日: 1982年03月19日)
  • 西山 英利,芝田 行広,前田 俊二,吉田 実 パターン欠陥検査方法および装置 出願番号: 特願2004-206688(出願日: 2004年07月14日)
  • 青戸 勇太,外田 脩,前田 俊二,谷口 哲至,小松 尭 設備診断装置、設備診断方法 出願番号: 特願2023-134337(出願日: 2023年08月22日)
  • 計231件

国外特許

担当経験授業科目

  • システム展開情報学特論（北海道大学）
  • プログラミングA（広島工業大学）
  • 社会実践（広島工業大学）
  • コンピュータ工学（広島工業大学）
  • 情報理論（広島工業大学）
  • 人工知能（広島工業大学）
  • 電子情報工学実験（広島工業大学）
  • 専門ゼミナール（広島工業大学）
  • 卒業研究（広島工業大学）
  • 画像信号処理特論（広島工業大学）
  • 画像処理システム開発（広島工業大学）
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